XTD-200是一款于檢測各種異形件，特(te)別適用于五(wu)金(jin)類模具(ju)、衛浴(yu)產品(pin)、線(xian)路板以及高精密(mi)電子元器(qi)件表面處(chu)理的成(cheng)分和厚(hou)度(du)分析。

該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面深度0-90mm以內的異形件具備巨大的優勢；搭載全自動可編程移動平臺，無人值守，便可實現多樣品的自動檢測。

被廣泛用(yong)于各(ge)類產(chan)品的質量管控、來料檢驗和(he)對生產(chan)工(gong)藝控制的測量使用(yong)。

產品優勢：

技術參數：

1. 元素分(fen)析范(fan)圍：氯（Cl）- 鈾(you)（U）

2. 涂鍍層分(fen)析(xi)范圍：鋰（Li）- 鈾（U）

3. 厚度低檢出限：0.005μm

4. 成分低檢出限：1ppm

5. 小測量直徑(jing)0.05mm（小測量面積(ji)0.002mm²）

6. 對焦距離(li)：0-90mm

7. 樣品腔(qiang)尺寸：530mm*570mm*150mm

8. 儀器尺寸：760mm*550mm*635mm

9. 儀器重量(liang)：120KG

應(ying)用領域：

全自動鍍層測厚儀

多(duo)元(yuan)迭代EFP核心算法（號(hao)：2017SR567637）

專(zhuan)業的(de)(de)(de)研(yan)發團隊在Alpha和Fp法(fa)的(de)(de)(de)基礎上(shang)，計算(suan)樣(yang)品(pin)中每(mei)個元(yuan)素(su)的(de)(de)(de)一次(ci)熒(ying)(ying)光(guang)(guang)、二次(ci)熒(ying)(ying)光(guang)(guang)、靶材熒(ying)(ying)光(guang)(guang)、吸(xi)收增強效(xiao)應(ying)、散射背景(jing)等多元(yuan)優化迭代開發出EFP核心算(suan)法(fa)，結(jie)合*的(de)(de)(de)光(guang)(guang)路轉換技術、變焦結(jie)構(gou)設計及穩(wen)定的(de)(de)(de)多道脈(mo)沖分析采集系統，只需(xu)要少(shao)量(liang)的(de)(de)(de)標樣(yang)來校正(zheng)儀器因子，可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元(yuan)素(su)以(yi)及有機物層的(de)(de)(de)厚度及成(cheng)分含量(liang)。

單涂鍍(du)層(ceng)應(ying)用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂鍍層(ceng)應用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金鍍層(ceng)應用：如(ru)ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成(cheng)分應用：如NiP/Fe，通過EFP算法，在計算鎳(nie)磷鍍(du)層厚度的同(tong)時，還可分析出鎳(nie)磷含量(liang)比例。

重復鍍層應用：不(bu)同層有(you)相(xiang)同元素，也可測量和分(fen)析。

如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，一層Ni和第三層Ni的厚度均可測量。

選(xuan)擇一(yi)六(liu)儀器的四(si)大理由：

1.一(yi)機多用，無損(sun)檢測

2.小測量面積(ji)0.002mm²

3.可檢測凹槽0-90mm的異形件(jian)

4.輕元素，重復鍍層(ceng)，同種元素不同層(ceng)亦可檢(jian)測

配(pei)置清單：

全自動鍍層測厚儀

XTD-200是一(yi)款于檢測各(ge)種異形件，特別適用于五金類模具、衛(wei)浴產品、線路板以及高(gao)精密電子(zi)元器(qi)件表面處(chu)理的成分(fen)和(he)厚(hou)度分(fen)析。

該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面深度0-90mm以內的異形件具備巨大的優勢；搭載全自動可編程移動平臺，無人值守，便可實現多樣品的自動檢測。

被廣泛(fan)用(yong)于各(ge)類產品的質(zhi)量管控、來料檢驗(yan)和對生(sheng)產工(gong)藝控制的測量使用(yong)。

XTD-200是一款(kuan)于(yu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)各種異形件，特別適用于(yu)五金類模具、衛(wei)浴產(chan)品、線路板以(yi)(yi)(yi)及高精密電子元器件表面(mian)處(chu)理的(de)(de)成分和厚度分析。該系列儀器不(bu)但(dan)可以(yi)(yi)(yi)應對(dui)平(ping)面(mian)、微小樣品的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)，在面(mian)對(dui)凹槽(cao)曲(qu)面(mian)深度0-90mm以(yi)(yi)(yi)內(nei)的(de)(de)異形件具備巨大的(de)(de)優(you)勢；搭載全自動可編程移動平(ping)臺，無人值守，便可實現(xian)多樣品的(de)(de)自動檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)。被廣(guang)泛(fan)用于(yu)各類產(chan)品的(de)(de)質量管控、來料檢(jian)(jian)驗和對(dui)生產(chan)工藝(yi)控制的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量使用。產(chan)品優(you)勢：技術參數：

• 測量面積：小0.002mm²
• 鍍層分析：23層鍍層24種元素
• 儀器特點：可變焦對焦
• 儀器優勢：同元素不同層分析
• 服務宗旨：專注研發，專業生產，專精服務