• 企業類型：制造商
• 新舊程度：全新
• 原產地：江蘇蘇州

ICP-OES電感耦合等離子體發射光譜儀，光譜儀器

ICP-3000電(dian)感耦合等(deng)離子體(ti)發射光譜(pu)儀(yi)是天瑞(rui)儀(yi)器(qi)公(gong)司經(jing)多年技(ji)術積累開(kai)發出的(de)一款性能優異的(de)全譜(pu)直讀(du)型光譜(pu)儀(yi)，用于(yu)測(ce)定不同(tong)物質(zhi)（可溶解于(yu)鹽酸、硝(xiao)酸等(deng)）中的(de)微量、痕量元素含量。自動化程度高，操作簡便，穩定可靠(kao)。目前儀(yi)器(qi)廣泛應(ying)用于(yu)稀土、地質(zhi)、冶金、化工、環保、臨(lin)床醫藥、石油制品(pin)、半導(dao)體(ti)、食品(pin)、生物樣品(pin)、刑事科學、農業研究(jiu)等(deng)各個領域(yu)。

性能優勢

全自動(dong)化設計(ji)
整臺儀(yi)器(qi)除了(le)電源開(kai)關，儀(yi)器(qi)所有功能都通過計算機控制，可靠、安全、方(fang)便。

蠕動泵
蠕動(dong)(dong)泵為十二轉(zhuan)子(zi)四通(tong)道全自動(dong)(dong)設(she)計(ji)，蠕動(dong)(dong)泵轉(zhuan)速(su)可(ke)根(gen)(gen)據需求(qiu)流量設(she)置調節(jie)；通(tong)過蠕動(dong)(dong)泵平(ping)穩進(jin)樣和排除廢液(ye)，確(que)保進(jin)樣速(su)度與廢液(ye)排除速(su)度*，客戶可(ke)以根(gen)(gen)據需要適(shi)當調節(jie)速(su)度，確(que)保進(jin)樣系統穩定。

氣(qi)體流量自動(dong)控制
進(jin)樣系(xi)統(tong)中，載氣(qi)、等離(li)子(zi)氣(qi)、輔氣(qi)均采用*的(de)(de)質量(liang)流(liu)量(liang)控制器（MFC）來控制，具有流(liu)量(liang)連(lian)續可調、流(liu)量(liang)穩定等優點，確保了進(jin)樣系(xi)統(tong)的(de)(de)穩定，為(wei)光源的(de)(de)穩定奠定了堅實的(de)(de)基(ji)礎。

穩(wen)定*的全固態射頻電(dian)源
儀(yi)(yi)器采用的(de)射(she)頻電源為天瑞儀(yi)(yi)器自(zi)主(zhu)研發的(de)全(quan)(quan)固(gu)態(tai)射(she)頻電源，具有體積小、效率(lv)高(gao)、輸出功率(lv)穩(wen)定(ding)、帶有各種保護功能(neng)等諸多優(you)點，進一步提高(gao)了儀(yi)(yi)器的(de)穩(wen)定(ding)性與安全(quan)(quan)性。

快速(su)準確的(de)全自動(dong)匹配功(gong)能
負載(zai)終(zhong)端采用(yong)天瑞儀器自(zi)主研發的(de)(de)全自(zi)動(dong)匹配技術，具有匹配速度快、精度高(gao)(gao)(gao)等優點，確保了(le)(le)輸出功率限度地加予負載(zai)，提(ti)高(gao)(gao)(gao)了(le)(le)電(dian)源的(de)(de)使(shi)用(yong)效率，從(cong)而提(ti)高(gao)(gao)(gao)儀器的(de)(de)穩定(ding)性，并使(shi)得(de)整個點火過程簡單方便。

*的進樣系統
進樣系統高效、穩定(ding)，可配備國(guo)內(nei)外各(ge)(ge)種(zhong)霧(wu)化器、霧(wu)化室，可以配備高鹽霧(wu)化器、耐氫氟霧(wu)化器等，滿足(zu)客(ke)戶(hu)的(de)各(ge)(ge)種(zhong)需求(qiu)；同時天瑞(rui)自(zi)(zi)主研(yan)發的(de)自(zi)(zi)動進樣器讓測試(shi)操作更加便(bian)捷(jie)，進一步提高測試(shi)效率。

