鍍層檢測儀:Thick800A是(shi)天瑞集多年(nian)的經驗,專門研發用(yong)于鍍層行業的一款(kuan)儀器(qi),可全自(zi)動軟件(jian)操作(zuo),可多點測試(shi),由軟件(jian)控(kong)制儀器(qi)的測試(shi)點,以及移動平臺(tai)。是(shi)一款(kuan)功能(neng)強(qiang)大的儀器(qi),配上(shang)專門為其開發的軟件(jian),在(zai)鍍層行業中可謂大展(zhan)身手。
鍍層檢測儀
電(dian)(dian)鍍(du)是國民經(jing)濟中(zhong)(zhong)必不(bu)可(ke)少(shao)的(de)基(ji)礎工藝性行(xing)業(ye)(ye),同時(shi)又是重(zhong)(zhong)(zhong)污染行(xing)業(ye)(ye)。電(dian)(dian)鍍(du)所(suo)帶來(lai)的(de)廢(fei)氣(qi)、廢(fei)水、廢(fei)渣嚴重(zhong)(zhong)(zhong)地(di)影響(xiang)人們的(de)生活與健康。要提高(gao)電(dian)(dian)鍍(du)企業(ye)(ye)的(de)實(shi)力就必須從企業(ye)(ye)的(de)硬件著手。而內(nei)部管控測(ce)(ce)(ce)試(shi)是必不(bu)可(ke)少(shao)的(de)環節,其中(zhong)(zhong)產(chan)品(pin)膜(mo)厚檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)、RoHS有(you)(you)害元素檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)、電(dian)(dian)鍍(du)液分析、電(dian)(dian)鍍(du)工業(ye)(ye)廢(fei)水、廢(fei)渣中(zhong)(zhong)的(de)重(zhong)(zhong)(zhong)金屬檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)和(he)水質在線檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)等更是重(zhong)(zhong)(zhong)中(zhong)(zhong)之重(zhong)(zhong)(zhong)。為此江蘇天瑞儀(yi)器股份有(you)(you)限公(gong)司基(ji)于強大的(de)研發(fa)和(he)應(ying)用能(neng)力特(te)別為電(dian)(dian)鍍(du)行(xing)業(ye)(ye)制定了一套有(you)(you)效的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)解決(jue)方案。
鍍層膜厚檢測:有效進行鍍層厚度的產品質量管控
電鍍液分析:檢測電鍍液成分及濃度,確保鍍層質量
水質在線監測:有效監測電鍍所產生的工業廢水中的有害物質含量,已達到排放標準
重(zhong)金屬(shu)及槽(cao)液雜(za)質檢測:有(you)效檢測電鍍成品(pin),以及由電鍍所產生的(de)(de)工(gong)業廢水(shui)、廢物(wu)中的(de)(de)重(zhong)金屬(shu)含(han)量(liang)
1、鍍層檢測儀儀器概述
儀器介紹
Thick800A是天瑞集多年的(de)(de)經驗,專門研發(fa)用于鍍層行(xing)業的(de)(de)一款(kuan)(kuan)儀器,可(ke)全自動軟(ruan)件(jian)操作,可(ke)多點測試,由軟(ruan)件(jian)控制儀器的(de)(de)測試點,以及(ji)移(yi)動平臺。是一款(kuan)(kuan)功能強大的(de)(de)儀器,配上專門為其開發(fa)的(de)(de)軟(ruan)件(jian),在鍍層行(xing)業中可(ke)謂(wei)大展(zhan)身手(shou)。
2、性能優勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測(ce)(ce)試(shi)(shi)按鈕,自動完成(cheng)測(ce)(ce)試(shi)(shi)并顯示測(ce)(ce)試(shi)(shi)結果
3、技術指標
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作環境溫度 15℃~30℃
4、測試實例
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器(qi)對銅鍍(du)鎳樣品實際測試Ni層厚度,七次的結果其標準偏(pian)差和(he)相對標準偏(pian)差。且可在樣品上進行定(ding)位測試,其測試位置如圖(tu)。
銅鍍鎳件X射線熒光測(ce)試(shi)譜(pu)圖(tu)
樣 品 名 | 成分Ni(%) | 鍍層Ni(um) |
吊扣 | 100 | 19.321 |
吊扣2# | 100 | 19.665 |
吊扣3# | 100 | 18.846 |
吊扣4# | 100 | 19.302 |
吊扣5# | 100 | 18.971 |
吊扣6# | 100 | 19.031 |
吊扣7# | 100 | 19.146 |
平均值 | 100 | 19.18314 |
