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X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理

更新時間:2020-06-09   點擊次數:3444次

鍍層厚度分析儀簡介

鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)度分(fen)析儀(yi)(yi)(yi)(yi)又叫(jiao)涂(tu)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)(ce)量(liang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)、電鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)(ce)試儀(yi)(yi)(yi)(yi)、防腐(fu)(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)檢(jian)測(ce)(ce)儀(yi)(yi)(yi)(yi)、涂(tu)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)(ce)試儀(yi)(yi)(yi)(yi)、涂(tu)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)(ce)量(liang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)、油(you)漆(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)(yi)價格、油(you)漆(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)(yi)、油(you)漆(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)膜厚(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)(yi)、鋼結構(gou)油(you)漆(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)(yi)、鋼板(ban)油(you)漆(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)(yi)、鋼管(guan)油(you)漆(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)(yi)、油(you)漆(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)防腐(fu)(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)(yi)、油(you)罐防腐(fu)(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)(yi)可無損地測(ce)(ce)量(liang)磁(ci)(ci)性(xing)(xing)金(jin)屬(shu)基(ji)體(ti)(如(ru)鋼、鐵、合金(jin)和硬磁(ci)(ci)性(xing)(xing)鋼等(deng)(deng))上非磁(ci)(ci)性(xing)(xing)涂(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)的(de)厚(hou)(hou)度(如(ru)鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油(you)漆(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)等(deng)(deng))及非磁(ci)(ci)性(xing)(xing)金(jin)屬(shu)基(ji)體(ti)(如(ru)銅、鋁、鋅、錫等(deng)(deng))上非導(dao)電覆層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)的(de)厚(hou)(hou)度(如(ru):琺瑯、橡膠、油(you)漆(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)、塑(su)料等(deng)(deng))。涂(tu)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)(yi)具有測(ce)(ce)量(liang)誤差小、可靠性(xing)(xing)高(gao)、穩(wen)定性(xing)(xing)好、操作簡便等(deng)(deng)特點,是控制和保證產品質(zhi)量(liang)*的(de)檢(jian)測(ce)(ce)儀(yi)(yi)(yi)(yi)器,廣泛地應用(yong)在制造業、金(jin)屬(shu)加工(gong)業、化(hua)工(gong)業、商檢(jian)等(deng)(deng)檢(jian)測(ce)(ce)領域。

鍍層厚度測(ce)量已成為加工(gong)工(gong)業(ye)、表(biao)面工(gong)程(cheng)質(zhi)量檢測(ce)的重要環節(jie),是(shi)產品(pin)達到優等質(zhi)量標準的必(bi)要手段。為使產品(pin)化,我國出口商品(pin)和涉(she)外項目(mu)中,對(dui)鍍層厚度有(you)了明確要求。

 

鍍層厚(hou)度分析(xi)儀的測量方法(fa)主要有:楔切(qie)法(fa),光截(jie)法(fa),電(dian)(dian)解法(fa),厚(hou)度差測量法(fa),稱重法(fa),X射線熒(ying)光法(fa),β射線反(fan)向散射法(fa),電(dian)(dian)容法(fa)、磁(ci)性測量法(fa)及渦(wo)流(liu)測量法(fa)等(deng)等(deng)。這(zhe)些方法(fa)中(zhong)前五種是有損檢測,測量手段繁(fan)瑣,速度慢,多適用(yong)于抽樣檢驗。

X射線(xian)和β射線(xian)法是無接觸無損測量(liang),測量(liang)范(fan)圍較小,X射線(xian)法可測極(ji)薄鍍(du)(du)層(ceng)、雙鍍(du)(du)層(ceng)、合金鍍(du)(du)層(ceng)。β射線(xian)法適合鍍(du)(du)層(ceng)和底(di)材原(yuan)子(zi)序(xu)號大于3的鍍(du)(du)層(ceng)測量(liang)。電(dian)容法僅(jin)在薄導(dao)電(dian)體的絕緣覆(fu)層(ceng)測厚時采(cai)用。

