天瑞(rui)儀器作(zuo)為一個集儀器研發(fa)、系統設計(ji)、產(chan)品生產(chan)、服(fu)(fu)務提(ti)供(gong)為一身的綜合性儀器供(gong)應(ying)廠(chang)商，一直以來嚴格遵循“360°優(you)質服(fu)(fu)務”的客(ke)戶(hu)服(fu)(fu)務理念，以提(ti)高顧客(ke)滿意(yi)度為根本目標，從服(fu)(fu)務力(li)量(liang)、服(fu)(fu)務流程、服(fu)(fu)務內容等各(ge)個方面為客(ke)戶(hu)提(ti)供(gong)*的優(you)質服(fu)(fu)務。

• 企業類型：制造商
• 新舊程度：全新
• 原產地：江蘇

產品介紹

電鍍層檢測儀器

電(dian)鍍(du)是(shi)(shi)國民經(jing)濟中(zhong)必(bi)不(bu)可(ke)少的(de)(de)基(ji)礎(chu)工藝性(xing)行(xing)業(ye)，同時又(you)是(shi)(shi)重(zhong)污染行(xing)業(ye)。電(dian)鍍(du)所(suo)帶來的(de)(de)廢(fei)氣、廢(fei)水、廢(fei)渣嚴重(zhong)地影(ying)響人們(men)的(de)(de)生(sheng)活與健(jian)康。要提(ti)高電(dian)鍍(du)企業(ye)的(de)(de)實力就必(bi)須(xu)從(cong)企業(ye)的(de)(de)硬(ying)件著手。而內部(bu)管控測(ce)試是(shi)(shi)必(bi)不(bu)可(ke)少的(de)(de)環節，其中(zhong)產品膜厚(hou)檢(jian)測(ce)、RoHS有害元素檢(jian)測(ce)、電(dian)鍍(du)液分析(xi)、電(dian)鍍(du)工業(ye)廢(fei)水、廢(fei)渣中(zhong)的(de)(de)重(zhong)金屬檢(jian)測(ce)和水質在線檢(jian)測(ce)等更是(shi)(shi)重(zhong)中(zhong)之重(zhong)。為此江(jiang)蘇天瑞儀(yi)器股份有限公司基(ji)于(yu)強(qiang)大的(de)(de)研發和應用能力特別為電(dian)鍍(du)行(xing)業(ye)制定了一套有效的(de)(de)測(ce)試解(jie)決方案。

鍍層膜厚檢測：有效進行鍍層厚度的產品質量管控
電鍍液分析：檢測電鍍液成分及濃度，確保鍍層質量
水質在線監測：有效監測電鍍所產生的工業廢水中的有害物質含量，已達到排放標準
重金屬(shu)及(ji)槽液雜質(zhi)檢測(ce)：有效檢測(ce)電(dian)鍍成品，以(yi)及(ji)由電(dian)鍍所產生的(de)工業廢水(shui)、廢物(wu)中的(de)重金屬(shu)含量 

1、電鍍層檢測儀器概述

儀器(qi)介紹(shao)

Thick800A是(shi)天(tian)瑞集(ji)多年(nian)的經驗，專(zhuan)門研(yan)發用(yong)于鍍層(ceng)行(xing)業(ye)的一款儀(yi)器(qi)，可全(quan)自動(dong)軟件操作，可多點測試，由(you)軟件控制儀(yi)器(qi)的測試點，以及移動(dong)平(ping)臺。是(shi)一款功能強大(da)的儀(yi)器(qi)，配(pei)上專(zhuan)門為其開發的軟件，在鍍層(ceng)行(xing)業(ye)中(zhong)可謂大(da)展身手(shou)。

2、性能優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊(ji)軟件界面(mian)測(ce)試按鈕，自動(dong)完成測(ce)試并顯示測(ce)試結(jie)果

3、技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操(cao)作環境溫度(du) 15℃～30℃

4、測試實例

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣(yang)品(pin)實際測(ce)試(shi)(shi)Ni層厚度，七次(ci)的結果(guo)其標準(zhun)偏(pian)差和相(xiang)對標準(zhun)偏(pian)差。且可在樣(yang)品(pin)上(shang)進行定(ding)位(wei)測(ce)試(shi)(shi)，其測(ce)試(shi)(shi)位(wei)置如(ru)圖。