標準偏差 | 0 | 0.273409 |
相對標準偏差 | 0 | 1.425257 |
銅鍍鎳件測試值
結論
實(shi)驗表明(ming),使(shi)用Thick800A 儀器對(dui)鍍件膜厚測(ce)試,結果(guo)(guo)準(zhun)確度高,速(su)度快(幾十秒),其測(ce)試效果(guo)(guo)*可以(yi)和顯微鏡測(ce)試法媲美(mei)。
Thick 8000 鍍層測厚儀
1、儀器概述
Thick 8000 鍍(du)層測(ce)厚儀(yi)是專門針對(dui)鍍(du)層厚度(du)測(ce)量(liang)(liang)而精(jing)心設(she)計的一(yi)款新型高端儀(yi)器。主要應用于:金屬(shu)鍍(du)層的厚度(du)測(ce)量(liang)(liang)、電鍍(du)液(ye)和鍍(du)層含量(liang)(liang)的測(ce)定;黃金、鉑、銀等貴(gui)金屬(shu)和各種(zhong)首飾(shi)的含量(liang)(liang)檢測(ce)。
2、性能優勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試(shi)按(an)鈕(niu),自動(dong)完(wan)成測試(shi)并顯示測試(shi)結果
3、技術指標
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操(cao)作環境(jing)溫(wen)度 15℃~30℃
4、測試實例
在保證計數率的情況下能有效(xiao)分辨相近(jin)元素,大大提(ti)高(gao)測試穩定性、降低(di)檢測限。
11次(ci)測量結(jie)果(Au-Cu)的穩定(ding)性數據對(dui)比(bi)如(ru)下:
次數 | Thick8000 | 行業內其他儀器 |
1 | 0.042 | 0.0481 |
2 | 0.043 | 0.0459 |
3 | 0.043 | 0.0461 |
4 | 0.0412 | 0.0432 |
5 | 0.0429 | 0.0458 |
6 | 0.0436 | 0.0458 |
7 | 0.0427 | 0.0483 |
8 | 0.0425 | 0.045 |
9 | 0.0416 | 0.0455 |
10 | 0.0432 | 0.0485 |
11 | 0.0422 | 0.043 |
平均值 | 0.0425 | 0.0459 |
標準偏差 | 0.0007 | 0.0019 |
相對標準偏差 | 1.70% | 4.03% |
極差 | 0.0024 | 0.0055 |
(1)、對鍍(du)層膜厚(hou)檢測、電鍍(du)液分析可精準分析;
(2)重金屬檢(jian)(jian)測、槽液雜質檢(jian)(jian)測、水(shui)質在線監(jian)測可進(jin)行(xing)快(kuai)速檢(jian)(jian)測,檢(jian)(jian)測環(huan)境里的(de)重金屬是否超標。
同時具有以下特點
快速:1分鐘(zhong)就可以測定樣品鍍(du)層的厚度,并達到測量(liang)精(jing)度要求(qiu)。
方便(bian):X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上(shang)*的電制冷(leng)半導體(ti)探測器(qi),能量分辨率更優于135eV,測試精(jing)度(du)更高。并且不(bu)用液氮制冷(leng),不(bu)用定(ding)期補充(chong)液氮,操作(zuo)使用更加方便(bian),并且運行成本比同類的其他產(chan)品更低。
無損:測試(shi)前后,樣品無任何形式的變化(hua)。
直(zhi)觀:實時譜圖,可直(zhi)觀顯示(shi)元素含量。
測(ce)試(shi)范(fan)圍(wei)廣(guang):X熒光(guang)光(guang)譜儀,是一種物(wu)理分(fen)析(xi)方法,其分(fen)析(xi)與樣品的化學結合(he)狀態無(wu)關。對在化學性質上屬(shu)同(tong)一族的元素也(ye)能進行分(fen)析(xi),抽真空(kong)可以測(ce)試(shi)從(cong)Na到(dao)U。
可靠性高:由于測試過程無人為(wei)因素干擾,儀(yi)器(qi)自身分(fen)析精(jing)度、重復性與穩定性很(hen)高。所以,其測量的(de)可靠性更高。
滿(man)足不同(tong)(tong)需(xu)求:測(ce)試(shi)軟(ruan)件為WINDOWS操(cao)作(zuo)系統軟(ruan)件,操(cao)作(zuo)方便、功(gong)能強大,軟(ruan)件可監控(kong)儀器狀(zhuang)態,設(she)定(ding)儀器參數,并就有多種(zhong)*的分析(xi)方法(fa),工作(zuo)曲線制作(zuo)方法(fa)靈活多樣,方便滿(man)足不同(tong)(tong)客戶不同(tong)(tong)樣品的測(ce)試(shi)需(xu)要。
性(xing)價比(bi)高:相比(bi)化學分(fen)析類儀器,X熒光(guang)光(guang)譜儀在(zai)總體使用成(cheng)本上有優(you)勢的,可以讓更(geng)多的企業和廠家接(jie)受。
簡易:對人(ren)員技術要求較(jiao)低,操作簡單(dan)方便,并且(qie)維(wei)護(hu)簡單(dan)方便。