隨著(zhu)技術(shu)的(de)日益進步,特(te)別是近(jin)年來引入(ru)微機技術(shu)后,X射線鍍層厚(hou)度(du)分(fen)析儀(yi)向(xiang)微型、智能(neng)、多功能(neng)、高(gao)精(jing)度(du)、實用化的(de)方向(xiang)進了(le)一步。測(ce)量的(de)分(fen)辨率已(yi)達(da)0.1微米,精(jing)度(du)可達(da)到1%,有了(le)大幅(fu)度(du)的(de)提高(gao)。它適用范圍廣,量程(cheng)寬、操(cao)作簡便且價廉,是工業(ye)和科研使用廣泛的(de)測(ce)厚(hou)儀(yi)器(qi)。

工業(ye)(ye)X射線(xian)鍍(du)層厚度分(fen)析(xi)(xi)儀以其快速、無損、現(xian)場測(ce)量等優(you)點,已在冶金(jin)、建材、地質、環保(bao)、商檢(jian)、考古、醫學等領域得到迅速推(tui)廣(guang)和(he)應用(yong)。近幾年來(lai)X射線(xian)熒光儀已在工業(ye)(ye)鍍(du)層及涂層厚度測(ce)量中應用(yong)越來(lai)越廣(guang)泛。*,產品(pin)和(he)金(jin)屬元件表(biao)面(mian)鍍(du)層或防腐層厚度是與產品(pin)質量與性能(neng)相關的重要(yao)指(zhi)標(biao)。實驗表(biao)明使用(yong)同位素X射線(xian)熒光分(fen)析(xi)(xi)方(fang)法,能(neng)夠滿足工業(ye)(ye)鍍(du)層和(he)涂層厚度的分(fen)析(xi)(xi)要(yao)求(qiu),并且具有無損、在線(xian)、簡便快速、可實現(xian)自動控制等特點。

 

X射(she)線熒光鍍層(ceng)厚度(du)分析(xi)儀基本原理

X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)熒光就(jiu)是被(bei)分(fen)析樣品(pin)在(zai)X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)照射(she)(she)(she)下(xia)發(fa)出(chu)(chu)的(de)(de)(de)X射(she)(she)(she)線(xian)(xian),它包(bao)含了(le)被(bei)分(fen)析樣品(pin)化學(xue)組成的(de)(de)(de)信息,通(tong)過對(dui)X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)熒光的(de)(de)(de)分(fen)析確定(ding)被(bei)測樣品(pin)中各組分(fen)含量(liang)的(de)(de)(de)儀(yi)器(qi)就(jiu)是X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)熒光分(fen)析儀(yi)。由(you)(you)原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)物理學(xue)的(de)(de)(de)知(zhi)識,對(dui)每一種化學(xue)元素的(de)(de)(de)原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)來說(shuo),都(dou)有(you)其特(te)定(ding)的(de)(de)(de)能(neng)級結(jie)構,其核外電(dian)(dian)子(zi)(zi)都(dou)以(yi)其*的(de)(de)(de)能(neng)量(liang)在(zai)各自的(de)(de)(de)固(gu)定(ding)軌(gui)道(dao)上運行。內層電(dian)(dian)子(zi)(zi)在(zai)足夠能(neng)量(liang)的(de)(de)(de)X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)照射(she)(she)(she)下(xia)脫離原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)的(de)(de)(de)束縛,成為(wei)自由(you)(you)電(dian)(dian)子(zi)(zi),這(zhe)(zhe)時(shi)(shi)原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)被(bei)激發(fa)了(le),處于激發(fa)態(tai)。此時(shi)(shi),其他的(de)(de)(de)外層電(dian)(dian)子(zi)(zi)便會填補這(zhe)(zhe)一空(kong)位,即所謂的(de)(de)(de)躍遷,同時(shi)(shi)以(yi)發(fa)出(chu)(chu)X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)形(xing)式放(fang)出(chu)(chu)能(neng)量(liang)。

