X射線鍍層(ceng)(ceng)厚(hou)度(du)檢(jian)測儀,膜厚(hou)儀: Thick 8000 鍍層(ceng)(ceng)測厚(hou)儀是專門針對(dui)鍍層(ceng)(ceng)厚(hou)度(du)測量(liang)而精心(xin)設計的一款新型儀器。主要應用于:金屬鍍層(ceng)(ceng)的厚(hou)度(du)測量(liang)、電鍍液和(he)鍍層(ceng)(ceng)含量(liang)的測定;黃金、鉑、銀等貴(gui)金屬和(he)各種首飾的含量(liang)檢(jian)測。
天瑞(rui)Thick800A,Thick600,Thick8000,,EDX1800BS,EDX1800B系列產品是天瑞(rui)集多年鍍(du)層行(xing)(xing)業的經驗,專門研發用于鍍(du)層行(xing)(xing)業的多款(kuan)儀(yi)器(qi)(qi),可全自動軟件(jian)操作,可多點測(ce)試,由軟件(jian)控制儀(yi)器(qi)(qi)的測(ce)試點,以及(ji)移動平臺。天瑞(rui)鍍(du)層測(ce)厚(hou)儀(yi)功能強(qiang)大,配(pei)上專門為(wei)其(qi)開發的軟件(jian),在鍍(du)層行(xing)(xing)業中可謂大展身手。江蘇天瑞(rui)儀(yi)器(qi)(qi)股份有限公司(si)是專業生產光譜(pu)、色(se)譜(pu)、質譜(pu)等(deng)分(fen)析測(ce)試儀(yi)器(qi)(qi)及(ji)其(qi)軟件(jian)的研發、生產和銷售一體型企業。 2011年1月25日(ri),天瑞(rui)儀(yi)器(qi)(qi)在深圳(zhen)創業板(ban)塊(kuai)上市。股票代(dai)碼為(wei)300165。
Thick 8000 鍍(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀是(shi)專門針對鍍(du)層(ceng)厚(hou)度測(ce)量(liang)而精心(xin)設計的(de)(de)一款(kuan)新(xin)型高端(duan)儀器。主要應用于(yu):金屬(shu)鍍(du)層(ceng)的(de)(de)厚(hou)度測(ce)量(liang)、電鍍(du)液和(he)鍍(du)層(ceng)含(han)量(liang)的(de)(de)測(ce)定;黃金、鉑、銀等貴金屬(shu)和(he)各種首飾的(de)(de)含(han)量(liang)檢測(ce)。
X射線鍍層厚度檢測儀,膜厚儀性能優勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟(ruan)件界面測試(shi)按鈕,自動完成測試(shi)并顯(xian)示測試(shi)結果
X射線鍍層厚度檢測儀,膜厚儀技術指標
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術,最小孔徑達0.1mm,最小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作環境溫(wen)度 15℃~30℃