鍍(du)層厚(hou)度(du)分析儀(yi)(yi)，電鍍(du)層測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi) X射線(xian)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)原理是根據X射線(xian)穿(chuan)透被測(ce)(ce)(ce)物時(shi)的(de)(de)強度(du)衰(shuai)減(jian)來進行轉換(huan)測(ce)(ce)(ce)量厚(hou)度(du)的(de)(de)，即測(ce)(ce)(ce)量被測(ce)(ce)(ce)鋼(gang)板(ban)所吸收(shou)(shou)的(de)(de)X射線(xian)量，根據該(gai)X射線(xian)的(de)(de)能量值，確定被測(ce)(ce)(ce)件的(de)(de)厚(hou)度(du)。由X射線(xian)探(tan)測(ce)(ce)(ce)頭將接收(shou)(shou)到的(de)(de)信號轉換(huan)為(wei)電信號，經過前置放(fang)大器放(fang)大，再由測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)操作(zuo)系(xi)統轉換(huan)為(wei)顯示給人們以直(zhi)觀的(de)(de)實(shi)際厚(hou)度(du)信號。
X射線(xian)測(ce)厚(hou)儀原理是根據X射線穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。
X射線源輻射強度的大小，與X射線管的發射強度和被測鋼板所吸收的X射線強度相關。一個在系統量程范圍內的給定厚度，為了確定其所需的X射線能量值，可利用M215型X射線檢測儀進行校準。在檢測任一特殊厚度時，系統將設定X射線的能量值，使檢測能夠順利完成。
在厚度一定的情況下，X射線的能量值為常量。當安全快門打開，X射線將從X射線源和探頭之間的被測鋼板中通過，被測鋼板將一部分能量吸收，剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收，探頭將所接收的X射線轉換為與之大小相關的輸出電壓。如果改變被測鋼板的厚度，則所吸收的X射線量也將改變，這將使探頭所接收的X射線量發生變化，檢測信號也隨之發生相應的變化。射線測厚儀按射線源的種類可分為X射線測厚儀與核輻射線測厚儀兩類，而后者又可多r射線測厚儀與 射線測厚儀。按射線與被測板材的作用方式，又可分為穿透式和反射式。
鍍層厚度分析儀，電鍍層測厚儀性能特點
滿足各種不同厚度樣品(pin)以及不規(gui)則表面(mian)樣品(pin)的(de)測試需求(qiu)
φ0.1mm的小孔準(zhun)直器可以滿(man)足微小測試點的需求
高精(jing)度(du)移(yi)動平臺可定(ding)(ding)位(wei)測試點，重復(fu)定(ding)(ding)位(wei)精(jing)度(du)小于0.005mm
采用(yong)高度定(ding)位激光，可(ke)自(zi)動定(ding)位測試高度
定(ding)位(wei)激光(guang)確定(ding)定(ding)位(wei)光(guang)斑，確保測試點(dian)與光(guang)斑對齊
鼠(shu)標(biao)可(ke)控制移動平(ping)臺(tai)，鼠(shu)標(biao)點擊的位置就是(shi)被測點
高分辨(bian)率探頭使分析結果更加精準
良好的(de)射線(xian)屏(ping)蔽作(zuo)用
測(ce)試口高(gao)度敏感性傳感器保護
型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上(shang)元素，五(wu)層鍍層。
分(fen)析含量(liang)一般為ppm到(dao)99.9% 。
鍍層厚度一(yi)般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多(duo)個可選擇的分(fen)析和識別(bie)模型(xing)。
相互(hu)獨立的基體(ti)效(xiao)應校正模(mo)型。
多(duo)變(bian)量(liang)非線性(xing)回收程序
度適應范(fan)圍(wei)為(wei)15℃至30℃。
電(dian)源: 交(jiao)流220V±5V, 建議配置交(jiao)流凈化(hua)穩壓電(dian)源。
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