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電鍍層厚度測厚儀

電鍍層厚度測厚儀

簡要描述:

電鍍層厚度測厚儀
: Thick 8000 鍍(du)層測(ce)厚儀(yi)是專門針對鍍(du)層厚度測(ce)量而精心(xin)設計的(de)一款新型儀(yi)器。主(zhu)要應用于:金(jin)屬鍍(du)層的(de)厚度測(ce)量、電鍍(du)液(ye)和鍍(du)層含量的(de)測(ce)定;黃金(jin)、鉑、銀等貴金(jin)屬和各種(zhong)首飾的(de)含量檢測(ce)。

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  • 企業類型:制造商
  • 新舊程度:
  • 原產地:江蘇昆山
  • 環境溫度:15℃-30℃
  • 管流:50μA-1000μA
  • 儀器重量:75KG
  • 元素分析:硫(S)到鈾(U)
  • 精度:0.005mm

光譜分析儀的優點

1.采樣方式靈活,對于(yu)稀有(you)和貴重金(jin)屬的檢測和分析可以節(jie)約(yue)取(qu)樣帶來的損(sun)耗(hao)。

2.測試速率(lv)高,可設定多(duo)(duo)通(tong)道瞬(shun)間(jian)多(duo)(duo)點(dian)采集,并(bing)通(tong)過計算器(qi)實時輸出。

3.對于(yu)一些機械零件(jian)可以做到無損檢(jian)測,而不破壞樣品,便于(yu)進行無損檢(jian)測。

4.分析(xi)速度較快(kuai),比(bi)較適(shi)用做(zuo)爐前分析(xi)或現場(chang)分析(xi),從而達(da)到快(kuai)速檢(jian)測。

5.分析結果的準確性是建立在化學分析標樣(yang)的基(ji)礎上。

光譜分析儀的缺點

1.對(dui)于(yu)非金屬和界于(yu)金屬和非金屬之間的元素很難做(zuo)到準確(que)檢(jian)測。

2.不(bu)(bu)是(shi)原始方法(fa),不(bu)(bu)能(neng)作為(wei)仲(zhong)裁分(fen)析方法(fa),檢測結果不(bu)(bu)能(neng)做為(wei)國家認證依(yi)據(ju)。

3.受各企(qi)業(ye)產品相對壟(long)斷的因素,購買和維護成本都(dou)比較高,性價比較低。

4.需要(yao)大量代表性樣品進行(xing)化學(xue)分析建(jian)模,對于(yu)小批量樣品檢測顯然不切實際(ji)。

5.模型(xing)需要不斷更(geng)新,在儀器發生變(bian)化(hua)或者標準(zhun)樣品發生變(bian)化(hua)時,模型(xing)也要變(bian)化(hua)。

6.建模成本很高,測試成本也就(jiu)比較大(da)了,當然對于大(da)量樣品檢測時,測試成本會下(xia)降。

7.易受(shou)光學系統參數(shu)等(deng)外部或內部因素影(ying)響(xiang),經(jing)常出現曲線非(fei)線性問(wen)題,對檢測結(jie)果(guo)的準確(que)度影(ying)響(xiang)較大(da)。

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天瑞(rui)(rui)(rui)Thick800A,Thick600,Thick8000,,EDX1800BS,EDX1800B系列產品是(shi)天瑞(rui)(rui)(rui)集多年鍍層(ceng)行(xing)業的(de)經(jing)驗,專(zhuan)門(men)研(yan)發(fa)用于鍍層(ceng)行(xing)業的(de)多款儀(yi)(yi)(yi)器(qi),可(ke)全自動(dong)(dong)軟件(jian)(jian)操作,可(ke)多點測(ce)(ce)試,由軟件(jian)(jian)控制儀(yi)(yi)(yi)器(qi)的(de)測(ce)(ce)試點,以及(ji)移(yi)動(dong)(dong)平臺(tai)。天瑞(rui)(rui)(rui)鍍層(ceng)測(ce)(ce)厚儀(yi)(yi)(yi)功能(neng)強大,配上專(zhuan)門(men)為(wei)其(qi)開發(fa)的(de)軟件(jian)(jian),在鍍層(ceng)行(xing)業中可(ke)謂大展身手。江蘇天瑞(rui)(rui)(rui)儀(yi)(yi)(yi)器(qi)股份有限公司是(shi)專(zhuan)業生產光譜、色譜、質譜等分析測(ce)(ce)試儀(yi)(yi)(yi)器(qi)及(ji)其(qi)軟件(jian)(jian)的(de)研(yan)發(fa)、生產和銷(xiao)售一(yi)體型(xing)企業。 2011年1月25日,天瑞(rui)(rui)(rui)儀(yi)(yi)(yi)器(qi)在深圳(zhen)創業板塊上市。股票代碼(ma)為(wei)300165。

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  Thick 8000 鍍(du)層測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)是專門針對鍍(du)層厚(hou)(hou)度測(ce)量(liang)而精心設計的(de)一款新型(xing)高端儀(yi)器。主(zhu)要應用于:金屬鍍(du)層的(de)厚(hou)(hou)度測(ce)量(liang)、電鍍(du)液和鍍(du)層含量(liang)的(de)測(ce)定;黃金、鉑(bo)、銀等(deng)貴金屬和各種(zhong)首飾的(de)含量(liang)檢(jian)測(ce)。

電鍍層厚度測厚儀性能優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣 
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點(dian)擊軟(ruan)件界面測試按(an)鈕,自動(dong)完成測試并顯示(shi)測試結果

電鍍層厚度測厚儀技術指標

分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U) 
同時檢測元素:24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術,最小孔徑達0.1mm,最小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作環境(jing)溫度 15℃~30℃

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