Skyray金屬電鍍(du)層膜厚(hou)分析儀(yi):Thick800A是天瑞集多年的(de)(de)經驗,專門研(yan)發用(yong)于(yu)鍍(du)層行(xing)業的(de)(de)一(yi)款(kuan)儀(yi)器,可全自動(dong)軟(ruan)(ruan)件操作(zuo),可多點測試(shi)(shi),由軟(ruan)(ruan)件控制儀(yi)器的(de)(de)測試(shi)(shi)點,以(yi)及移動(dong)平臺(tai)。是一(yi)款(kuan)功能(neng)強大的(de)(de)儀(yi)器,配上專門為其開發的(de)(de)軟(ruan)(ruan)件,在(zai)鍍(du)層行(xing)業中可謂(wei)大展身手。
Skyray金屬電鍍層膜厚分析儀,Thick800A技術參數
由江蘇(su)天(tian)瑞儀器(qi)股份(fen)有(you)限(xian)公(gong)司生(sheng)產銷售;江蘇(su)天(tian)瑞儀器(qi)股份(fen)有(you)限(xian)公(gong)司為一家專業研發生(sheng)產儀器(qi)的上市企業,也(ye)是國(guo)內的實(shi)驗(yan)室儀器(qi)生(sheng)產商.
Thick800A
1、儀器概述
鍍層(ceng)(ceng)膜厚(hou)是電鍍產(chan)品的重要技術指標,關系到產(chan)品的質量(liang)以及生產(chan)成本(ben)。 Thick800A鍍層(ceng)(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)是天瑞集多年(nian)的經驗,專門研(yan)發用(yong)于鍍層(ceng)(ceng)行業的一(yi)款(kuan)膜厚(hou)測(ce)(ce)試儀(yi)器,配備移動(dong)平臺,可(ke)全自動(dong)軟件操(cao)作,并進行多點測(ce)(ce)試,檢測(ce)(ce)結果(guo)更加精準(zhun)。
2、性能優勢
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點,重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏(min)感(gan)性傳感(gan)器保護
3、Skyray金屬電鍍層膜厚分析儀技術指標
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)中間的任意金屬鍍層
一次可同時分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
長期工作穩定性高
度適應范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
儀器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg
4、測試實例
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀(yi)器對銅(tong)鍍(du)鎳樣品實際測(ce)試(shi)Ni層(ceng)厚度,七次的(de)結果其(qi)標(biao)準偏差和(he)相對標(biao)準偏差。且可在(zai)樣品上進行定位測(ce)試(shi),其(qi)測(ce)試(shi)位置如(ru)圖。
銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖
樣 品 名 | 成分Ni(%) | 鍍層Ni(um) |
吊扣 | 100 | 19.321 |
吊扣2# | 100 | 19.665 |
吊扣3# | 100 | 18.846 |
吊扣4# | 100 | 19.302 |
吊扣5# | 100 | 18.971 |
吊扣6# | 100 | 19.031 |
吊扣7# | 100 | 19.146 |
平均值 | 100 | 19.18314 |
標準偏差 | 0 | 0.273409 |
相對標準偏差 | 0 | 1.425257 |
銅鍍鎳件測試值
結論
實驗表明,使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試(shi),結果(guo)(guo)準確(que)度(du)高(gao),速度(du)快(幾十秒),其測試(shi)效果(guo)(guo)*可以和顯微鏡測試(shi)法媲美。
儀器介紹
Thick800A是(shi)天瑞集多(duo)年(nian)的(de)(de)經(jing)驗,專(zhuan)(zhuan)門研(yan)發用(yong)于鍍(du)層行業(ye)(ye)的(de)(de)一款儀(yi)器(qi)(qi),可全(quan)自動(dong)軟(ruan)(ruan)件操作(zuo),可多(duo)點測(ce)試,由軟(ruan)(ruan)件控(kong)制儀(yi)器(qi)(qi)的(de)(de)測(ce)試點,以及移動(dong)平臺。是(shi)一款功能強大的(de)(de)儀(yi)器(qi)(qi),配上專(zhuan)(zhuan)門為其開發的(de)(de)軟(ruan)(ruan)件,在(zai)鍍(du)層行業(ye)(ye)中(zhong)可謂(wei)大展(zhan)身(shen)手。
