元素(su)(su)合金(jin) X射線光譜(pu)分析(xi)(xi)儀(yi) 是利用(yong)XRF檢(jian)測(ce)原理實現對(dui)各種元素(su)(su)成份進行快速、準確、無損分析(xi)(xi)。 該儀(yi)器的(de)主要特征是利用(yong)智(zhi)能(neng)真空系(xi)統,可對(dui)Si、P、S、Al、Mg等(deng)輕元素(su)(su)具(ju)有良好的(de)激發效果(guo),利用(yong)XRF技術(shu)可對(dui)高含量的(de)Cr、Ni、Mo等(deng)重點關注的(de)元素(su)(su)進行精確分析(xi)(xi),在冶(ye)煉(lian)過程(cheng)控制中起到了(le)測(ce)試時間短,大(da)大(da)提高了(le)檢(jian)測(ce)效率(lv)和(he)工作(zuo)效率(lv)的(de)作(zuo)用(yong)。