X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理 

X射線熒(ying)光鍍層厚度分析儀基(ji)本原理(li)

 

由(you)于每一(yi)種(zhong)元(yuan)素的(de)(de)原(yuan)子(zi)能(neng)級結構(gou)都是特(te)(te)定的(de)(de),它被激發(fa)后躍遷(qian)時放出的(de)(de)X射(she)線(xian)的(de)(de)能(neng)量也是特(te)(te)定的(de)(de),稱之為特(te)(te)征(zheng)X射(she)線(xian)。通過測定特(te)(te)征(zheng)X射(she)線(xian)的(de)(de)能(neng)量,便(bian)可以確定相應元(yuan)素的(de)(de)存在,而(er)特(te)(te)征(zheng)X射(she)線(xian)的(de)(de)強弱(或者說X射(she)線(xian)光子(zi)的(de)(de)多(duo)少)則代表該元(yuan)素的(de)(de)含量。

 

鍍層厚度分析儀根據測(ce)量原理一般(ban)有以下(xia)五(wu)種類型:

1.磁性測厚法

適用導(dao)磁材料(liao)上(shang)的非導(dao)磁層厚(hou)度測量(liang)。導(dao)磁材料(liao)一般為:鋼、鐵、銀、鎳。此種方法測量(liang)精度高。

2.渦流測厚法

適用導電金屬(shu)上的非導電層厚度(du)測量(liang)。此種方法較磁性(xing)測厚法精度(du)低。

3.超聲波測厚法

目前國(guo)內還沒(mei)有用此種方法測(ce)量(liang)(liang)涂(tu)(tu)鍍層(ceng)厚度(du)的(de),國(guo)外個別廠家(jia)有這(zhe)樣的(de)儀器,適(shi)用多層(ceng)涂(tu)(tu)鍍層(ceng)厚度(du)的(de)測(ce)量(liang)(liang)或(huo)則是以(yi)上兩種方法都無法測(ce)量(liang)(liang)的(de)場合。但一般(ban)價格(ge)昂貴,測(ce)量(liang)(liang)精度(du)也不高。

4.電解測厚法

此方法有別于以(yi)上三(san)種(zhong),不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層(ceng)。一般精度(du)也不高。測量(liang)起來較其他幾種(zhong)麻煩。

5.放射測厚法

此(ci)種儀器價格昂貴,適(shi)用于一些(xie)特(te)殊場合。

 

常規鍍層厚度分析儀的原理

對材料表面保護、裝飾(shi)形(xing)成的覆(fu)蓋(gai)層(ceng)(ceng),如涂(tu)層(ceng)(ceng)、鍍層(ceng)(ceng)、敷層(ceng)(ceng)、貼層(ceng)(ceng)、化學生(sheng)成膜等(deng),在有關(guan)國家和標準(zhun)中(zhong)稱為(wei)覆(fu)層(ceng)(ceng)(coating)。覆(fu)層(ceng)(ceng)厚度測量(liang)已(yi)成為(wei)加工工業、表面工程質量(liang)檢測的重要(yao)一環,是產品(pin)達到優等(deng)質量(liang)標準(zhun)的*手段。為(wei)使產品(pin)化,我國出(chu)口(kou)商品(pin)和涉外(wai)項(xiang)目中(zhong),對覆(fu)層(ceng)(ceng)厚度有了(le)明確的要(yao)求。