性能特點
滿(man)足各種不同厚度樣品以(yi)及不規則(ze)表面樣品的測試需求(qiu)
φ0.1mm的小(xiao)(xiao)孔準直(zhi)器可以滿足微(wei)小(xiao)(xiao)測試(shi)點(dian)的需求
高精(jing)度移動平臺可(ke)定位測試點,重復定位精(jing)度小于0.005mm
采(cai)用高度定位激光,可自動定位測(ce)試高度
定位激光確(que)定定位光斑,確(que)保測試點與光斑對(dui)齊
鼠標可控制(zhi)移動平臺,鼠標點(dian)擊(ji)的(de)位置就是被測點(dian)
高分辨率探頭使分析結果(guo)更(geng)加精(jing)準
良好的射(she)線(xian)屏蔽作用
測(ce)試(shi)口高度敏(min)感性傳感器保(bao)護
技術指標
型號:Thick 800A
元素(su)分析(xi)范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析(xi)30種(zhong)以上元素,五層鍍(du)層。
分(fen)析含量一(yi)般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(每種(zhong)材(cai)料有所不(bu)同)
任意多個可選擇的(de)分析和識(shi)別模型。
相(xiang)互獨立的基體效應校正模型。
多(duo)變量(liang)非線性回(hui)收程序
度適應(ying)范圍為15℃至30℃。
電源(yuan): 交流220V±5V, 建(jian)議配置交流凈化穩壓電源(yuan)。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺(chi)寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
標準配(pei)置
開放式(shi)樣品(pin)腔。
精密二維移動樣品平臺(tai),探測器和X光管上下可動,實(shi)現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩(zhao)。
Si-Pin探測(ce)器。
信(xin)號檢測電(dian)子電(dian)路。
高低壓(ya)電(dian)源。
X光管(guan)。
高度傳感器
保護傳感器
計算機(ji)及噴墨打印機(ji)
X應用(yong)領域(yu)
黃(huang)金,鉑(bo),銀(yin)等貴金屬(shu)和各種首(shou)飾的含量(liang)檢測.
金屬鍍層(ceng)的厚度測量, 電鍍液和鍍層(ceng)含量的測定(ding)。
主(zhu)要用于貴金屬加工(gong)和首(shou)飾加工(gong)行業;銀(yin)行,首(shou)飾銷售和檢(jian)測機構(gou);電鍍(du)行業。
公司介紹
江蘇(su)(su)(su)天瑞(rui)儀器(qi)股份(fen)有(you)(you)限公(gong)司是專(zhuan)業(ye)(ye)生產光(guang)譜、色(se)譜、質譜等分(fen)(fen)析(xi)(xi)測(ce)試儀器(qi)及其軟(ruan)件(jian)的(de)研(yan)發、生產和(he)銷售一(yi)體型企(qi)業(ye)(ye)。 2011年(nian)1月25日,天瑞(rui)儀器(qi)在深圳(zhen)創業(ye)(ye)板塊上(shang)市(shi)。股票代碼為300165。分(fen)(fen)析(xi)(xi)儀器(qi)行(xing)業(ye)(ye)的(de)家(jia)也是目前(qian)一(yi)家(jia)上(shang)市(shi)公(gong)司。公(gong)司擁有(you)(you)X熒光(guang)分(fen)(fen)析(xi)(xi)技(ji)(ji)術(shu)領域的(de)專(zhuan)家(jia)隊伍,具有(you)(you)雄(xiong)厚的(de)資金勢力、的(de)技(ji)(ji)術(shu)水平、服務標準(zhun)和(he)*的(de)管(guan)理(li)模式。同時,公(gong)司與國內外(wai)相關領域的(de)專(zhuan)業(ye)(ye)研(yan)究(jiu)院所和(he)企(qi)業(ye)(ye)保持著密切的(de)合作關系,實(shi)時追蹤國際(ji)X熒光(guang)分(fen)(fen)析(xi)(xi)領域前(qian)沿的(de)理(li)論(lun)和(he)技(ji)(ji)術(shu)。目前(qian)公(gong)司已被授(shou)予“國家(jia)民營科技(ji)(ji)企(qi)業(ye)(ye)”、“江蘇(su)(su)(su)省(sheng)技(ji)(ji)術(shu)企(qi)業(ye)(ye)”、“蘇(su)(su)(su)州市(shi)分(fen)(fen)析(xi)(xi)儀器(qi)工程技(ji)(ji)術(shu)研(yan)究(jiu)中心”、 “江蘇(su)(su)(su)省(sheng)昆山市(shi)企(qi)業(ye)(ye)技(ji)(ji)術(shu)中心”