電鍍(du)(du)測(ce)厚儀(yi)(yi):Thick800A是天瑞集多年的(de)經驗,專門研發用(yong)于(yu)鍍(du)(du)層行業的(de)一款(kuan)(kuan)儀(yi)(yi)器,可(ke)全自動軟(ruan)件(jian)操作,可(ke)多點(dian)測(ce)試(shi),由軟(ruan)件(jian)控制(zhi)儀(yi)(yi)器的(de)測(ce)試(shi)點(dian),以(yi)及移(yi)動平臺(tai)。是一款(kuan)(kuan)功能強(qiang)大(da)的(de)儀(yi)(yi)器,配上專門為其開發的(de)軟(ruan)件(jian),在鍍(du)(du)層行業中可(ke)謂(wei)大(da)展(zhan)身(shen)手。
電鍍測厚儀
電鍍(du)是(shi)(shi)國民經濟中必(bi)不可少(shao)的(de)(de)(de)基礎工藝性(xing)行業(ye)(ye)(ye),同時又是(shi)(shi)重(zhong)污染行業(ye)(ye)(ye)。電鍍(du)所(suo)帶來(lai)的(de)(de)(de)廢(fei)(fei)氣、廢(fei)(fei)水、廢(fei)(fei)渣(zha)(zha)嚴重(zhong)地(di)影響(xiang)人(ren)們的(de)(de)(de)生活與健(jian)康(kang)。要提(ti)高電鍍(du)企業(ye)(ye)(ye)的(de)(de)(de)實力(li)就必(bi)須(xu)從企業(ye)(ye)(ye)的(de)(de)(de)硬件(jian)著手。而(er)內部管(guan)控測試是(shi)(shi)必(bi)不可少(shao)的(de)(de)(de)環節,其中產品膜厚(hou)檢(jian)(jian)測、RoHS有害元素檢(jian)(jian)測、電鍍(du)液分析、電鍍(du)工業(ye)(ye)(ye)廢(fei)(fei)水、廢(fei)(fei)渣(zha)(zha)中的(de)(de)(de)重(zhong)金屬檢(jian)(jian)測和水質(zhi)在線檢(jian)(jian)測等更是(shi)(shi)重(zhong)中之重(zhong)。為(wei)(wei)此(ci)江蘇天瑞儀(yi)器股份有限公司基于強大的(de)(de)(de)研發(fa)和應用能力(li)特別為(wei)(wei)電鍍(du)行業(ye)(ye)(ye)制(zhi)定了一套有效(xiao)的(de)(de)(de)測試解決方案。
鍍層膜厚檢測:有效進行鍍層厚度的產品質量管控
電鍍液分析:檢測電鍍液成分及濃度,確保鍍層質量
水質在線監測:有效監測電鍍所產生的工業廢水中的有害物質含量,已達到排放標準
重金(jin)(jin)屬(shu)及槽液雜質檢測:有效檢測電鍍成(cheng)品,以(yi)及由電鍍所(suo)產生的工業廢水、廢物中的重金(jin)(jin)屬(shu)含量
1、電鍍測厚儀?概述
儀器介紹
Thick800A是天瑞集(ji)多年的(de)經驗(yan),專門研發(fa)用于鍍層行(xing)業的(de)一款(kuan)儀器(qi),可(ke)全自(zi)動軟件操作,可(ke)多點測(ce)試,由(you)軟件控(kong)制儀器(qi)的(de)測(ce)試點,以及移動平(ping)臺。是一款(kuan)功(gong)能強(qiang)大的(de)儀器(qi),配上專門為其開發(fa)的(de)軟件,在(zai)鍍層行(xing)業中可(ke)謂(wei)大展身手。
2、性能優勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件(jian)界面(mian)測試(shi)按鈕,自(zi)動完(wan)成測試(shi)并顯示測試(shi)結果(guo)
3、技術指標
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操(cao)作環境溫度 15℃~30℃
4、測試實例
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下(xia)使用Thick800A儀(yi)器對銅鍍鎳樣品(pin)實際測試Ni層厚度,七次的結果其標準(zhun)偏差和(he)相對標準(zhun)偏差。且可(ke)在樣品(pin)上進行(xing)定位測試,其測試位置(zhi)如(ru)圖。
銅(tong)鍍(du)鎳(nie)件(jian)X射線(xian)熒光(guang)測試譜圖
樣 品 名 | 成分Ni(%) | 鍍層Ni(um) |
吊扣 | 100 | 19.321 |
吊扣2# | 100 | 19.665 |
吊扣3# | 100 | 18.846 |
吊扣4# | 100 | 19.302 |
吊扣5# | 100 | 18.971 |
吊扣6# | 100 | 19.031 |
吊扣7# | 100 | 19.146 |
平均值 | 100 | 19.18314 |
標準偏差 | 0 | 0.273409 |
相對標準偏差 | 0 | 1.425257 |
銅鍍鎳件測試值
結論
實驗表明,使用Thick800A 儀器(qi)對鍍件膜厚測(ce)試,結果準確度高,速度快(幾十(shi)秒(miao)),其測(ce)試效果*可以和(he)顯微鏡測(ce)試法媲美。