覆層厚(hou)度(du)的(de)測(ce)量(liang)方(fang)法(fa)(fa)(fa)(fa)主要有:楔(xie)切(qie)法(fa)(fa)(fa)(fa),光截(jie)法(fa)(fa)(fa)(fa),電(dian)解法(fa)(fa)(fa)(fa),厚(hou)度(du)差測(ce)量(liang)法(fa)(fa)(fa)(fa),稱重法(fa)(fa)(fa)(fa),X射(she)線熒光法(fa)(fa)(fa)(fa),β射(she)線反(fan)向散射(she)法(fa)(fa)(fa)(fa),電(dian)容法(fa)(fa)(fa)(fa)、磁(ci)性測(ce)量(liang)法(fa)(fa)(fa)(fa)及渦流測(ce)量(liang)法(fa)(fa)(fa)(fa)等(deng)。

這些方(fang)法(fa)(fa)中前(qian)五種是有(you)(you)損檢(jian)(jian)測(ce)(ce),測(ce)(ce)量手段繁(fan)瑣,速度慢,多適用于抽樣(yang)檢(jian)(jian)驗。X射線(xian)和(he)β射線(xian)法(fa)(fa)是無(wu)接觸無(wu)損測(ce)(ce)量,但裝置復雜昂貴,測(ce)(ce)量范圍較小。因(yin)有(you)(you)放(fang)射源,使(shi)用者必須遵守射線(xian)防護規范。X射線(xian)法(fa)(fa)可測(ce)(ce)極薄鍍(du)層(ceng)、雙鍍(du)層(ceng)、合金鍍(du)層(ceng)。β射線(xian)法(fa)(fa)適合鍍(du)層(ceng)和(he)底(di)材原子(zi)序號(hao)大于3的鍍(du)層(ceng)測(ce)(ce)量。電(dian)容法(fa)(fa)僅在薄導電(dian)體的絕緣覆層(ceng)測(ce)(ce)厚時采用。

隨著技術的(de)(de)(de)日益(yi)進步,特別是近(jin)年來引入微機(ji)技術后,采(cai)用磁性法(fa)(fa)和渦流(liu)法(fa)(fa)的(de)(de)(de)測厚儀向微型、智能、多功能、高(gao)精(jing)度(du)、實用化的(de)(de)(de)方向進了(le)一步。測量(liang)的(de)(de)(de)分辨率已達0.1微米,精(jing)度(du)可(ke)達到1%,有(you)了(le)大(da)幅(fu)度(du)的(de)(de)(de)提高(gao)。它適(shi)用范圍廣,量(liang)程寬、操(cao)作簡便且價(jia)廉,是工業和科研使用廣泛的(de)(de)(de)測厚儀器(qi)。采(cai)用無損方法(fa)(fa)既(ji)不破壞覆層(ceng)也不破壞基(ji)材,檢測速度(du)快,能使大(da)量(liang)的(de)(de)(de)檢測工作經濟地進行。

 

