鍍金測金儀 鍍層測試儀 光譜分析儀性能優勢：

1.微小樣(yang)品檢測：小測量面積(ji)0.03mm²（加長測量時間可小至0.01mm²）

2.變(bian)焦裝(zhuang)置算法：可(ke)改變(bian)測(ce)(ce)量距(ju)離測(ce)(ce)量凹凸異形(xing)樣(yang)品(pin)，變(bian)焦距(ju)離可(ke)達0-30mm

3.*的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍(du)層(ceng)，多層(ceng)多元 素，甚至有(you)同(tong)種元素在不同(tong)層(ceng)也可(ke)測量。   ;

4.*的(de)(de)解譜(pu)技術：減少(shao)能量相(xiang)近元素的(de)(de)干擾，降低檢(jian)出限。   

5.高性能探(tan)測器(qi)：SDD硅漂移窗口面積25mm²探(tan)測器(qi)。   

6.X射線裝置：微焦加強型射線管搭配聚焦裝置。 

一(yi)(yi)六儀(yi)器研制的(de)(de)測厚儀(yi)*的(de)(de)光(guang)(guang)路交換裝置(zhi)，讓X射線(xian)和(he)可(ke)見光(guang)(guang)攝像同一(yi)(yi)垂(chui)直線(xian)，達(da)到(dao)視覺與測試(shi)(shi)定位一(yi)(yi)體，且(qie)X光(guang)(guang)擴散(san)度小；與EFP軟件配合達(da)到(dao)對焦、變焦雙焦功能(neng)，實現高低、凹凸不平各種形狀(zhuang)樣品的(de)(de)測試(shi)(shi)；高集(ji)成的(de)(de)光(guang)(guang)路交換裝置(zhi)與接收器的(de)(de)角度可(ke)縮小一(yi)(yi)倍(bei)，可(ke)以(yi)減少弧度傾斜放樣帶來的(de)(de)誤差，同時特(te)征X射線(xian)可(ke)以(yi)穿透測試(shi)(shi)更厚的(de)(de)表層。

鍍金測金儀 鍍層測試儀 光譜分析儀*的EFP算法

專(zhuan)業(ye)的(de)研發(fa)團隊在Alpha和(he)Fp法的(de)基礎上，計(ji)(ji)算樣(yang)品中每個元(yuan)素(su)的(de)一次熒(ying)光(guang)、二次熒(ying)光(guang)、靶材熒(ying)光(guang)、吸收增強效應、散射(she)背(bei)景等多元(yuan)優化(hua)迭代開(kai)發(fa)出EFP核心算法，結(jie)合*的(de)光(guang)路轉換技術、變焦結(jie)構設(she)計(ji)(ji)及穩定的(de)多道脈沖(chong)分析采(cai)集系統，只需要少量的(de)標(biao)樣(yang)來(lai)校正儀器因子(zi)，可測(ce)試重復鍍層、非金(jin)屬(shu)、輕(qing)金(jin)屬(shu)、多層多元(yuan)素(su)以及有機物層的(de)厚度及成分含(han)量。

RoHS檢(jian)測及標定