Thick 8000 鍍層測厚儀
1、儀器概述
Thick 8000 鍍(du)(du)(du)層(ceng)測厚(hou)儀是專門針(zhen)對鍍(du)(du)(du)層(ceng)厚(hou)度測量而精(jing)心(xin)設計的一款(kuan)新型高端儀器(qi)。主要(yao)應(ying)用于:金屬鍍(du)(du)(du)層(ceng)的厚(hou)度測量、電鍍(du)(du)(du)液和(he)鍍(du)(du)(du)層(ceng)含(han)量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和(he)各種首飾的含(han)量檢測。
2、性能優勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件(jian)界面測試按鈕,自(zi)動(dong)完成測試并顯示測試結(jie)果
3、技術指標
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作環境溫度 15℃~30℃
4、測試實例
在保證計數率的情況下能有效(xiao)分辨(bian)相近(jin)元素,大大提高(gao)測試(shi)穩定性、降(jiang)低檢測限。
11次測量結(jie)果(Au-Cu)的穩定性數(shu)據對(dui)比(bi)如(ru)下:
次數 | Thick8000 | 行業內其他儀器 |
1 | 0.042 | 0.0481 |
2 | 0.043 | 0.0459 |
3 | 0.043 | 0.0461 |
4 | 0.0412 | 0.0432 |
5 | 0.0429 | 0.0458 |
6 | 0.0436 | 0.0458 |
7 | 0.0427 | 0.0483 |
8 | 0.0425 | 0.045 |
9 | 0.0416 | 0.0455 |
10 | 0.0432 | 0.0485 |
11 | 0.0422 | 0.043 |
平均值 | 0.0425 | 0.0459 |
標準偏差 | 0.0007 | 0.0019 |
相對標準偏差 | 1.70% | 4.03% |
極差 | 0.0024 | 0.0055 |
(1)、對鍍(du)層(ceng)膜厚檢(jian)測、電鍍(du)液分(fen)析可精準分(fen)析;
(2)重金(jin)屬檢測(ce)、槽液雜質檢測(ce)、水質在線(xian)監測(ce)可進行快速檢測(ce),檢測(ce)環(huan)境里的重金(jin)屬是否(fou)超標。
同時具有(you)以下(xia)特點(dian)
快速:1分(fen)鐘(zhong)就可以測定樣品鍍層(ceng)的厚度,并達到(dao)測量精度要求(qiu)。
方便:X熒光光譜儀部(bu)分機型采用進口(kou)國際上*的電(dian)制(zhi)(zhi)冷半(ban)導(dao)體探測器(qi),能量分辨率更(geng)優(you)于135eV,測試精度更(geng)高(gao)。并且不(bu)(bu)用液(ye)氮(dan)(dan)制(zhi)(zhi)冷,不(bu)(bu)用定期補充液(ye)氮(dan)(dan),操作使用更(geng)加(jia)方便,并且運行(xing)成本比同類(lei)的其他(ta)產品更(geng)低。
無損:測試(shi)前后(hou),樣品無任何形式(shi)的變化。
直(zhi)觀:實時譜圖,可(ke)直(zhi)觀顯示元素含量(liang)。
測(ce)試范(fan)圍廣:X熒(ying)光光譜儀,是一種物理分(fen)析方法(fa),其分(fen)析與樣品(pin)的(de)化學結合(he)狀態無關(guan)。對在化學性(xing)質上屬同一族的(de)元素也能進行分(fen)析,抽真(zhen)空(kong)可以測(ce)試從(cong)Na到U。
可靠(kao)性(xing)高:由于測(ce)試過(guo)程無人為因素干(gan)擾(rao),儀器自身分析精(jing)度、重復性(xing)與穩定性(xing)很高。所(suo)以(yi),其測(ce)量的(de)可靠(kao)性(xing)更高。
滿足(zu)(zu)不同需(xu)求:測試軟件(jian)為WINDOWS操(cao)作(zuo)系統軟件(jian),操(cao)作(zuo)方便(bian)、功能強大(da),軟件(jian)可監(jian)控儀(yi)器狀態,設定儀(yi)器參(can)數,并(bing)就有多種*的(de)分析方法(fa),工作(zuo)曲(qu)線制作(zuo)方法(fa)靈(ling)活多樣,方便(bian)滿足(zu)(zu)不同客戶不同樣品的(de)測試需(xu)要。
性(xing)價(jia)比(bi)高:相比(bi)化學分析類(lei)儀器(qi),X熒光光譜儀在總體(ti)使用成本(ben)上有優勢(shi)的,可以(yi)讓(rang)更(geng)多的企業(ye)和廠家接受。
簡(jian)易:對人員(yuan)技術(shu)要求較低(di),操(cao)作簡(jian)單(dan)方(fang)便,并(bing)且維護簡(jian)單(dan)方(fang)便。