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電火花式光電直讀光譜儀,OES

電火花式光電直讀光譜儀,OES

簡要描述:

電(dian)火(huo)花式光(guang)(guang)電(dian)直讀光(guang)(guang)譜儀,OES:基(ji)于(yu)CCD檢測器和光(guang)(guang)路技術,全面測試各(ge)種金屬中元素的譜線,靈活低(di)成本實(shi)現更多基(ji)體(ti)、元素的測試。

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  • 企業類型:制造商
  • 新舊程度:全
  • 原產地:江蘇蘇州

江(jiang)蘇天瑞儀(yi)器(qi)(qi)股份有限公(gong)司是(shi)專業(ye)生(sheng)產光譜、色譜、質譜等分析測試儀(yi)器(qi)(qi)及(ji)其軟件的(de)(de)研發、生(sheng)產和銷售一體型企業(ye)。 2011年1月25日,天瑞儀(yi)器(qi)(qi)在(zai)深(shen)圳(zhen)創業(ye)板塊上市。股票代碼(ma)為300165。分析儀(yi)器(qi)(qi)行(xing)業(ye)的(de)(de)家(jia)也是(shi)目前一家(jia)上市公(gong)司.

 

光電直讀光譜(pu)(pu)儀(yi)是指應用光電轉換接收方(fang)法作(zuo)多元素(su)同時分析的發射光譜(pu)(pu)儀(yi)器(qi)。由于電感耦合高頻(pin)等離子(zi)體(ti)光源(yuan)的廣泛使用,使光電直讀光譜(pu)(pu)儀(yi)在光譜(pu)(pu)儀(yi)中占有主要地位(wei)。

 

1.分光室設計
帕邢-龍格結構,羅蘭圓直徑350mm
波長范圍140 – 800nm
像素分辨率10pm
恒溫34℃±0.5℃
特殊材質鑄造,保證光室形變小
2.凹面光柵
刻線密度3600l/mm
一級光譜線色散率:1.2 nm/mm
3.檢測器
高性能線陣CCD
4.分析時間
依樣品種類而不同,一般少于30秒
5.激發光源
全數字等離子火花光源技術
高能預燃技術 (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6.激發臺
4mm樣品臺分析間隙
噴射電極技術
無待機流量,低氬氣消耗
7.電火花式光電直讀光譜儀,OES尺寸和重量
高450mm 長750 mm 寬800 mm
85 kg
8.電火花式光電直讀光譜儀,OES功率
功率1500W
待機功率70W
工作條件
工作溫度:15-30℃
相對濕度:≤70%
電 源:220±5V,單相50Hz,接地電阻<1Ω
實驗室無震動、粉塵、強電磁干擾、強氣流、腐蝕性氣體
輔助設備
高純氬氣——純度99.999%以上
交流參數穩壓電源——1KVA
光譜磨樣機——用于鋼鐵、鎳合金等樣品
小型車床——用于鋁、銅、鋅、鎂合金等樣品
空調——依實驗室面積配置匹配功率
技術優勢
全譜檢測全面測試各種金屬和元素
基于CCD檢測器全譜測試技術,全面測試各種金屬中元素的譜線,方便實現多基體、多元素的測試。
配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便,方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。
專業的測試方案
長期測試技術服務的積淀,天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。
測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序,滿足用戶各類常見測試需求。
分析程序由原廠采用國際、國家標準樣品校準,經專業儀器軟件擬合、校正。
用戶只需采用原廠配置少量標準化樣品即可完成日常維護,不需購買大量制作分析程序的標準樣品。
核心部件
光譜色散元件——光柵由德國Zeiss制造,保證優異的光譜分辨能力
光譜檢測器——光電倍增管由日本Toshiba制造,確保譜線檢測靈敏、低噪聲
光學鏡片——德國Zeiss制造,光纖——美國Agilent制造
的光室恒溫系統
光室恒溫腔體內配置反饋式加熱裝置和高效隔溫層,有效保證光室內恒溫。
由此抑制溫(wen)度(du)變(bian)化(hua)下機械(xie)件尺寸微弱(ruo)變(bian)化(hua)導致(zhi)的(de)光路漂移。同(tong)時光電(dian)器件工作在恒溫(wen)環境有(you)助于性能的(de)穩(wen)定。

1、分析速度快;準確度高,相對誤差約為1%;

2、適用于較寬的(de)波長范圍(wei);光電倍增(zeng)管對信(xin)號(hao)放大(da)能力強(qiang),對強(qiang)弱不(bu)同(tong)譜線可用不(bu)同(tong)的(de)放大(da)倍率(lv),3、相差(cha)可達10000倍,因此它(ta)可用同(tong)一分(fen)析條件對樣品(pin)中多種(zhong)含量 范圍(wei)差(cha)別很(hen)大(da)的(de)元素同(tong)時進行(xing)分(fen)析;

4、線性范圍(wei)寬(kuan),可做高含量分析(xi)。  

光電直讀(du)光譜儀缺(que)點:

1、出射狹(xia)縫固定,能分(fen)析的元素也固定,也不能利用不同波長(chang)的譜線進行(xing)分(fen)析;

2、受環(huan)境影響較大,如溫(wen)度變(bian)化時譜(pu)線(xian)易漂移(yi),現多采用(yong)實驗室(shi)恒溫(wen)或儀器的光學(xue)系統局部(bu)恒溫(wen)及其他措施。

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