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牛津膜厚儀 電鍍鍍測測試儀

牛津膜厚儀 電鍍鍍測測試儀

簡要描述:

Fischer膜厚儀維修,牛津膜厚儀 電鍍鍍測測試儀
CMI900熒光X射線鍍層(ceng)測(ce)厚儀,有著(zhu)非破(po)壞,非接(jie)觸,快(kuai)速無(wu)損測(ce)量,多層(ceng)合金測(ce)量,高生產力,高再現性等優點的(de)情況下進行表面鍍層(ceng)厚度的(de)測(ce)量,從質量管理到成本節約有著(zhu)廣泛的(de)應用。

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牛津膜厚儀 電鍍鍍測測試儀

牛津膜厚儀 電鍍鍍測測試儀

 

儀器介紹(shao)

CMI900熒光(guang)X射線鍍(du)層(ceng)測厚儀(yi),有(you)著非破壞,非接觸,快速無損測量(liang),多(duo)層(ceng)合金測量(liang),高生(sheng)產力,高再現(xian)性等優點的(de)情況下進行表面鍍(du)層(ceng)厚度(du)的(de)測量(liang),從質量(liang)管理(li)到(dao)成本節約有(you)著廣泛的(de)應用。

 

適用(yong)范圍

用于(yu)電子元器(qi)件(jian),半導體,PCB,FPC,LED支架,汽(qi)車零部件(jian),功能性電鍍,裝飾(shi)(shi)件(jian),連接(jie)器(qi),端子,衛(wei)浴(yu)潔具,首飾(shi)(shi)飾(shi)(shi)品……多(duo)個行業表(biao)面鍍層厚度的測量;

測(ce)量鍍(du)層,金屬涂層,薄膜的(de)厚度或液體(鍍(du)液的(de)成(cheng)分分析)組成(cheng)。

 

主要特點

測(ce)量范圍寬,可檢測(ce)元(yuan)素范圍:Ti22–U92;

可同時測(ce)定5層(ceng)/15種元素/共(gong)存元素較正;

精(jing)度高(gao)、穩定性好(hao);

強大的數據統計、處(chu)理功能(neng);

NIST認(ren)證的(de)標(biao)準片;

服務及支(zhi)持。

牛津無(wu)損電鍍膜厚測(ce)試儀CMI900 ,專業(ye)測(ce)量(liang)金(jin)、銀 鈀(ba) 銠 鎳 銅 錫(xi) 等(deng)貴金(jin)屬多(duo)鍍層膜厚測(ce)量(liang),快速 精準(zhun) 無(wu)損,業(ye)內*,客戶應用廣泛在 五金(jin) 連接器(qi) PCB  LED支(zhi)架等(deng)行(xing)業(ye)以形(xing)成行(xing)業(ye)測(ce)量(liang)的標準(zhun)。

金屬鍍層測厚儀對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層進行厚度測量的儀金屬鍍層測厚儀器,測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等。 X射線金屬鍍層測厚儀測量方法。
測量多層金屬鍍層,目前優良的方式:X-ray鍍層測量法
可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。   
可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量,

避免直接接觸或破壞被測物。   
薄膜FP法軟件是標準配置,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量。

此外,適用(yong)(yong)于無鉛焊錫的應用(yong)(yong)。

金屬鍍層厚度測量, 例如Zn;Cr;  Cu;  Ag;  Au;Sn等  合金(兩樣金屬元素)鍍層厚度測量,  例如:  SnPb;  ZnNi;  及NiP(無電浸鎳)在Fe上等 
合金(三檬金屬元素)鍍層厚度測量,  例如:  AuCuCd在Ni上等 
雙鍍層厚度測量,  例如:Au/Ni在Cu  上;  Cr/Ni在Cu上;Au/Ag在Ni上;Sn/Cu在黃銅上等 
雙鍍層厚度測量(其中一層是合金層),  例如:  SnPb/Ni或Au/PdNi在青銅上等 
三鍍層,  例如:  Cr/Ni/Cu在塑膠或在鐵上

PCB LED 連接器等行業 gold flash/ Nip / Cu 或  Au / Pdni / Cu  
~~  Ag / Ni / Cu / Ni  / Cu  等常見應用

電鍍層測厚儀注意(yi)事項

   A、工作(zuo)電(dian)源(yuan)要求:CMI900必須工作(zuo)于穩定(ding)工作(zuo)電(dian)壓狀態(tai)之下,必須對CMI900配置UPS后備(bei)電(dian)源(yuan),防止(zhi)突然斷電(dian)引起儀器損壞。UPS后備(bei)電(dian)源(yuan)功率大約在1000W~2000W之間即可。

B、環(huan)境要(yao)(yao)求:CMI900是高科技精(jing)密測(ce)量(liang)儀(yi)(yi)器,對環(huan)境的(de)要(yao)(yao)求特別高,環(huan)境的(de)變化(hua)會直接影響(xiang)測(ce)量(liang)精(jing)度、儀(yi)(yi)器穩(wen)定性、會導致儀(yi)(yi)器出現性能問(wen)題及影響(xiang)儀(yi)(yi)器的(de)使用壽命(ming)。下面是實驗室環(huan)境條(tiao)件基本(ben)要(yao)(yao)求:

□ 實驗室的標準(zhun)溫度(du)為20℃,一(yi)般(ban)檢(jian)測間及試驗間的溫度(du)應(ying)在(zai)20±5℃, 線(xian)值計(ji)量(liang)標準(zhun)間為20±2℃,電(dian)工(gong)        與無線(xian)電(dian)專業(ye)的標準(zhun)間和線(xian)值計(ji)量(liang)的計(ji)量(liang)檢(jian)測儀器間為20±3℃。

□ 實驗(yan)室內(nei)的相對濕度一般應保持在50-70%。

□ 實(shi)驗(yan)室的(de)噪音、防(fang)(fang)震、防(fang)(fang)塵、防(fang)(fang)腐蝕(shi)、防(fang)(fang)磁與屏蔽等(deng)方面的(de)環境(jing)條件應(ying)符(fu)合(he)在室內(nei)(nei)開展的(de)檢(jian)(jian)定項目的(de)檢(jian)(jian)測(ce)                    儀器(qi)設(she)備對環境(jing)條件的(de)要求,室內(nei)(nei)采光應(ying)利于檢(jian)(jian)定工(gong)作和計量檢(jian)(jian)測(ce)工(gong)作的(de)進行(xing)。

□ 實(shi)驗(yan)室的(de)環境條(tiao)件(jian)出(chu)現異常,例如溫度和濕度超過規定范圍且明顯影響(xiang)檢定或(huo)檢測結果時或(huo)當環境條(tiao)件(jian)經(jing)常出(chu)現異常情況(kuang),采取適當措施給予解決。

 

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