韓(han)國(guo)先鋒膜(mo)厚(hou)儀 鍍(du)(du)測(ce)測(ce)試儀 韓(han)國(guo)先鋒XRF-2020膜(mo)厚(hou)儀 檢(jian)測(ce)電(dian)子電(dian)鍍(du)(du),化學電(dian)鍍(du)(du)層(ceng)厚(hou)度, 如鍍(du)(du)金(jin),鍍(du)(du)鎳,鍍(du)(du)銅,鍍(du)(du)鉻,鎳鋅(xin),鍍(du)(du)銀(yin),鍍(du)(du)鈀,鍍(du)(du)錫... 可測(ce)單層(ceng),雙層(ceng),多(duo)層(ceng),合金(jin)鍍(du)(du)層(ceng),
Fischer膜厚儀維修,牛津膜厚儀 電鍍鍍測(ce)測(ce)試儀 $nCMI900熒(ying)光X射線鍍層測(ce)厚儀，有著非破(po)壞(huai)，非接觸，快速無(wu)損測(ce)量(liang)(liang)，多層合(he)金測(ce)量(liang)(liang)，高(gao)生產力，高(gao)再現性等優點的情(qing)況下進行表面(mian)鍍層厚度的測(ce)量(liang)(liang)，從質量(liang)(liang)管理到成本節(jie)約有著廣泛的應(ying)用。
鍍金測(ce)金儀 鍍層測(ce)試儀 光(guang)譜分析儀$n性能優勢(shi)：1.微小(xiao)樣(yang)品檢測(ce)：小(xiao)測(ce)量(liang)面積0.03mm²（加長(chang)測(ce)量(liang)時間可(ke)(ke)小(xiao)至0.01mm²）2.變焦(jiao)裝置(zhi)算法：可(ke)(ke)改變測(ce)量(liang)距離測(ce)量(liang)凹凸異(yi)形(xing)樣(yang)品，變焦(jiao)距離可(ke)(ke)達0-30mm3.EFP算法：Li（3）-U（92）元素的(de)涂鍍層，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可(ke)(ke)測(ce)量(liang)。 4.*的(de)解(jie)譜技(ji)術：減少能量(liang)相近(jin)元素的(de)干擾，降低檢出限。 5.高性能探測(ce)器：S
國產(chan)膜厚儀(yi) 電鍍(du)測(ce)厚儀(yi) 1.微小樣(yang)品(pin)檢(jian)測(ce)：小測(ce)量(liang)面積0.03mm²（加長測(ce)量(liang)時間(jian)可(ke)小至0.01mm²）2.變(bian)焦裝置算法(fa)：可(ke)改變(bian)測(ce)量(liang)距(ju)離(li)測(ce)量(liang)凹凸異形樣(yang)品(pin)，變(bian)焦距(ju)離(li)可(ke)達0-30mm3.EFP算法(fa)：Li（3）-U（92）元素的(de)涂鍍(du)層，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可(ke)精(jing)準測(ce)量(liang)。 4.*的(de)解(jie)譜技(ji)術：減少能量(liang)相近元素的(de)干(gan)擾，降低檢(jian)出限。 5.高性能探測(ce)器
膜厚測(ce)試儀 準直器：ø0.05mm；ø0.1mm；ø0.2mm；ø0.5mm；四(si)準直器任選一(yi)種(zhong) 近測(ce)距(ju)(ju)光(guang)斑擴散度(du)：10% 小測(ce)量(liang)面積：約0.002mm² 測(ce)量(liang)距(ju)(ju)離(li)(li)：具(ju)有(you)距(ju)(ju)離(li)(li)補償功能(neng)，可改變測(ce)量(liang)距(ju)(ju)離(li)(li)，能(neng)測(ce)量(liang)凹凸異形(xing)樣(yang)品(pin)(pin)，變焦(jiao)(jiao)距(ju)(ju)離(li)(li)0-30mm 樣(yang)品(pin)(pin)觀(guan)察：1/2.5彩(cai)色CCD，全(quan)局快門，有(you)效像素：1280*960，變焦(jiao)(jiao)功能(neng) 對(dui)焦(jiao)(jiao)方式(shi)：高敏感鏡頭（無需增(zeng)加其他輔助傳(chuan)感器），手(shou)動對(dui)焦(jiao)(jiao)
測厚儀 電鍍膜(mo)厚儀 下(xia)照式設計：快(kuai)速方便的(de)定(ding)(ding)位各種形狀的(de)樣品(pin)，滿(man)足一切(qie)測試(shi)所需(xu)。 無損變(bian)焦檢(jian)測：擁有(you)手(shou)動變(bian)焦功能，可對各種異形凹(ao)槽(cao)件進行無損檢(jian)測，凹(ao)槽(cao)深度范圍0-30mm。 微(wei)聚焦射線裝置：可測試(shi)各微(wei)小(xiao)的(de)部件，小(xiao)檢(jian)測面積可達(da)(da)0.002mm²。 高效(xiao)率的(de)接收器：在檢(jian)測0.01mm²以下(xia)的(de)樣品(pin)時，幾秒鐘也可達(da)(da)到穩定(ding)(ding)性。 精密微(wei)型滑軌：精密的(de)手(shou)動移動平臺，快(kuai)速精準定(ding)(ding)位所需(xu)檢(jian)測的(de)樣品(pin)。
膜厚儀(yi)(yi)(yi)器(qi) 鍍層(ceng)儀(yi)(yi)(yi)器(qi) 電鍍鍍層(ceng)測(ce)(ce)厚儀(yi)(yi)(yi) 下(xia)照式設計：快速方便的定(ding)位(wei)各種形(xing)狀的樣(yang)品(pin)，滿足一切測(ce)(ce)試所需(xu)。 無(wu)損變焦(jiao)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)：擁有手動變焦(jiao)功能，可對各種異形(xing)凹(ao)槽件進行(xing)無(wu)損檢(jian)(jian)測(ce)(ce)，凹(ao)槽深度范圍0-30mm。 微(wei)聚焦(jiao)射線裝置：可測(ce)(ce)試各微(wei)小的部件，小檢(jian)(jian)測(ce)(ce)面積可達0.04mm²。 高效率的接收(shou)器(qi)：在檢(jian)(jian)測(ce)(ce)0.01mm²以下(xia)的樣(yang)品(pin)時(shi)，幾秒(miao)鐘也(ye)可達到穩定(ding)性。 EFP*算(suan)法軟(ruan)件：可檢(jian)(jian)測(ce)(ce)單
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