• 企業類型：制造商
• 新舊程度：新
• 原產地：江蘇

電鍍膜厚分析儀

電(dian)鍍(du)(du)是國民經濟中(zhong)必(bi)(bi)不可少(shao)的(de)(de)(de)(de)(de)基礎工(gong)(gong)藝(yi)性行(xing)業，同時又是重(zhong)污染行(xing)業。電(dian)鍍(du)(du)所(suo)帶來的(de)(de)(de)(de)(de)廢(fei)(fei)氣、廢(fei)(fei)水(shui)、廢(fei)(fei)渣(zha)嚴重(zhong)地影響人們的(de)(de)(de)(de)(de)生活與健康。要提高電(dian)鍍(du)(du)企(qi)業的(de)(de)(de)(de)(de)實(shi)力就必(bi)(bi)須從企(qi)業的(de)(de)(de)(de)(de)硬件著手。而內部管(guan)控測(ce)試是必(bi)(bi)不可少(shao)的(de)(de)(de)(de)(de)環節(jie)，其中(zhong)產品膜厚檢(jian)(jian)測(ce)、RoHS有(you)害(hai)元素檢(jian)(jian)測(ce)、電(dian)鍍(du)(du)液分析、電(dian)鍍(du)(du)工(gong)(gong)業廢(fei)(fei)水(shui)、廢(fei)(fei)渣(zha)中(zhong)的(de)(de)(de)(de)(de)重(zhong)金屬檢(jian)(jian)測(ce)和(he)水(shui)質在線檢(jian)(jian)測(ce)等更是重(zhong)中(zhong)之重(zhong)。為此江蘇天瑞(rui)儀器(qi)股(gu)份有(you)限公司基于強(qiang)大的(de)(de)(de)(de)(de)研發和(he)應用能力特別為電(dian)鍍(du)(du)行(xing)業制(zhi)定了一套有(you)效的(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)試解決方(fang)案。

鍍層膜厚檢測：有效進行鍍層厚度的產品質量管控
電鍍液分析：檢測電鍍液成分及濃度，確保鍍層質量
水質在線監測：有效監測電鍍所產生的工業廢水中的有害物質含量，已達到排放標準
重(zhong)金(jin)屬及槽液雜質檢(jian)測(ce)：有效(xiao)檢(jian)測(ce)電鍍成(cheng)品(pin)，以(yi)及由電鍍所產生的工(gong)業廢水、廢物中(zhong)的重(zhong)金(jin)屬含(han)量 

2、電鍍膜厚分析儀性能優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界面測試按(an)鈕，自動完成測試并(bing)顯示(shi)測試結果

3、技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操(cao)作環境溫度(du) 15℃～30℃

4、測試實例

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下(xia)使(shi)用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣(yang)品實際測(ce)(ce)試(shi)Ni層厚度，七次(ci)的結果其(qi)標準(zhun)偏(pian)(pian)差(cha)和(he)相對標準(zhun)偏(pian)(pian)差(cha)。且可在(zai)樣(yang)品上進行定(ding)位(wei)測(ce)(ce)試(shi)，其(qi)測(ce)(ce)試(shi)位(wei)置如圖(tu)。

銅鍍鎳件X射線熒光測試譜(pu)圖

銅鍍鎳件測試值