鍍層厚度分析(xi)儀(yi)(yi)測量(liang)原理與(yu)儀(yi)(yi)器

一(yi). 磁吸力(li)測量(liang)原理鍍層(ceng)厚度分析儀

磁(ci)(ci)鐵(tie)(測(ce)頭)與(yu)(yu)導磁(ci)(ci)鋼(gang)(gang)材(cai)之(zhi)(zhi)間(jian)(jian)的(de)(de)吸(xi)力(li)大(da)小與(yu)(yu)處于(yu)這(zhe)(zhe)兩者之(zhi)(zhi)間(jian)(jian)的(de)(de)距(ju)離成(cheng)一(yi)定(ding)比例關系,這(zhe)(zhe)個距(ju)離就(jiu)是覆(fu)層的(de)(de)厚(hou)(hou)(hou)度(du)。利用(yong)這(zhe)(zhe)一(yi)原(yuan)理制(zhi)成(cheng)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi),只要覆(fu)層與(yu)(yu)基材(cai)的(de)(de)導磁(ci)(ci)率之(zhi)(zhi)差足夠大(da),就(jiu)可進行測(ce)量(liang)。鑒于(yu)大(da)多數工業(ye)品采用(yong)結構(gou)鋼(gang)(gang)和熱軋冷軋鋼(gang)(gang)板(ban)沖壓(ya)成(cheng)型,所以磁(ci)(ci)性測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)應用(yong)廣。測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)基本結構(gou)由(you)磁(ci)(ci)鋼(gang)(gang),接力(li)簧,標尺及自停機(ji)構(gou)組成(cheng)。磁(ci)(ci)鋼(gang)(gang)與(yu)(yu)被測(ce)物吸(xi)合后,將測(ce)量(liang)簧在其后逐漸拉(la)(la)長(chang),拉(la)(la)力(li)逐漸增(zeng)大(da)。當拉(la)(la)力(li)剛(gang)好大(da)于(yu)吸(xi)力(li),磁(ci)(ci)鋼(gang)(gang)脫(tuo)離的(de)(de)一(yi)瞬(shun)間(jian)(jian)記(ji)錄下拉(la)(la)力(li)的(de)(de)大(da)小即可獲得覆(fu)層厚(hou)(hou)(hou)度(du)。新型的(de)(de)產品可以自動(dong)完成(cheng)這(zhe)(zhe)一(yi)記(ji)錄過程。不同(tong)(tong)的(de)(de)型號有不同(tong)(tong)的(de)(de)量(liang)程與(yu)(yu)適用(yong)場(chang)合。這(zhe)(zhe)種儀(yi)器的(de)(de)特點(dian)是操作簡便、堅(jian)固耐用(yong)、不用(yong)電源,測(ce)量(liang)前無須校準(zhun),價格(ge)也較低,很適合車間(jian)(jian)做現(xian)場(chang)質量(liang)控制(zhi)。

二. 磁感應測量原理鍍層厚度分析(xi)儀

采(cai)用(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)感應原(yuan)(yuan)理時,利(li)用(yong)(yong)(yong)(yong)從測(ce)(ce)(ce)頭經過非鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)覆(fu)層(ceng)而流入(ru)(ru)鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)基(ji)體(ti)(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)(da)(da)小(xiao)(xiao),來(lai)測(ce)(ce)(ce)定(ding)覆(fu)層(ceng)厚(hou)度(du)(du)。也(ye)可(ke)以(yi)(yi)測(ce)(ce)(ce)定(ding)與之對應的(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)阻的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)(da)(da)小(xiao)(xiao),來(lai)表示(shi)其(qi)覆(fu)層(ceng)厚(hou)度(du)(du)。覆(fu)層(ceng)越(yue)厚(hou),則(ze)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)阻越(yue)大(da)(da)(da),磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通越(yue)小(xiao)(xiao)。利(li)用(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)感應原(yuan)(yuan)理的(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀,原(yuan)(yuan)則(ze)上可(ke)以(yi)(yi)有(you)(you)導(dao)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)基(ji)體(ti)(ti)上的(de)(de)(de)(de)(de)非導(dao)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)覆(fu)層(ceng)厚(hou)度(du)(du)。一般要求(qiu)基(ji)材(cai)導(dao)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)率(lv)在500以(yi)(yi)上。如(ru)(ru)果覆(fu)層(ceng)材(cai)料(liao)也(ye)有(you)(you)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing),則(ze)要求(qiu)與基(ji)材(cai)的(de)(de)(de)(de)(de)導(dao)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)率(lv)之差足(zu)夠大(da)(da)(da)(如(ru)(ru)鋼上鍍鎳)。當軟(ruan)芯上繞(rao)著線圈的(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)頭放在被測(ce)(ce)(ce)樣(yang)本(ben)上時,儀器自動輸出測(ce)(ce)(ce)試(shi)電(dian)流或測(ce)(ce)(ce)試(shi)信號。早(zao)期的(de)(de)(de)(de)(de)產品(pin)采(cai)用(yong)(yong)(yong)(yong)指針式(shi)表頭,測(ce)(ce)(ce)量感應電(dian)動勢的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)(da)(da)小(xiao)(xiao),儀器將該信號放大(da)(da)(da)后來(lai)指示(shi)覆(fu)層(ceng)厚(hou)度(du)(du)。近年來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)路設計(ji)引入(ru)(ru)穩頻(pin)、鎖相、溫(wen)度(du)(du)補償等地(di)新(xin)技術,利(li)用(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)阻來(lai)調制測(ce)(ce)(ce)量信號。還采(cai)用(yong)(yong)(yong)(yong)設計(ji)的(de)(de)(de)(de)(de)集成(cheng)電(dian)路,引入(ru)(ru)微機(ji),使(shi)測(ce)(ce)(ce)量精度(du)(du)和重(zhong)現(xian)性(xing)有(you)(you)了大(da)(da)(da)幅度(du)(du)的(de)(de)(de)(de)(de)提(ti)高(gao)(幾(ji)乎達(da)一個(ge)數量級(ji))。現(xian)代的(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)感應測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀,分辨率(lv)達(da)到(dao)0.1um,允許誤差達(da)1%,量程達(da)10mm。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)原(yuan)(yuan)理測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀可(ke)應用(yong)(yong)(yong)(yong)來(lai)測(ce)(ce)(ce)量鋼鐵(tie)表面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)油(you)漆層(ceng),瓷、搪瓷防護層(ceng),塑料(liao)、橡膠覆(fu)層(ceng),包括鎳鉻在內的(de)(de)(de)(de)(de)各(ge)(ge)種有(you)(you)色金屬電(dian)鍍層(ceng),以(yi)(yi)及(ji)化工石(shi)油(you)待業的(de)(de)(de)(de)(de)各(ge)(ge)種防腐(fu)涂層(ceng)。