銅鍍鎳件X射線熒光測(ce)試譜圖

銅鍍鎳件測試值

結論

實驗表(biao)明，使(shi)用(yong)Thick800A 儀器(qi)對鍍(du)件膜厚測(ce)試(shi)(shi)，結果準(zhun)確度(du)高，速度(du)快（幾十秒），其(qi)測(ce)試(shi)(shi)效果*可(ke)以(yi)和顯微鏡測(ce)試(shi)(shi)法媲美。

Thick 8000 鍍層測厚儀

1、儀器概述

    Thick 8000 鍍(du)(du)層(ceng)測厚(hou)儀(yi)是專(zhuan)門針對鍍(du)(du)層(ceng)厚(hou)度(du)(du)測量而精心設計的(de)一款(kuan)新型高端儀(yi)器。主要應(ying)用于：金屬鍍(du)(du)層(ceng)的(de)厚(hou)度(du)(du)測量、電鍍(du)(du)液和鍍(du)(du)層(ceng)含量的(de)測定；黃金、鉑、銀(yin)等(deng)貴金屬和各(ge)種(zhong)首飾的(de)含量檢測。

2、性能優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界面(mian)測(ce)(ce)試(shi)按鈕(niu)，自動完成測(ce)(ce)試(shi)并顯示(shi)測(ce)(ce)試(shi)結(jie)果

3、技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃

4、測試實例

在保證計數率(lv)的情況下能有效(xiao)分辨(bian)相近元素，大大提高測試穩定性、降低檢測限。

11次(ci)測量結果（Au-Cu)的穩定性數據對比如下：

(1)、對鍍(du)層膜厚檢測、電(dian)鍍(du)液分(fen)(fen)析可(ke)精準分(fen)(fen)析；
(2)重金屬檢(jian)(jian)測(ce)(ce)、槽(cao)液雜質檢(jian)(jian)測(ce)(ce)、水質在(zai)線監(jian)測(ce)(ce)可進行快速檢(jian)(jian)測(ce)(ce)，檢(jian)(jian)測(ce)(ce)環境里的(de)重金屬是(shi)否(fou)超標。
同時(shi)具有以下特(te)點(dian)
快速：1分鐘(zhong)就可以(yi)測定(ding)樣(yang)品鍍層的厚度，并達到(dao)測量精(jing)度要求。
方(fang)便：X熒光光譜儀部分(fen)(fen)機(ji)型采用進口國際(ji)上*的電制冷(leng)(leng)半(ban)導體探測器(qi)，能量(liang)分(fen)(fen)辨(bian)率更(geng)優于(yu)135eV，測試精度更(geng)高。并且不用液(ye)氮(dan)制冷(leng)(leng)，不用定(ding)期補(bu)充液(ye)氮(dan)，操作使用更(geng)加方(fang)便，并且運行成(cheng)本(ben)比同類的其他產品更(geng)低。
無損：測試(shi)前后，樣品無任何(he)形式的(de)變化。
直(zhi)觀(guan)：實時(shi)譜圖，可直(zhi)觀(guan)顯示元素含(han)量。
測(ce)試范圍(wei)廣：X熒光(guang)光(guang)譜儀，是一(yi)種物理分(fen)析方法，其分(fen)析與樣品的化(hua)學(xue)結合(he)狀(zhuang)態無關(guan)。對在化(hua)學(xue)性質(zhi)上屬同一(yi)族(zu)的元(yuan)素也能進(jin)行分(fen)析,抽(chou)真空可以(yi)測(ce)試從Na到(dao)U。
可(ke)靠(kao)性(xing)高(gao)：由于測(ce)試(shi)過程無人為(wei)因素干擾，儀器自身分析精度、重復性(xing)與(yu)穩定性(xing)很高(gao)。所以，其測(ce)量的可(ke)靠(kao)性(xing)更高(gao)。
滿足不同(tong)需求：測(ce)試軟(ruan)件(jian)(jian)為WINDOWS操作系統軟(ruan)件(jian)(jian)，操作方(fang)便(bian)、功能強大，軟(ruan)件(jian)(jian)可監控儀器(qi)狀態，設定儀器(qi)參數，并就有多(duo)種*的(de)分析方(fang)法，工作曲(qu)線制作方(fang)法靈活多(duo)樣，方(fang)便(bian)滿足不同(tong)客戶不同(tong)樣品的(de)測(ce)試需要。
性價比高(gao)：相比化學分析(xi)類儀器(qi)，X熒光光譜儀在總(zong)體使用成本上有優勢(shi)的，可以讓更多的企(qi)業(ye)和廠家(jia)接受(shou)。
簡易(yi)：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。