*精密的光(guang)學系(xi)統
采用中階梯(ti)光(guang)(guang)(guang)柵-棱鏡交叉色散(san)方式(shi)，專業的(de)(de)(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)學(xue)優(you)化設計(ji)(ji)使得(de)光(guang)(guang)(guang)通量化的(de)(de)(de)(de)(de)(de)同時保(bao)證(zheng)(zheng)了(le)優(you)異的(de)(de)(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)譜分辨率；無任何移動光(guang)(guang)(guang)學(xue)元(yuan)件，保(bao)證(zheng)(zheng)了(le)良好的(de)(de)(de)(de)(de)(de)長期穩定(ding)性；超低雜(za)散(san)光(guang)(guang)(guang)設計(ji)(ji)配合*的(de)(de)(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)學(xue)設計(ji)(ji)，大(da)大(da)降低了(le)背景光(guang)(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)干擾(rao)，進一步提高檢出限；高效(xiao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)氮氣(qi)分布式(shi)吹掃光(guang)(guang)(guang)室(shi)配合高品質的(de)(de)(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)學(xue)元(yuan)件保(bao)證(zheng)(zheng)了(le)深紫外區特別是P、S、As等元(yuan)素(su)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)測量。

精(jing)準的波長定(ding)位
智能的(de)自動(dong)波長校準算法，無(wu)需進(jin)行額外的(de)譜峰校正即可進(jin)行測(ce)(ce)量(liang)，保證準確測(ce)(ce)量(liang)的(de)同時節(jie)約大(da)量(liang)的(de)標液和(he)測(ce)(ce)量(liang)時間。

性能(neng)優(you)異的探測器
采用大尺寸CID探測器，*、成熟(shu)、穩定；大靶面(mian)尺寸，*像(xiang)素；165-900nm范(fan)圍(wei)連續覆蓋(gai)，一次曝光，全譜顯示；非(fei)破壞性讀取(NDRO) 功能(neng)(neng)，改善了(le)(le)(le)弱分析(xi)(xi)線(xian)(xian)的(de)信噪比，提高了(le)(le)(le)結果的(de)準確(que)性，并(bing)且數據采集與分析(xi)(xi)均優(you)于CCD； 線(xian)(xian)性動態范(fan)圍(wei)和與生俱來的(de)抗溢出功能(neng)(neng)確(que)保任意強弱的(de)譜線(xian)(xian)可(ke)(ke)在一次曝光內(nei)測量并(bing)進(jin)行分析(xi)(xi)，同時為方法選擇理想(xiang)波長提供了(le)(le)(le)靈活性（可(ke)(ke)選第二、第三(san)或(huo)更次靈敏線(xian)(xian)來排除干擾）。

超快的(de)測試速(su)度
各(ge)分析譜(pu)線(xian)可以(yi)在曝光(guang)時(shi)間(jian)內(nei)設置任意合適的積分時(shi)段來實現測(ce)量的優(you)化(hua)；可以(yi)一次曝光(guang)讀(du)出(chu)所有分析譜(pu)線(xian)的強度(du)積分值加快分析速度(du)；還可以(yi)譜(pu)線(xian)獨立讀(du)出(chu)，讀(du)出(chu)時(shi)間(jian)不(bu)超過(guo)2ms。

強大的軟件(jian)分析功能
軟(ruan)件操作方便、直(zhi)觀(guan)，具有定(ding)性、半定(ding)量、定(ding)量分析功(gong)能(neng)(neng)(neng)，具有儀器診斷優化功(gong)能(neng)(neng)(neng)，靈活的(de)(de)全譜研究(jiu)功(gong)能(neng)(neng)(neng)，強大的(de)(de)離線再處理功(gong)能(neng)(neng)(neng)，具有科學(xue)智能(neng)(neng)(neng)的(de)(de)背景校正、去除(chu)干擾的(de)(de)算法(fa)，讓測(ce)試變得更加專業(ye)與準確。

ICP-OES電感耦合等離子體發射光譜儀技術參數

射頻發(fa)生(sheng)器技術指(zhi)標
輸入(ru)電(dian)源：交流220V，電(dian)流20A
輸(shu)出功率：700~1600W
調(diao)節精(jing)度：2W
頻率(lv)穩定性：＜0.05%
輸出(chu)功率穩定性(xing)：＜0.1%
匹配方式：自動匹配
電(dian)磁場(chang)泄(xie)漏輻射強度：距機箱30cm處電(dian)場(chang)強度E：＜0.5V/m

