耐火材料多元素測量儀介紹  耐火材料多元素測量儀報價  EDX3600K技術參數(shu) 

EDX3600K由江蘇天瑞(rui)儀器股份(fen)有限公(gong)司生產銷售；

酸(suan)性(xing)耐(nai)火(huo)材料(liao)(liao)以(yi)氧(yang)化硅(gui)(gui)為主要(yao)成分(fen)，常用的有硅(gui)(gui)磚和(he)粘(zhan)土磚。硅(gui)(gui)磚是(shi)含氧(yang)化硅(gui)(gui)93％以(yi)上的硅(gui)(gui)質制品，使(shi)用的原料(liao)(liao)有硅(gui)(gui)石、廢(fei)硅(gui)(gui)磚等，其(qi)抗酸(suan)性(xing)爐渣(zha)侵(qin)蝕(shi)(shi)能力強，荷重軟化溫度高，重復(fu)煅燒(shao)后體(ti)積(ji)不收縮，甚至略有膨脹(zhang)；但其(qi)易受堿性(xing)渣(zha)的侵(qin)蝕(shi)(shi)，抗熱(re)振性(xing)差(cha)。硅(gui)(gui)磚主要(yao)用于焦爐、耐(nai)火(huo)材料(liao)(liao)熔窯、酸(suan)性(xing)煉鋼(gang)爐等熱(re)工設備。粘(zhan)土磚以(yi)耐(nai)火(huo)粘(zhan)土為主要(yao)原料(liao)(liao)，含有30％～46％的氧(yang)化鋁，屬弱酸(suan)性(xing)耐(nai)火(huo)材料(liao)(liao)，抗熱(re)振性(xing)好，對(dui)酸(suan)性(xing)爐渣(zha)有抗蝕(shi)(shi)性(xing)，應用廣(guang)泛(fan)。

產品說明、技術參數及配置

X熒光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)屬于(yu)分(fen)析(xi)檢(jian)測儀(yi)器，隨著半導體微電(dian)(dian)子技術(shu)和計算(suan)機(ji)(ji)技術(shu)的(de)(de)飛速發(fa)展，傳統(tong)的(de)(de)光(guang)(guang)學(xue)、熱學(xue)、電(dian)(dian)化(hua)(hua)(hua)學(xue)、色譜(pu)、波譜(pu)類分(fen)析(xi)技術(shu)都已(yi)從(cong)經(jing)典的(de)(de)化(hua)(hua)(hua)學(xue)精密機(ji)(ji)械電(dian)(dian)子學(xue)結(jie)構(gou)、實驗室內人工操作(zuo)應用模式(shi)(shi)，轉化(hua)(hua)(hua)成光(guang)(guang)、機(ji)(ji)、電(dian)(dian)、算(suan)（計算(suan)機(ji)(ji)）一體化(hua)(hua)(hua)、自動化(hua)(hua)(hua)的(de)(de)結(jie)構(gou)，并向(xiang)智能(neng)化(hua)(hua)(hua)、小型化(hua)(hua)(hua)、在(zai)線式(shi)(shi)及儀(yi)器聯(lian)用方(fang)向(xiang)發(fa)展。天(tian)瑞公司(si)在(zai)以已(yi)掌握的(de)(de)成熟(shu)的(de)(de)臺(tai)式(shi)(shi)X熒光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)技術(shu)為(wei)基(ji)礎，結(jie)合國外相關新的(de)(de)技術(shu)發(fa)展成果(guo)，研(yan)制出具有自主知識產(chan)權的(de)(de)EDX 3600K型X熒光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)。

EDX 3600K X熒光光譜儀的亮(liang)點(dian)在于它大鈹窗(chuang)超薄(bo)口的高分辨(bian)SDD探測器(qi)和(he)自旋式的樣品(pin)腔，產品(pin)通(tong)過(guo)了江蘇省計量科學研究院的檢測，并(bing)通(tong)過(guo)中國(guo)儀器(qi)儀表學會分析儀器(qi)分會組織的科技成果鑒定

