鍍(du)層(ceng)(ceng)厚度與(yu)ROHS分析儀采用(yong)Fp算法(fa)(fa)的(de)后(hou)(hou)一代(dai)全新(xin)核心(xin)算法(fa)(fa)--理論(lun)Alpha系(xi)數(shu)法(fa)(fa)，基(ji)(ji)于熒(ying)光X射(she)線激(ji)發的(de)基(ji)(ji)本原理，從(cong)理論(lun)上計算出樣品中每個元素的(de)一次(ci)和二(er)次(ci)特(te)征X射(she)線的(de)熒(ying)光強(qiang)度，在基(ji)(ji)于此計算Lachance綜合校(xiao)(xiao)正系(xi)數(shu)，然后(hou)(hou)使用(yong)這些理論(lun)a系(xi)數(shu)去校(xiao)(xiao)正元素間的(de)吸收增強(qiang)效應(ying)。、可測試重復鍍(du)層(ceng)(ceng)、非金(jin)屬(shu)、輕金(jin)屬(shu)以(yi)及有機物層(ceng)(ceng)。
|
||
|
||
 |