進樣裝置技(ji)術指標
輸出工作線圈：內徑(jing)25mm、3匝
三(san)同心(xin)石英(ying)炬管(guan)：外(wai)徑20mm；根據中心(xin)通道大小有(you)多(duo)種型號可(ke)選(xuan)
高效進口霧化(hua)器：同心型霧化(hua)器，外徑6mm ；多型號可(ke)選，高鹽(yan)、耐(nai)HF等
霧化(hua)室：雙筒型霧化(hua)室，可以選配(pei)旋流式霧化(hua)室，外徑57.2mm
蠕動泵：十二轉子四通道(dao)，轉速可根據需(xu)求流量設置調節（即根據進樣速度設定，直觀，準(zhun)確）
總(zong)氬氣(qi)消(xiao)(xiao)耗量(liang)：氬氣(qi)總(zong)消(xiao)(xiao)耗量(liang)小于(yu)14L/min
氬(ya)氣(qi)(qi)流(liu)量計(ji)和載(zai)氣(qi)(qi)壓力表(biao)規(gui)格：1.等離子(zi)氣(qi)(qi)流(liu)量計(ji)（100~1000）L/h (1.6~16L/min)
2.輔助氣流量計（6~60）L/h (0.1~1L/min)
3.載氣流量計（6~60）L/h (0.1~1L/min)
4.載(zai)氣穩壓閥（0.2MPa）
5.冷卻水(shui)(shui)：水(shui)(shui)溫20~25℃ 流(liu)量>5L/min 水(shui)(shui)壓(ya)>0.1MPa

分光(guang)器技術指(zhi)標
光(guang)(guang)柵：中(zhong)階(jie)梯光(guang)(guang)柵，52.67 lp/mm，64閃耀角，采用(yong)德(de)國肖特公司(si)熱膨(peng)脹系數接近于零的
Zerodur材料做基底，性能(neng)更出眾
棱(leng)鏡：超(chao)純(chun)康寧紫外熔融(rong)石英，在170nm處內透過率99.6%
波(bo)長范圍：165nm~900nm
焦距：430mm
數值孔徑：F/8，超高的光通量保證儀器的檢出限和靈敏度
分辨率：<0.0068nm@200nm
雜散(san)光：10000ppmCa 溶液在(zai)As189.042nm處的(de)等效(xiao)背景(jing)濃度(du)<2ppm
光室：精密恒溫，35±0.1℃
分布式(shi)氮氣吹掃(sao)，正(zheng)常吹掃(sao)2L/min，快速吹掃(sao)4L/min

檢(jian)測裝置技術指標
檢測器類型(xing)：電荷注(zhu)入(ru)式檢測器（CID）
靶面尺寸(cun)：27.6mm×27.6mm，1024×1024尋址(zhi)檢測單(dan)元
讀(du)(du)取(qu)方式：非破壞性(xing)讀(du)(du)取(qu)(NDRO) ，全幅(fu)讀(du)(du)取(qu)（FF）和任意讀(du)(du)取(qu)積(ji)分（RAI）
線性動態(tai)范圍：108
波長響(xiang)應范(fan)圍：165nm~1000nm
電子(zi)快門：單(dan)獨設置各譜線的積分時間；可(ke)譜線獨立讀(du)出，讀(du)出時間＜2ms
量子效率：無任何(he)鍍膜，200nm紫外區可達(da)35％以上
檢測器冷卻(que)：高效三級半導體制冷，制冷溫度(du)-45℃

儀(yi)器技術指(zhi)標(biao)
觀測方式：垂(chui)直觀測
液體含(han)量：0.01ppm~幾千ppm
固體含量：0.001%~70%
重復性(xing)：（即短期穩定(ding)度）相對標準偏差(cha)RSD<0.5%
穩定性：相對標(biao)準偏(pian)差RSD<1% @2小時
測試速度：單個譜線CID讀(du)出時(shi)間(jian)僅需2ms，一分鐘內可實現(xian)所有(you)元(yuan)素(su)的(de)測量
元(yuan)素檢出限（μg/L）：大部分(fen)元(yuan)素1ppb~10ppb
儀器尺寸：臺式1300mm*840mm*740mm

