膜厚測試儀 性能優勢：

下(xia)照式(shi)設計(ji)：快速方便的定位(wei)各種形狀的樣品，滿足(zu)一切測試所需。

無損變焦檢測：擁有手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm。

微聚焦射(she)線裝置：可測試(shi)各微小的部件，小檢測面積可達0.002mm²。

高效率的接收器(qi)：在檢(jian)測0.01mm²以下的樣品時，幾秒鐘也可達到穩定性。

EFP*算法軟件：可檢測單鍍層，多鍍層，多元合金，甚至對于同(tong)種元素在(zai)不同(tong)層的厚度檢測也能分析，包括輕金屬鍍層，非金屬鍍層，達克羅，Nip鍍層測試，包括Ni與P的比例也均可檢測。

準直器(qi)和濾光片：多種(zhong)準直器(qi)和濾光片電動切換，滿(man)足各(ge)種(zhong)測(ce)試方式的應(ying)用。

新一代高(gao)壓電源(yuan)和X光管：性能穩定可靠，高(gao)達50W的(de)功率實現更(geng)高(gao)的(de)測試(shi)效率。

防護裝置(zhi)：恒壓恒流快門式光(guang)閘，擁有高壓電源(yuan)緊急(ji)自(zi)鎖功能，帶給您更安全的(de)防護。

膜厚測試儀 技術參數：

測(ce)量(liang)元素范圍：CI(17)-U(92)

涂(tu)鍍層(ceng)分析(xi)范圍：Li(3)-U(92)

分析軟件：EFP，可同(tong)時(shi)分析23層(ceng)鍍層(ceng)，24種元(yuan)素，不(bu)同(tong)層(ceng)有(you)相(xiang)同(tong)元(yuan)素和有(you)機(ji)物厚度也可分析

測(ce)試(shi)程式(shi)添(tian)加(jia)：1862條測(ce)試(shi)程式(shi)免費提供，也可編輯新(xin)程式(shi)

軟(ruan)件操(cao)作(zuo)：人性(xing)化(hua)封閉軟(ruan)件，自動提示校正和步驟，避(bi)免操(cao)作(zuo)錯誤(wu)

X射(she)(she)線(xian)裝(zhuang)置：升壓發(fa)射(she)(she)一體高(gao)分子聚合式W靶微聚焦(jiao)加強型射(she)(she)線(xian)管

接收(shou)器(qi)：日本東芝正比計數管，窗口面積≥150mm²

射線準直(zhi)系(xi)統(tong)：垂直(zhi)光路交換裝置搭配黃金準直(zhi)器(qi)

視頻觀(guan)測(ce)光(guang)路(lu)(lu)系統：垂直光(guang)路(lu)(lu)交換裝置(zhi)搭載(zai)100mm變焦鏡(jing)頭

測(ce)樣讀取開啟方(fang)式：恒壓(ya)恒流快門式光閘

濾光片：鋁、空、鎳

準直器：ø0.05mm；ø0.1mm；ø0.2mm；ø0.5mm；四準直器任(ren)選一種

近測距(ju)光斑(ban)擴散度(du)：10%

小測量面(mian)積：約(yue)0.002mm²

測量(liang)距離(li)：具有距離(li)補償功能(neng)，可改變測量(liang)距離(li)，能(neng)測量(liang)凹凸(tu)異形樣(yang)品，變焦距離(li)0-30mm

樣品觀察：1/2.5彩色(se)CCD，全局快門(men)，有效像素：1280*960，變焦功能

對焦方式：高敏感鏡(jing)頭（無需增(zeng)加其他輔助傳感器），手(shou)動對焦

放(fang)大(da)倍數：光(guang)學38-46X，數字放(fang)大(da)40-200倍

樣品臺尺寸：500mm*360mm

樣品可放置區(qu)(qu)域(yu)：480mm*320mm*205mm（C型開槽設計(ji)，特殊(shu)測試時可以超(chao)出區(qu)(qu)域(yu)放置樣品）

外部尺寸：550mm*780mm*475mm

電(dian)源：交流220V 50HZ  

功耗：大(da)120W（不包括計(ji)算機(ji)）

冷卻系統：對流通道過濾式風冷

保養升級模(mo)塊(kuai)：軟硬件模(mo)塊(kuai)化

環境要(yao)求：使用(yong)時溫(wen)度(du)：10℃-40℃ 存儲和運輸時溫(wen)度(du)：0℃-50℃ 空氣(qi)相對濕度(du)：≤80%

重量：約48KG

隨(sui)機(ji)標準片：十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu

其他附件：電腦一套、噴墨打(da)印機、附件箱