X射(she)線(xian)鍍層厚(hou)度(du)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)儀(yi)(yi)_測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)：Thick 8000 鍍層測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)是專門針對鍍層厚(hou)度(du)測(ce)(ce)(ce)(ce)量而精心(xin)設計(ji)的(de)一款新型(xing)儀(yi)(yi)器。主要(yao)應用(yong)于(yu)：金屬鍍層的(de)厚(hou)度(du)測(ce)(ce)(ce)(ce)量、電鍍液和鍍層含(han)(han)量的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)定(ding)；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的(de)含(han)(han)量檢測(ce)(ce)(ce)(ce)。
X射線(xian)熒光光譜儀特點
X射(she)(she)線(xian)熒光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜儀的(de)(de)(de)特征(zheng)是(shi)波(bo)長(chang)非(fei)常短，頻率(lv)很高，其(qi)波(bo)長(chang)約為（20～0.06）×10-8厘米之間。因此(ci)X射(she)(she)線(xian)必定是(shi)由(you)于原子在(zai)能量相差懸殊的(de)(de)(de)兩個能級之間的(de)(de)(de)躍遷而(er)產(chan)生(sheng)的(de)(de)(de)。所以X射(she)(she)線(xian)光(guang)(guang)譜是(shi)原子中zui靠內層(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)電子躍遷時發出(chu)來的(de)(de)(de)，而(er)光(guang)(guang)學光(guang)(guang)譜則是(shi)外層(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)電子躍遷時發射(she)(she)出(chu)來的(de)(de)(de)。X射(she)(she)線(xian)在(zai)電場磁場中不偏轉。這說明X射(she)(she)線(xian)是(shi)不帶電的(de)(de)(de)粒子流，因此(ci)能產(chan)生(sheng)干涉、衍射(she)(she)現象。
X射線(xian)(xian)熒(ying)光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)的(de)(de)(de)(de)X射線(xian)(xian)譜(pu)由連續譜(pu)和標識(shi)譜(pu)兩(liang)部分(fen)組(zu)成 ，標識(shi)譜(pu)重疊在連續譜(pu)背景上，連續譜(pu)是(shi)由于(yu)高(gao)速(su)電(dian)子(zi)受靶極阻擋而產生(sheng)的(de)(de)(de)(de) 軔(ren)致輻(fu)射，其短(duan)(duan)波(bo)極限λ 0 由加速(su)電(dian)壓V決(jue)定：λ 0 = hc /( ev )為普朗克常(chang)數，e為電(dian)子(zi)電(dian)量(liang)，c為真空(kong)中的(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)速(su)。標識(shi)譜(pu)是(shi)由一(yi)系列線(xian)(xian)狀(zhuang)譜(pu)組(zu)成，它們(men)是(shi)因靶元(yuan)素內(nei)層電(dian)子(zi)的(de)(de)(de)(de)躍遷(qian)而產生(sheng)，每種(zhong)元(yuan)素各(ge)有一(yi)套特定的(de)(de)(de)(de)標識(shi)譜(pu)，反映了原子(zi)殼層結構 。同步輻(fu)射源可產生(sheng)高(gao)強度的(de)(de)(de)(de)連續譜(pu)X射線(xian)(xian)，現已成為重要(yao)的(de)(de)(de)(de)X射線(xian)(xian)源。 X射線(xian)(xian)熒(ying)光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)的(de)(de)(de)(de)X射線(xian)(xian)具有很(hen)高(gao)的(de)(de)(de)(de)穿透(tou)本領，能透(tou)過許(xu)多對可見光(guang)(guang)不透(tou)明(ming)的(de)(de)(de)(de)物質，如墨紙、木料等(deng)。這(zhe)種(zhong)肉眼看不見的(de)(de)(de)(de)射線(xian)(xian)可以(yi)使很(hen)多固體材(cai)料發生(sheng)可見的(de)(de)(de)(de)熒(ying)光(guang)(guang)，使照相底片感光(guang)(guang)以(yi)及空(kong)氣電(dian)離等(deng)效應，波(bo)長(chang)越短(duan)(duan)的(de)(de)(de)(de)X射線(xian)(xian)能量(liang)越大，叫做硬(ying)X射線(xian)(xian)，波(bo)長(chang)長(chang)的(de)(de)(de)(de)X射線(xian)(xian)能量(liang)較低，稱為軟X射線(xian)(xian)。當(dang)在真空(kong)中，高(gao)速(su)運(yun)動的(de)(de)(de)(de)電(dian)子(zi)轟擊金(jin)屬靶時，靶就放出X射線(xian)(xian)，這(zhe)就是(shi)X射線(xian)(xian)管的(de)(de)(de)(de)結構原理。
Thick 8000 鍍(du)層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)是專門(men)針對鍍(du)層厚(hou)度測(ce)(ce)量而精(jing)心設計的一(yi)款(kuan)新型高端(duan)儀(yi)器。主要應用于：金屬鍍(du)層的厚(hou)度測(ce)(ce)量、電鍍(du)液和(he)鍍(du)層含量的測(ce)(ce)定(ding)；黃金、鉑、銀等貴(gui)金屬和(he)各種首飾的含量檢測(ce)(ce)。
Thick 8000 鍍層測厚儀
1、X射線鍍層厚度檢測儀_測厚儀儀器(qi)概述(shu)
Thick 8000 鍍(du)層測厚儀(yi)(yi)是(shi)專(zhuan)門針對(dui)鍍(du)層厚度(du)(du)測量(liang)(liang)而精心設(she)計的(de)一款(kuan)新型(xing)高端儀(yi)(yi)器。主要應(ying)用于：金屬鍍(du)層的(de)厚度(du)(du)測量(liang)(liang)、電鍍(du)液和鍍(du)層含(han)量(liang)(liang)的(de)測定(ding)；黃金、鉑(bo)、銀(yin)等貴金屬和各種(zhong)首(shou)飾(shi)的(de)含(han)量(liang)(liang)檢測。
2、性能優(you)勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果
3、X射線鍍層厚度檢測儀_測厚儀技(ji)術指標
分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
同時檢測元素：24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術，最小孔徑達0.1mm，最小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃
2、性能(neng)優(you)勢(shi)
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果
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