三(san). 電渦流測(ce)量(liang)原(yuan)理鍍層厚度分(fen)析儀

高(gao)頻交(jiao)流(liu)信號在(zai)測(ce)(ce)頭(tou)線圈中產生電(dian)(dian)磁場,測(ce)(ce)頭(tou)靠(kao)近導(dao)(dao)體(ti)時,就(jiu)在(zai)其中形成渦(wo)流(liu)。測(ce)(ce)頭(tou)離導(dao)(dao)電(dian)(dian)基(ji)(ji)體(ti)愈(yu)(yu)近,則渦(wo)流(liu)愈(yu)(yu)大,反射阻抗也(ye)愈(yu)(yu)大。這(zhe)個反饋(kui)作用(yong)(yong)量表(biao)征了(le)測(ce)(ce)頭(tou)與(yu)導(dao)(dao)電(dian)(dian)基(ji)(ji)體(ti)之(zhi)間距(ju)離的(de)(de)大小,也(ye)就(jiu)是導(dao)(dao)電(dian)(dian)基(ji)(ji)體(ti)上非(fei)(fei)導(dao)(dao)電(dian)(dian)覆層(ceng)厚度(du)(du)的(de)(de)大小。由于這(zhe)類測(ce)(ce)頭(tou)專門測(ce)(ce)量非(fei)(fei)鐵(tie)磁金(jin)(jin)屬基(ji)(ji)材(cai)上的(de)(de)覆層(ceng)厚度(du)(du),所以通常(chang)稱(cheng)之(zhi)為(wei)非(fei)(fei)磁性(xing)測(ce)(ce)頭(tou)。非(fei)(fei)磁性(xing)測(ce)(ce)頭(tou)采用(yong)(yong)高(gao)頻材(cai)料做線圈鐵(tie)芯,例如鉑(bo)鎳合金(jin)(jin)或其它新(xin)材(cai)料。與(yu)磁感應(ying)(ying)原理比較(jiao),主要區別是測(ce)(ce)頭(tou)不同,信號的(de)(de)頻率不同,信號的(de)(de)大小、標度(du)(du)關系不同。與(yu)磁感應(ying)(ying)測(ce)(ce)厚儀一樣(yang),渦(wo)流(liu)測(ce)(ce)厚儀也(ye)達到了(le)分辨率0.1um,允許(xu)誤(wu)差1%,量程10mm的(de)(de)高(gao)水(shui)平。

