金屬電鍍(du)(du)層(ceng)膜(mo)厚分析儀(yi)(yi)：鍍(du)(du)層(ceng)膜(mo)厚是(shi)(shi)電鍍(du)(du)產品的重要(yao)技術指標(biao)，關系到產品的質量(liang)以及(ji)生產成本。 Thick800A鍍(du)(du)層(ceng)測(ce)厚儀(yi)(yi)是(shi)(shi)天瑞(rui)集多年的經驗，專門研發用于鍍(du)(du)層(ceng)行業(ye)的一款膜(mo)厚測(ce)試儀(yi)(yi)器，配備移動平臺，可全自動軟件(jian)操作，并進行多點測(ce)試，檢測(ce)結果更加精(jing)準(zhun)。
鍍層厚度(du)檢測(ce)(ce)儀(yi)，膜厚儀(yi)：Think600鍍層測(ce)(ce)厚儀(yi)使用(yong)高(gao)效而實用(yong)的(de)正比計(ji)數盒和(he)電制冷探測(ce)(ce)器，以實在的(de)價格定位滿(man)足(zu)鍍層厚度(du)測(ce)(ce)量的(de)要求，且全新的(de)更具有現代(dai)感的(de)外形、結構(gou)及色(se)彩設計(ji)，使儀(yi)器操作更人性化、更方(fang)便。
膜厚儀(yi)(yi)，鍍層測厚檢測儀(yi)(yi)：若一個電(dian)子由軌道游離(li)，則其他能(neng)(neng)(neng)階的(de)電(dian)子會自然的(de)跳(tiao)至(zhi)他的(de)位置，以達(da)到穩定的(de)狀(zhuang)態，此種不同(tong)(tong)能(neng)(neng)(neng)階轉(zhuan)換的(de)過(guo)程可釋放(fang)出(chu)能(neng)(neng)(neng)量(liang)，即X-射線(xian)。因為各元素的(de)每一個原(yuan)子的(de)能(neng)(neng)(neng)階均不同(tong)(tong)，所以每一元素軌道間(jian)的(de)能(neng)(neng)(neng)階差也(ye)不同(tong)(tong)相同(tong)(tong)。
金屬電鍍層(ceng)厚(hou)度(du)分析儀(yi)：鍍層(ceng)測厚(hou)儀(yi)是將X射(she)線(xian)照射(she)在(zai)樣品上(shang)，通過從樣品上(shang)反射(she)出來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)第(di)二次(ci)X射(she)線(xian)的(de)(de)(de)(de)強度(du)來(lai)(lai)。測量鍍層(ceng)等金屬薄(bo)膜的(de)(de)(de)(de)厚(hou)度(du)，因為沒有(you)(you)接觸(chu)到(dao)樣品且照射(she)在(zai)樣品上(shang)的(de)(de)(de)(de)X射(she)線(xian)只有(you)(you)45-75W左右(you)，所以不會對樣品造成損壞。同時(shi)，測量的(de)(de)(de)(de)也可以在(zai)10秒到(dao)幾分鐘內(nei)完成。測量的(de)(de)(de)(de)對象(xiang)包括涂層(ceng)、鍍層(ceng)、敷(fu)層(ceng)、貼層(ceng)、化學生(sheng)成膜等（在(zai)有(you)(you)關(guan)國家(jia)和標(biao)準中(zhong)稱為覆層(ceng)（coating））。
X射(she)線(xian)(xian)無損(sun)鍍層(ceng)厚(hou)度測(ce)試儀：X射(she)線(xian)(xian)熒光(guang)(guang)就是(shi)被(bei)分(fen)析(xi)樣品(pin)在(zai)(zai)(zai)X射(she)線(xian)(xian)照射(she)下發出的X射(she)線(xian)(xian)，它(ta)包含(han)(han)了被(bei)分(fen)析(xi)樣品(pin)化(hua)學組成(cheng)的信息，通過對X射(she)線(xian)(xian)熒光(guang)(guang)的分(fen)析(xi)確定被(bei)測(ce)樣品(pin)中各組分(fen)含(han)(han)量的儀器就是(shi)X射(she)線(xian)(xian)熒光(guang)(guang)分(fen)析(xi)儀。由原(yuan)子(zi)物理學的知識(shi)，對每(mei)一種化(hua)學元素的原(yuan)子(zi)來說，都(dou)有其(qi)特定的能級結構，其(qi)核(he)外(wai)電子(zi)都(dou)以其(qi)*的能量在(zai)(zai)(zai)各自的固定軌道(dao)上運行。內層(ceng)電子(zi)在(zai)(zai)(zai)足夠能量的X射(she)線(xian)(xian)照射(she)下脫離原(yuan)子(zi)的束縛，成(cheng)為自由電子(zi)，這時原(yuan)子(zi)被(bei)激發了，
無(wu)損電鍍(du)層(ceng)厚度測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)：鍍(du)鎳(nie)器(qi)件(jian)是比較(jiao)常(chang)見的(de)電鍍(du)器(qi)件(jian)，其鎳(nie)鍍(du)層(ceng)在保護銅基體(ti)免(mian)受(shou)氧化同時還(huan)能起到美觀的(de)作用。這里以測(ce)(ce)試(shi)客戶的(de)一(yi)件(jian)銅鍍(du)鎳(nie)樣(yang)品(pin)為例(li)說明此款儀(yi)器(qi)的(de)測(ce)(ce)試(shi)效果。
鍍層(ceng)厚(hou)度(du)(du)測(ce)試(shi)(shi)儀，測(ce)厚(hou)儀:滿足各(ge)種不(bu)同(tong)厚(hou)度(du)(du)樣(yang)品(pin)以及不(bu)規則表面樣(yang)品(pin)的(de)測(ce)試(shi)(shi)需(xu)求、φ0.1mm的(de)小(xiao)孔(kong)準直器可(ke)以滿足微小(xiao)測(ce)試(shi)(shi)點(dian)(dian)的(de)需(xu)求、高(gao)(gao)精度(du)(du)移動(dong)平臺(tai)可(ke)定位(wei)測(ce)試(shi)(shi)點(dian)(dian)，重復定位(wei)精度(du)(du)小(xiao)于(yu)0.005mm、采用高(gao)(gao)度(du)(du)定位(wei)激光(guang)，可(ke)自(zi)動(dong)定位(wei)測(ce)試(shi)(shi)高(gao)(gao)度(du)(du)、定位(wei)激光(guang)確定定位(wei)光(guang)斑，確保測(ce)試(shi)(shi)點(dian)(dian)與光(guang)斑對齊、鼠標可(ke)控制移動(dong)平臺(tai)，鼠標點(dian)(dian)擊的(de)位(wei)置就是被測(ce)點(dian)(dian)、高(gao)(gao)分辨(bian)率探頭(tou)使分析(xi)結果更加(jia)精準、良好的(de)射線屏蔽作用、測(ce)試(shi)(shi)口(kou)高(gao)(gao)度(du)(du)敏感性傳感器保護
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