儀(yi)器簡介(jie)：

此(ci)系列產品可測量金屬準直無法測量的微區，多導毛細聚焦管光學元件的光束尺寸可小至5μm，因(yin)此(ci)可以測(ce)量微電(dian)子設備(bei)、高(gao)級電(dian)路板(ban)、連接器、引(yin)腳框架和晶片的(de)超微小區域。

可以測(ce)量(liang)納米級(ji)的鍍層，毛(mao)細聚焦管能將更多的X射線輸出聚焦到樣品上，可(ke)以敏感的(de)反應(ying)鍍層納米級厚(hou)度(du)變(bian)化。其焦斑小區域上的(de)X射線強度(du)比金屬(shu)準直(zhi)系統高出幾個數量級。

可以實現更高的測試精度，毛細管聚(ju)焦X射線從(cong)而特(te)征X射線(xian)強度更(geng)高，探測(ce)器接(jie)受到高的計數率，信噪比(bi)更(geng)好，可以(yi)得到更(geng)好的測(ce)試精度和(he)置信區間。

更好的測試穩定性，探(tan)測器計數率高，測試結果(guo)波動更(geng)小，樣品鍍層、含量的測量更(geng)為精(jing)準(zhun)。

毛細聚焦X熒光光譜儀、連接器測厚儀

性能優勢：

微區分(fen)析(xi)：精(jing)準定(ding)位(wei)平(ping)臺和毛細管聚焦光學結構，聚焦直徑可小至 5μm FWHM. 

測(ce)試速(su)度：強度高于金(jin)屬準直(zhi)1000倍以上的毛細管光(guang)路系統搭配一六自主研發的EFP核(he)心(xin)算法，分析(xi)效(xiao)率(lv)翻倍，將大幅度縮減分析(xi)時間。 

自動智能：儀器響應式(shi)自動開合，AI影像智能尋點(dian)一次(ci)編(bian)程即可實現(xian)成(cheng)百(bai)上千個樣品點(dian)的高效檢測(ce)，實現(xian)在線檢測(ce)。 

兼容(rong)性：可選超大樣(yang)品艙及移動平臺，可輕(qing)松裝(zhuang)載大尺寸(cun)樣(yang)品。所有核心部(bu)件封裝(zhuang)于可拆卸獨立測(ce)量頭內，可實現即插即用的安裝(zhuang)在廠線(xian)上。 

耐久性：模塊化設計，使用壽命長，通用性更強，后期維護方便，各部件輕松換代升級(ji)。

毛細聚焦X熒光光譜儀、連接器測厚儀

光路系(xi)統：

多導毛細管技術(shu)：

高能量的(de)X-ray，配合高分辨(bian)率、大窗(chuang)口的SDD探測器，實現極小測量光斑。

高集成光路+多導(dao)(dao)毛細管：在高集(ji)成光路系統的(de)基礎(chu)上，搭配多導(dao)(dao)毛細管實(shi)現極小(xiao)面積、極薄(bo)鍍層的(de)高速、精確(que)、穩定的(de)測量。