采用(yong)電(dian)渦流原理的(de)(de)(de)測厚(hou)儀,原則上(shang)對所(suo)有導(dao)電(dian)體(ti)上(shang)的(de)(de)(de)非導(dao)電(dian)體(ti)覆(fu)層(ceng)(ceng)均(jun)可測量,如(ru)航(hang)天(tian)航(hang)空器表面(mian)、車輛、家電(dian)、鋁合金門窗及(ji)其它鋁制品(pin)表面(mian)的(de)(de)(de)漆(qi),塑料涂(tu)層(ceng)(ceng)及(ji)陽極(ji)氧化膜。覆(fu)層(ceng)(ceng)材料有一定的(de)(de)(de)導(dao)電(dian)性,通過校準同樣也可測量,但(dan)(dan)要求兩者的(de)(de)(de)導(dao)電(dian)率(lv)之比至少相(xiang)差3-5倍(如(ru)銅上(shang)鍍(du)鉻)。雖然(ran)鋼鐵基體(ti)亦為(wei)導(dao)電(dian)體(ti),但(dan)(dan)這類(lei)任務還是采用(yong)磁(ci)性原理測量較為(wei)合適。

 

鍍層厚(hou)度(du)分析儀使用注意事項

1.儀器供電電壓必須(xu)與儀器銘牌上的(de)電壓一(yi)(yi)致。儀器必須(xu)使用三線插(cha)頭連到一(yi)(yi)個已接地的(de)插(cha)座上。

2.鍍層厚度(du)分析儀(yi)為(wei)精密儀(yi)器,建議配(pei)備高精度(du)的穩(wen)壓電源。計算機和(he)儀(yi)器應配(pei)備不間(jian)斷電源(UPS)。

3.鍍層厚度分析儀應(ying)特別(bie)注(zhu)意與存在電磁的場合隔(ge)離開(kai)來。

4.儀器適合在(zai)10~40℃(50~104℉)的環境(jing)溫(wen)度下操作使用(yong),在(zai)0~50℃(32~122℉)的溫(wen)度下存(cun)放。操作和存(cun)放的允許濕度范圍在(zai)0~65%之間(非冷凝)。在(zai)操作過程中,環境(jing)溫(wen)度和濕度應保持恒定。

5.儀器曝(pu)曬在陽光下(xia)時溫度(du)極易超過(guo)50℃。所以請不要在這樣的環(huan)境(jing)下(xia)操作和(he)存放儀器,以避免高溫對儀器造成(cheng)損害(hai)。

6.為避免短路,嚴(yan)禁儀(yi)(yi)器與(yu)液體直接接觸(chu)。如果液體進(jin)入儀(yi)(yi)器,請(qing)立刻關(guan)閉(bi)儀(yi)(yi)器并在(zai)重新使用前(qian)請(qing)技術人員檢查儀(yi)(yi)器。

7.鍍(du)層厚度(du)分析儀不(bu)能用于酸(suan)性環境和(he)易(yi)爆場合。

8.不要弄臟(zang)和刮擦元素片(pian)或調校(xiao)標準片(pian),否則會造成讀數錯(cuo)誤。

9.不要(yao)用(yong)(yong)任何機械(xie)或(huo)化(hua)學的(de)(de)方法清除(chu)元素片或(huo)調(diao)校標(biao)準片上的(de)(de)污物(wu)(wu)。如果必要(yao)的(de)(de)話,可以用(yong)(yong)一塊不起毛的(de)(de)布輕(qing)輕(qing)擦除(chu)臟物(wu)(wu)。

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