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韓國先鋒膜厚儀 鍍測測試儀
韓國先鋒膜厚儀 鍍測測試儀

韓(han)國(guo)先鋒膜(mo)厚(hou)儀 鍍(du)(du)測(ce)測(ce)試儀 韓(han)國(guo)先鋒XRF-2020膜(mo)厚(hou)儀 檢(jian)測(ce)電(dian)子電(dian)鍍(du)(du),化學電(dian)鍍(du)(du)層(ceng)厚(hou)度, 如鍍(du)(du)金(jin),鍍(du)(du)鎳,鍍(du)(du)銅,鍍(du)(du)鉻,鎳鋅(xin),鍍(du)(du)銀(yin),鍍(du)(du)鈀,鍍(du)(du)錫... 可測(ce)單層(ceng),雙層(ceng),多(duo)層(ceng),合金(jin)鍍(du)(du)層(ceng),

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牛津膜厚儀 電鍍鍍測測試儀
牛津膜厚儀 電鍍鍍測測試儀

Fischer膜厚儀維修,牛津膜厚儀 電鍍鍍測(ce)測(ce)試儀 $nCMI900熒(ying)光X射線鍍層測(ce)厚儀,有著非破(po)壞(huai),非接觸,快速無(wu)損測(ce)量(liang)(liang),多層合(he)金測(ce)量(liang)(liang),高(gao)生產力,高(gao)再現性等優點的情(qing)況下進行表面(mian)鍍層厚度的測(ce)量(liang)(liang),從質量(liang)(liang)管理到成本節(jie)約有著廣泛的應(ying)用。

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鍍金測金儀 鍍層測試儀 光譜分析儀
鍍金測金儀 鍍層測試儀 光譜分析儀

鍍金測(ce)金儀 鍍層測(ce)試儀 光(guang)譜分析儀$n性能優勢(shi):1.微小(xiao)樣(yang)品檢測(ce):小(xiao)測(ce)量(liang)面積0.03mm²(加長(chang)測(ce)量(liang)時間可(ke)(ke)小(xiao)至0.01mm²)2.變焦(jiao)裝置(zhi)算法:可(ke)(ke)改變測(ce)量(liang)距離測(ce)量(liang)凹凸異(yi)形(xing)樣(yang)品,變焦(jiao)距離可(ke)(ke)達0-30mm3.EFP算法:Li(3)-U(92)元素的(de)涂鍍層,多層多元 素,甚至有同種元素在不同層也可(ke)(ke)測(ce)量(liang)。 4.*的(de)解(jie)譜技(ji)術:減少能量(liang)相近(jin)元素的(de)干擾,降低檢出限。 5.高性能探測(ce)器:S

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國產膜厚儀 電鍍測厚儀
國產膜厚儀 電鍍測厚儀

國產(chan)膜厚儀(yi) 電鍍(du)測(ce)厚儀(yi) 1.微小樣(yang)品(pin)檢(jian)測(ce):小測(ce)量(liang)面積0.03mm²(加長測(ce)量(liang)時間(jian)可(ke)小至0.01mm²)2.變(bian)焦裝置算法(fa):可(ke)改變(bian)測(ce)量(liang)距(ju)離(li)測(ce)量(liang)凹凸異形樣(yang)品(pin),變(bian)焦距(ju)離(li)可(ke)達0-30mm3.EFP算法(fa):Li(3)-U(92)元素的(de)涂鍍(du)層,多層多元 素,甚至有同種元素在不同層也可(ke)精(jing)準測(ce)量(liang)。 4.*的(de)解(jie)譜技(ji)術:減少能量(liang)相近元素的(de)干(gan)擾,降低檢(jian)出限。 5.高性能探測(ce)器

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膜厚測試儀
膜厚測試儀

膜厚測(ce)試儀 準直器:ø0.05mm;ø0.1mm;ø0.2mm;ø0.5mm;四(si)準直器任選一(yi)種(zhong) 近測(ce)距(ju)(ju)光(guang)斑擴散度(du):10% 小測(ce)量(liang)面積:約0.002mm² 測(ce)量(liang)距(ju)(ju)離(li)(li):具(ju)有(you)距(ju)(ju)離(li)(li)補償功能(neng),可改變測(ce)量(liang)距(ju)(ju)離(li)(li),能(neng)測(ce)量(liang)凹凸異形(xing)樣(yang)品(pin)(pin),變焦(jiao)(jiao)距(ju)(ju)離(li)(li)0-30mm 樣(yang)品(pin)(pin)觀(guan)察:1/2.5彩(cai)色CCD,全(quan)局快門,有(you)效像素:1280*960,變焦(jiao)(jiao)功能(neng) 對(dui)焦(jiao)(jiao)方式(shi):高敏感鏡頭(無需增(zeng)加其他輔助傳(chuan)感器),手(shou)動對(dui)焦(jiao)(jiao)

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測厚儀  電鍍膜厚儀
測厚儀 電鍍膜厚儀

測厚儀 電鍍膜(mo)厚儀 下(xia)照式設計:快(kuai)速方便的(de)定(ding)(ding)位各種形狀的(de)樣品(pin),滿(man)足一切(qie)測試(shi)所需(xu)。 無損變(bian)焦檢(jian)測:擁有(you)手(shou)動變(bian)焦功能,可對各種異形凹(ao)槽(cao)件進行無損檢(jian)測,凹(ao)槽(cao)深度范圍0-30mm。 微(wei)聚焦射線裝置:可測試(shi)各微(wei)小(xiao)的(de)部件,小(xiao)檢(jian)測面積可達(da)(da)0.002mm²。 高效(xiao)率的(de)接收器:在檢(jian)測0.01mm²以下(xia)的(de)樣品(pin)時,幾秒鐘也可達(da)(da)到穩定(ding)(ding)性。 精密微(wei)型滑軌:精密的(de)手(shou)動移動平臺,快(kuai)速精準定(ding)(ding)位所需(xu)檢(jian)測的(de)樣品(pin)。

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膜厚儀器 鍍層儀器 電鍍鍍層測厚儀
膜厚儀器 鍍層儀器 電鍍鍍層測厚儀

膜厚儀(yi)(yi)(yi)器(qi) 鍍層(ceng)儀(yi)(yi)(yi)器(qi) 電鍍鍍層(ceng)測(ce)(ce)厚儀(yi)(yi)(yi) 下(xia)照式設計:快速方便的定(ding)位(wei)各種形(xing)狀的樣(yang)品(pin),滿足一切測(ce)(ce)試所需(xu)。 無(wu)損變焦(jiao)檢(jian)(jian)測(ce)(ce):擁有手動變焦(jiao)功能,可對各種異形(xing)凹(ao)槽件進行(xing)無(wu)損檢(jian)(jian)測(ce)(ce),凹(ao)槽深度范圍0-30mm。 微(wei)聚焦(jiao)射線裝置:可測(ce)(ce)試各微(wei)小的部件,小檢(jian)(jian)測(ce)(ce)面積可達0.04mm²。 高效率的接收(shou)器(qi):在檢(jian)(jian)測(ce)(ce)0.01mm²以下(xia)的樣(yang)品(pin)時(shi),幾秒(miao)鐘也(ye)可達到穩定(ding)性。 EFP*算(suan)法軟(ruan)件:可檢(jian)(jian)測(ce)(ce)單

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