X熒光多元素分析儀:下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求準直器和濾光片:多種準直器和濾光片的電動切換,滿足各種測試方式的應用移動平臺:精細的手動移動平臺,方便定位測試點高分辨率探測器:提高分析的準確性新一代的高壓(ya)電(dian)源和X光管:性能穩定可靠(kao),高達(da)50W的功率(lv)實(shi)現更高的測試(shi)效率(lv)
X熒光多元素分析儀
應用領域
RoHS檢(jian)測分(fen)析
地礦與合(he)金(jin)(銅、不銹鋼等)成分分析
金屬鍍層的厚(hou)度測(ce)量、電鍍液和鍍層含(han)量的測(ce)定
黃(huang)金,鉑,銀等(deng)貴金屬和各種首飾的(de)含量檢(jian)測
X熒光多元素(su)分析儀 性能特(te)點
下照式:可滿(man)足各(ge)種形狀樣品的測試需求
準直(zhi)器(qi)和濾光片:多種準直(zhi)器(qi)和濾光片的電動切(qie)換,滿足各種測試(shi)方式的應用
移(yi)動(dong)平臺(tai):精細的手(shou)動(dong)移(yi)動(dong)平臺(tai),方(fang)便定位測試(shi)點
高分辨率探測器:提(ti)高分析的準(zhun)確性
新一代的高(gao)壓(ya)電源和X光(guang)管(guan):性能(neng)穩定可靠,高(gao)達50W的功(gong)率實(shi)現更高(gao)的測試效率
技術指(zhi)標
元素分(fen)析(xi)范圍從硫(S)到鈾(you)(U)
分析檢出限可達1ppm
分析含量一(yi)般為(wei)1ppm到99.99%
任意多(duo)個可選擇的分(fen)析和識(shi)別(bie)模(mo)型
相互獨(du)立的基(ji)體效應(ying)校正(zheng)模(mo)型
多變量(liang)非線性(xing)回歸程序
溫度(du)適應范(fan)圍(wei)為15℃至30℃
電(dian)源(yuan):交(jiao)流220V±5V,建議(yi)配置交(jiao)流凈(jing)化穩壓電(dian)源(yuan)
能量(liang)分辨率:160±5eV
外(wai)觀尺(chi)寸: 550×416×333mm
樣(yang)品腔(qiang)尺寸(cun):460×298×98mm
重量:45Kg
標準配置(zhi)
移(yi)動樣品平臺
電制冷Si-PIN探測(ce)器(qi)
信號檢(jian)測電子電路(lu)
高低(di)壓電源
大功率X光管
計算機(ji)(ji)及(ji)噴墨打印機(ji)(ji)