儀器(qi)簡介：

XAU-4CS是一款設計結構緊湊，模塊精密化程度*的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設計，是一款一機多用型光譜儀。

應用核心EFP算法和微光聚集技(ji)術，既保留了測(ce)厚(hou)儀檢(jian)測(ce)微小樣品和凹槽的性能，又可滿(man)足微區(qu)RoHS檢(jian)測(ce)及成分分析(xi)。

被廣(guang)泛用(yong)于各類產品的質量管控(kong)(kong)、來料(liao)檢驗(yan)和對生產工藝控(kong)(kong)制的測量使用(yong)。

產品優勢：

 鍍層厚度與ROHS分析儀

技術參數(shu)：

1. 成分(fen)分(fen)析范圍：鋁(lv)（Al）- 鈾（U）

2. 成分(fen)低(di)檢(jian)出限：1ppm

3. 涂鍍(du)層分析范圍：鋰(li)（Li）- 鈾（U）

4. 涂鍍層低(di)檢出限：0.005μm

5. 小測量直徑□0.1*0.3mm（小測量面積0.03mm²）

    標配：小測(ce)量直徑0.3mm（小測(ce)量面積(ji)0.07mm²）

6. 對焦距離：0-30mm

7. 樣(yang)品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

8. 儀(yi)器(qi)尺寸(cun)：550mm*480mm*470mm

9. 儀器重量：45KG

10. XY軸工作臺(tai)移動(dong)范圍：50mm*50mm

11. XY軸工作臺大承重：5KG

 鍍層厚度與ROHS分析儀

應用領域：

多元迭代EFP核心算法（號：2017SR567637）

專(zhuan)業(ye)的研發團(tuan)隊在Alpha和(he)Fp法(fa)的基礎上，計算樣品中每(mei)個(ge)元素的一次(ci)熒(ying)光、二次(ci)熒(ying)光、靶材熒(ying)光、吸收增強效應、散射背(bei)景等多(duo)元優(you)化迭代開(kai)發出EFP核心算法(fa)，結合*的光路轉(zhuan)換技術、變(bian)焦(jiao)結構(gou)設計及穩定(ding)的多(duo)道(dao)脈沖分析(xi)采集系統，只需要(yao)少量(liang)的標樣來(lai)校正(zheng)儀器因(yin)子(zi)，可測試重復鍍層、非金(jin)屬、輕金(jin)屬、多(duo)層多(duo)元素以及有機(ji)物層的厚(hou)度及成分含量(liang)。

單涂鍍層應用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多(duo)涂鍍層應用：如(ru)Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等(deng)

合(he)金鍍層應(ying)用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金(jin)成分(fen)應(ying)用(yong)：如NiP/Fe，通過EFP算法，在計(ji)算鎳磷鍍層厚度的同(tong)時，還可分析出(chu)鎳磷含量比(bi)例(li)。

重復鍍(du)層應用(yong)：不(bu)同(tong)(tong)層有相同(tong)(tong)元素(su)，也可測量和分析。

如釹鐵(tie)硼(peng)磁鐵(tie)上的(de)Ni/Cu/Ni/FeNdB，一層Ni和第三層Ni的厚(hou)度(du)均可測(ce)量。

有害元(yuan)素檢測(ce)：RoHS檢測(ce)，可(ke)滿(man)足(zu)鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、六價鉻（Cr VI）等有害元(yuan)素的(de)成分檢測(ce)及含量分析

選擇一(yi)六儀器的四大理由：

1.一機多(duo)用，無損檢測（涂鍍層檢測-環保RoHS-成分(fen)分(fen)析）

2.小測量面積0.002mm²

3.可(ke)檢(jian)測凹槽0-30mm的(de)異形(xing)件

4.輕(qing)元素，重復鍍層(ceng)，同種(zhong)元素不同層(ceng)亦可檢測

配置(zhi)清(qing)單：

XAU-4CS是一款設計結構緊湊，模塊精密化程度*的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設計，是一款一機多用型光譜儀。

應用核心EFP算法和微光聚集技術，既(ji)保(bao)留(liu)了測(ce)厚儀(yi)檢(jian)測(ce)微小(xiao)樣品和凹槽的性能，又可滿足微區RoHS檢(jian)測(ce)及成分分析。

被廣泛用于各類產品的(de)質(zhi)量(liang)(liang)管控、來料檢驗(yan)和對(dui)生(sheng)產工藝控制的(de)測量(liang)(liang)使用。