應用領域(yu)
1.硅工(gong)業：磁性材(cai)料加工(gong)行業
2.冶金工業(ye)：可分析對金屬材料質(zhi)量影響很大的As、Bi、Pb、Sb、Sn等雜質(zhi)元(yuan)素
3.水(shui)質(zhi)分析：可檢(jian)測水(shui)質(zhi)污染的八大重金(jin)屬(shu)等元素
4.地質、礦石分析：巖石樣品中(zhong)Ca、Mg、Na、Fe、Cu、Mn、Zn、Co、Ni、Au、Ag等元素的測(ce)定
5.石油化工和輕(qing)工領域的(de)應用：測試原油中的(de)30多(duo)種元素(su)，主要有Fe、Na、Mg、Ni、V、Ca、Pb、Mo、Mn、Cr、Co、Ba、As等
6.、衛生(sheng)、農(nong)業(ye)環保、商品、食品質(zhi)量檢(jian)測

ICP的使用(yong)及維護

1、儀器一定要有(you)良好的(de)使用(yong)環境
等(deng)離子(zi)(zi)體(ti)光(guang)譜與其它大(da)型精密儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)一(yi)樣，需要在(zai)一(yi)定(ding)的(de)環(huan)境(jing)(jing)下運行，失(shi)去(qu)這(zhe)些條件，不(bu)(bu)僅儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)的(de)使用效果不(bu)(bu)好，而且改變(bian)儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)的(de)檢測性(xing)能，甚至造(zao)(zao)成(cheng)損壞，縮短壽(shou)命。根據光(guang)學儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)的(de)特點(dian)(dian)，對環(huan)境(jing)(jing)溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)和濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)有(you)(you)一(yi)定(ding)要求。如(ru)果溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)變(bian)化(hua)(hua)太(tai)大(da)，光(guang)學元件受溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)變(bian)化(hua)(hua)的(de)影響就(jiu)(jiu)會產生(sheng)(sheng)譜線漂移，造(zao)(zao)成(cheng)測定(ding)數據不(bu)(bu)穩定(ding)，一(yi)般室溫(wen)(wen)(wen)要求維持在(zai)70～75攝氏度(du)(du)(du)間的(de)一(yi)個(ge)固定(ding)溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)，溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)變(bian)化(hua)(hua)應小于±1攝氏度(du)(du)(du)。而環(huan)境(jing)(jing)濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)過大(da)，光(guang)學元件，特別是光(guang)柵容易受潮(chao)損壞或性(xing)能降低。電(dian)子(zi)(zi)系統，尤其是印刷電(dian)路板及高(gao)壓(ya)電(dian)源上(shang)的(de)元件容易受潮(chao)燒壞。濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)對高(gao)頻發生(sheng)(sheng)器(qi)(qi)(qi)(qi)的(de)影響也十分重要，濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)過大(da)，輕則等(deng)離子(zi)(zi)體(ti)不(bu)(bu)容易點(dian)(dian)燃(ran)，重則高(gao)壓(ya)電(dian)源及高(gao)壓(ya)電(dian)路放(fang)電(dian)擊毀元件，如(ru)功率管隔直陶(tao)瓷電(dian)容擊穿，輸出(chu)電(dian)路阻(zu)抗匹配、網絡中的(de)可變(bian)電(dian)容放(fang)電(dian)等(deng)，以至損壞高(gao)頻發生(sheng)(sheng)器(qi)(qi)(qi)(qi)。一(yi)般室內濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)應小于百分之70，控(kong)制(zhi)在(zai)百分之45～60之間，應有(you)(you)空氣(qi)凈化(hua)(hua)裝置。過去(qu)由于基建施工，我們的(de)環(huan)境(jing)(jing)條件很差，甚至儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)室多次(ci)被(bei)水淹，受潮(chao)及室溫(wen)(wen)(wen)變(bian)化(hua)(hua)過大(da)，儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)不(bu)(bu)是定(ding)位困(kun)難就(jiu)(jiu)是經常發生(sheng)(sheng)故障。搬到新的(de)儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)室后條件改善了(le)，儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)運行就(jiu)(jiu)正常多了(le)。
2、儀器(qi)(qi)的供(gong)電線路要符合儀器(qi)(qi)的要求