應用領域：

專為(wei)粉未冶煉行業研發的(de)一款高端設備，主要應用(yong)在(zai)水泥冶煉、鋼(gang)鐵冶煉、礦冶煉(銅(tong)礦、鉛礦等)、鋁(lv)冶煉、玻(bo)璃制造、耐火(huo)材料分析、各種粉未冶金分析行業、石油勘探錄井分析領域。
同時在(zai)地(di)質、礦樣、冶(ye)金、稀土材料、環境監測、有色(se)金屬、食品、農業等(deng)科研(yan)院所(suo)、大專院校和工(gong)礦企業中也得(de)到廣泛應用。

性能優勢：

1.超(chao)低能量分辨率，輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器，探測器分辨率達(da)到139eV，各項指(zhi)標(biao)優于國家標(biao)準。SDD探測器具有(you)良好的能量線
性、良(liang)好的(de)能量分辨率(lv)，及良(liang)好的(de)能譜特性，較高的(de)峰背比(bi)；對Si、S、AI等輕(qing)元素的(de)測試具有良(liang)好的(de)分析精度。

2. 測試精度(du)更(geng)高，檢出(chu)限更(geng)低
①專業化的(de)樣(yang)品腔設計，帶可調速的(de)自旋樣(yang)品腔，能有效(xiao)的(de)測定輕元素和(he)減少樣(yang)品均一性的(de)影(ying)響(xiang)，提(ti)高樣(yang)品的(de)測試精度。
②采用超(chao)小超(chao)真空的樣品(pin)腔設計，保證測(ce)(ce)試(shi)時達(da)到10Pa以下(xia)，使設備的測(ce)(ce)試(shi)范(fan)圍可從(cong)F元(yuan)(yuan)素起測(ce)(ce)試(shi)，大大地提高(gao)測(ce)(ce)試(shi)范(fan)圍、輕元(yuan)(yuan)素檢出限(xian)和精度(du)。

3. 分(fen)析(xi)速度更(geng)快，從第(di)1秒即可得到定性(xing)定量結果
采用自主研發的(de)數字多道技術，其線(xian)性(xing)(xing)計數率可達100kcps，可以(yi)更(geng)加快速的(de)分析，從第1秒就(jiu)可以(yi)得出(chu)定性(xing)(xing)定量結果(guo)，
設(she)計成(cheng)高(gao)計數率，大大提高(gao)了設(she)備的穩定性。

4. 一鍵式智能化操作
專業(ye)軟(ruan)件，FP法(fa)(fa)和EC法(fa)(fa)等多種(zhong)方法(fa)(fa)嵌入(ru)的(de)(de)人性(xing)化(hua)的(de)(de)應用軟(ruan)件，具有高靈(ling)敏度、測試(shi)時間短、一鍵智能化(hua)操(cao)作(zuo)，使操(cao)作(zuo)簡(jian)易，對操(cao)作(zuo)人員(yuan)限制小(xiao)的(de)(de)特點。

5. 強大的自動(dong)化功能
①自(zi)動化程度高，具(ju)有自(zi)動開(kai)蓋、自(zi)動切換準直器與濾光片(pian)等功能。
②采用(yong)自動穩譜(pu)裝置，保證了儀器(qi)工作的(de)*性(xing)：利用(yong)解(jie)譜(pu)技術使譜(pu)峰分解(jie)，采用(yong)多(duo)參數的(de)線性(xing)回歸方法，使元素間的(de)吸收、排斥效應得(de)到明(ming)顯(xian)的(de)降低。

6. 強(qiang)度校(xiao)正法
具有(you)多(duo)種測試模(mo)式(shi)設置(zhi)和無限數目(mu)模(mo)式(shi)的(de)(de)自由添加，內置(zhi)強度校正(zheng)方(fang)法(fa)，可(ke)校正(zheng)幾(ji)何狀態不同(tong)和結構密度不均勻(yun)的(de)(de)樣品造(zao)成的(de)(de)偏(pian)差。

7. 完善的光路系統
自主(zhu)研發(fa)的光(guang)路(lu)系統，光(guang)程(cheng)更短，光(guang)路(lu)損失更少，激發(fa)效果更佳。

8. 三重安全(quan)防護功能
三重安全防(fang)護功能，自動感應，沒有(you)樣品時儀器不工(gong)作(zuo)，無射線泄漏；加厚防(fang)護測試(shi)壁；配(pei)送測試(shi)防(fang)護安全罩。

