引線框架測厚儀
引線框架測(ce)(ce)(ce)厚儀 下照(zhao)式設計(ji)：快(kuai)速(su)方(fang)便的(de)定位(wei)各(ge)種形狀的(de)樣(yang)(yang)品，滿足(zu)一切測(ce)(ce)(ce)試所(suo)需。
無損(sun)(sun)變(bian)焦(jiao)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)：擁有手動變(bian)焦(jiao)功能，可對各(ge)種異形凹槽件(jian)進行無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)，凹槽深(shen)度范圍0-30mm。
微聚焦(jiao)射線裝置：可測(ce)(ce)(ce)試各(ge)微小的(de)部件(jian)，小檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)面(mian)積可達0.002mm²。
高效(xiao)率的(de)接收器：在檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)0.01mm²以下的(de)樣(yang)(yang)品時(shi)，幾秒鐘也可達到穩定性。
精密微型(xing)滑軌：精密的(de)手動移動平臺，快(kuai)速(su)定位(wei)所(suo)需檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)的(de)樣(yang)(yang)品