為了保(bao)證ICP儀(yi)的(de)(de)(de)(de)安全運(yun)行，供(gong)(gong)(gong)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)線路必須(xu)要有足夠(gou)大(da)(da)的(de)(de)(de)(de)容量，否則儀(yi)器(qi)(qi)運(yun)行時線路的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)降(jiang)過大(da)(da)，影響儀(yi)器(qi)(qi)壽命。作(zuo)為一(yi)臺精密測量儀(yi)器(qi)(qi)，它(ta)還(huan)需要有相(xiang)對穩(wen)(wen)定的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)源，供(gong)(gong)(gong)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)的(de)(de)(de)(de)變化一(yi)般不(bu)(bu)超過＋百(bai)分(fen)之5，如(ru)超過這(zhe)個范圍，需要使用(yong)自(zi)動(dong)調壓(ya)(ya)(ya)器(qi)(qi)或(huo)磁飽和穩(wen)(wen)壓(ya)(ya)(ya)器(qi)(qi)，不(bu)(bu)能(neng)使用(yong)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子穩(wen)(wen)壓(ya)(ya)(ya)器(qi)(qi)，由于電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子穩(wen)(wen)壓(ya)(ya)(ya)器(qi)(qi)在(zai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)高時產生削(xue)波(bo)(bo)，造(zao)成電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)脈沖，影響電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子計算機(ji)(ji)(ji)、微處理器(qi)(qi)及(ji)相(xiang)敏(min)放大(da)(da)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)工作(zuo)，引起誤動(dong)作(zuo)。連續正(zheng)(zheng)弦(xian)波(bo)(bo)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)源才能(neng)保(bao)證這(zhe)些電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路的(de)(de)(de)(de)正(zheng)(zheng)常工作(zuo)，儀(yi)器(qi)(qi)供(gong)(gong)(gong)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)線路單獨(du)從(cong)供(gong)(gong)(gong)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)變壓(ya)(ya)(ya)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)配電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)盤上得到，盡量不(bu)(bu)與大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)機(ji)(ji)(ji)，大(da)(da)的(de)(de)(de)(de)通風機(ji)(ji)(ji)，空(kong)調機(ji)(ji)(ji)，馬弗爐等(deng)大(da)(da)的(de)(de)(de)(de)用(yong)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)設備共(gong)用(yong)一(yi)條供(gong)(gong)(gong)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)線路，以免在(zai)這(zhe)些用(yong)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)設備起動(dong)時，供(gong)(gong)(gong)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)線路的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)大(da)(da)幅度的(de)(de)(de)(de)波(bo)(bo)動(dong)，造(zao)成儀(yi)器(qi)(qi)工作(zuo)不(bu)(bu)穩(wen)(wen)定。允許電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流大(da)(da)于30安培的(de)(de)(de)(de)儀(yi)器(qi)(qi)要單獨(du)接地。一(yi)般光譜(pu)儀(yi)地線電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻要小于5歐姆(mu)，計算機(ji)(ji)(ji)地線電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻要小于0.25歐姆(mu)（ASTM）標(biao)準(zhun)，以防相(xiang)互干擾。