9. 安全警示系統
警告(gao)指(zhi)(zhi)示系統，通(tong)電時綠(lv)色(se)指(zhi)(zhi)示燈亮，測試時黃色(se)輻射指(zhi)(zhi)示燈閃爍，防(fang)止誤操(cao)作(zuo)。

儀器配置：

鈹窗(chuang)電制冷SDD探測器
自旋式樣品(pin)腔
高效超薄窗(chuang)X光管
超近光路(lu)增強(qiang)系(xi)統
可自(zi)動開啟(qi)的測(ce)試蓋(gai)
自動切換(huan)型(xing)準(zhun)直器和濾光(guang)片(pian)
真空腔體(ti)
自動穩譜裝置
90mm×70mm的(de)液晶(jing)屏
數字多(duo)道技術
多變量非線(xian)性回歸程序
相互獨立的(de)基體效應校正模型(xing)

技術參數：

型號：EDX3600K
X射線源：50KV、1mA
樣品(pin)腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析(xi)方法：能量(liang)色散X熒(ying)光(guang)分析(xi)方法
測量(liang)元素范圍(wei)：原(yuan)子序(xu)數為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的(de)元素均可測量(liang)
檢測元素(su)：同時分析元素(su)達(da)三十多(duo)種，可根據客戶需要增加元素(su)
含量范圍：ppm～99.99%
檢測時間：10秒以(yi)上
檢(jian)測對(dui)象：標準(zhun)粉未壓片及可(ke)以放(fang)入(ru)標準(zhun)樣(yang)品(pin)杯(bei)的固體、液體及粉末(mo)
探測器及分(fen)辨率：超大超薄的SDD探測器，分(fen)辨率 為144±5eV,可選(xuan)配極速(su)探測器至125eV
激發源：銠靶或鎢靶光管根(gen)據(ju)客戶需求可供選(xuan)擇(ze)
測井環境：超(chao)真空系統(tong)，10秒可抽到10Pa以(yi)下
濾光(guang)片(pian)(pian)：6種濾光(guang)片(pian)(pian)組合自動(dong)切換
自旋(xuan)裝(zhuang)置：可調速的自旋(xuan)裝(zhuang)置
檢出限(xian)：對樣(yang)品中的大(da)多數元素來(lai)說，檢出限(xian)達5～500ppm
真(zhen)空系統(tong)：超真(zhen)空系統(tong)，10秒(miao)可到(dao)10Pa
數(shu)據傳(chuan)輸：數(shu)字多道技術，快(kuai)速分析，高(gao)計數(shu)率
測試(shi)臺：360°電動旋轉式
保護系統：樣品腔為電(dian)動(dong)控制，上(shang)蓋(gai)打開時測(ce)試已完成
樣品放置：*的(de)樣品杯設(she)計(ji)，自帶壓環(huan)，可(ke)防止樣品晃動
數(shu)字多道技術：計(ji)數(shu)率>50kcps，有效計(ji)數(shu)率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作(zuo)環(huan)境(jing)濕度：≤90%
操作環境(jing)溫度：15℃～30℃

軟件優勢：

采用公(gong)司新的(de)(de)能譜(pu)EDXRF軟(ruan)件(jian)(jian)，FP法和EC法等多種(zhong)方法嵌入(ru)的(de)(de)人性化(hua)的(de)(de)應(ying)用軟(ruan)件(jian)(jian)，具有(you)高靈敏度、測試時間短(duan)、一(yi)鍵智能化(hua)操作(zuo)，操作(zuo)簡易，對(dui)操作(zuo)人員限(xian)制小的(de)(de)特點。
具有多種測試(shi)模(mo)式設置和無(wu)限數目模(mo)式自(zi)由添加，內置強度(du)校正方法，可校正幾何(he)狀態(tai)不(bu)同(tong)和結構密(mi)度(du)不(bu)均(jun)勻的(de)樣(yang)品(pin)造成的(de)偏差。

全新的軟件界面和(he)內核，采用FP和(he)EC軟件組合的方法，應用面更加廣泛(fan)。