在(zai)儀器的(de)(de)(de)(de)使用中，應經(jing)常注意(yi)電(dian)(dian)(dian)源的(de)(de)(de)(de)變化，不能長期在(zai)過(guo)(guo)壓(ya)或欠壓(ya)下工作，根據資(zi)料介紹(shao)，當儀器在(zai)過(guo)(guo)壓(ya)下工作會造成高(gao)頗發生器功(gong)率大(da)管(guan)燈絲過(guo)(guo)度的(de)(de)(de)(de)蒸發和老化，電(dian)(dian)(dian)子(zi)管(guan)的(de)(de)(de)(de)壽(shou)(shou)(shou)命將(jiang)會大(da)大(da)的(de)(de)(de)(de)縮短（是正常壽(shou)(shou)(shou)命的(de)(de)(de)(de)五分(fen)之(zhi)～一(yi)六分(fen)之(zhi)一(yi)）。如果在(zai)欠壓(ya)下工作，電(dian)(dian)(dian)子(zi)管(guan)燈絲溫度過(guo)(guo)低，電(dian)(dian)(dian)子(zi)發射不好(hao)，也容易造成電(dian)(dian)(dian)子(zi)發射材(cai)料過(guo)(guo)早老化，同(tong)樣也縮短電(dian)(dian)(dian)子(zi)管(guan)的(de)(de)(de)(de)壽(shou)(shou)(shou)命；儀器運行中供電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)的(de)(de)(de)(de)較(jiao)大(da)波動(dong)同(tong)樣也會造成高(gao)頻發生器輸出功(gong)率的(de)(de)(de)(de)不穩定(ding)，對測定(ding)結果的(de)(de)(de)(de)好(hao)壞影(ying)響(xiang)極大(da)，因此，應當注意(yi)供電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)源的(de)(de)(de)(de)質量。
3、防(fang)塵(chen)
國內(nei)一(yi)般(ban)實(shi)(shi)驗室(shi)(shi)都不(bu)具備防塵(chen)(chen)、過濾塵(chen)(chen)埃的(de)(de)(de)設施，當實(shi)(shi)驗室(shi)(shi)內(nei)需(xu)要(yao)采(cai)用(yong)(yong)(yong)排(pai)(pai)風(feng)機(ji)(ji)(ji)，排(pai)(pai)除(chu)儀(yi)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)熱量及(ji)工作時(shi)(shi)產生(sheng)(sheng)的(de)(de)(de)有(you)毒氣(qi)體(ti)時(shi)(shi)，實(shi)(shi)驗室(shi)(shi)與外(wai)部(bu)(bu)就形(xing)成壓力差，實(shi)(shi)驗室(shi)(shi)產生(sheng)(sheng)負壓，室(shi)(shi)外(wai)含有(you)大量灰塵(chen)(chen)的(de)(de)(de)空(kong)氣(qi)從門(men)窗的(de)(de)(de)縫隙(xi)中(zhong)流(liu)入室(shi)(shi)內(nei)，大量積(ji)(ji)聚(ju)在儀(yi)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)各個部(bu)(bu)位上，容易造成高(gao)壓元(yuan)件(jian)或(huo)接(jie)頭(tou)打火，電(dian)(dian)(dian)(dian)路板及(ji)接(jie)線、插座等短路、漏電(dian)(dian)(dian)(dian)等各種各樣的(de)(de)(de)故障(zhang)，因此，需(xu)要(yao)經常進(jin)行除(chu)塵(chen)(chen)。特別(bie)是(shi)計算機(ji)(ji)(ji)、電(dian)(dian)(dian)(dian)子控制(zhi)電(dian)(dian)(dian)(dian)路、高(gao)頻發生(sheng)(sheng)器(qi)(qi)、顯示器(qi)(qi)、打印(yin)機(ji)(ji)(ji)、磁盤(pan)驅(qu)動(dong)(dong)器(qi)(qi)等，定期拆卸或(huo)打開，用(yong)(yong)(yong)小毛(mao)刷(shua)清掃，并(bing)同時(shi)(shi)使用(yong)(yong)(yong)吸(xi)塵(chen)(chen)器(qi)(qi)將各個部(bu)(bu)分的(de)(de)(de)積(ji)(ji)塵(chen)(chen)吸(xi)除(chu)。對光(guang)電(dian)(dian)(dian)(dian)倍增管(guan)(guan)負高(gao)壓電(dian)(dian)(dian)(dian)源線、及(ji)計算機(ji)(ji)(ji)顯示器(qi)(qi)的(de)(de)(de)高(gao)壓線及(ji)接(jie)頭(tou)，還要(yao)用(yong)(yong)(yong)紗(sha)布沾(zhan)上少許(xu)*小心的(de)(de)(de)抹除(chu)積(ji)(ji)炭和灰塵(chen)(chen)。磁盤(pan)驅(qu)動(dong)(dong)器(qi)(qi)及(ji)打印(yin)機(ji)(ji)(ji)清出灰塵(chen)(chen)之后，要(yao)在機(ji)(ji)(ji)械活動(dong)(dong)部(bu)(bu)件(jian)滴加少許(xu)儀(yi)表油(you)。打印(yin)機(ji)(ji)(ji)的(de)(de)(de)打印(yin)頭(tou)還要(yao)拆下，用(yong)(yong)(yong)軟(ruan)毛(mao)刷(shua)刷(shua)掃，并(bing)用(yong)(yong)(yong)絨布抹凈，防止針(zhen)孔被紙屑堵塞，然后按照(zhao)說明書調整一(yi)定的(de)(de)(de)打印(yin)壓力。對于儀(yi)器(qi)(qi)除(chu)塵(chen)(chen)，一(yi)般(ban)由電(dian)(dian)(dian)(dian)子，儀(yi)修或(huo)計算機(ji)(ji)(ji)的(de)(de)(de)專業人(ren)員幫助(zhu)，儀(yi)器(qi)(qi)使用(yong)(yong)(yong)或(huo)管(guan)(guan)理人(ren)員如不(bu)懂電(dian)(dian)(dian)(dian)子知(zhi)識，不(bu)了解儀(yi)器(qi)(qi)結構，不(bu)要(yao)輕易去(qu)動(dong)(dong)，以免發生(sheng)(sheng)意(yi)外(wai)，除(chu)塵(chen)(chen)應(ying)事先停機(ji)(ji)(ji)并(bing)關掉供電(dian)(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)(dian)源下進(jin)行。