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X射線鍍層厚度分析儀

簡要描述：

X射線(xian)鍍(du)層厚(hou)(hou)度分析儀(yi)(yi),X熒光光譜(pu)儀(yi)(yi)： Thick 8000 鍍(du)層測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)(yi)是專門(men)針對鍍(du)層厚(hou)(hou)度測(ce)量(liang)(liang)而精心設計的一(yi)款(kuan)新型儀(yi)(yi)器。主(zhu)要應用于(yu)：金(jin)屬鍍(du)層的厚(hou)(hou)度測(ce)量(liang)(liang)、電鍍(du)液(ye)和(he)鍍(du)層含量(liang)(liang)的測(ce)定；黃(huang)金(jin)、鉑、銀等貴金(jin)屬和(he)各種(zhong)首(shou)飾的含量(liang)(liang)檢(jian)測(ce)。

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Thick8000X射線鍍層厚度分析儀的詳細資料：

分析含量：ppm到99.9%
溫度適應范圍：15℃至30℃
電源：交(jiao)流(liu)220V±5V 建議配置(zhi)交(jiao)流(liu)凈(jing)化穩壓電(dian)源(yuan)
樣品腔尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
分析范圍：同時可(ke)以分析30種以上(shang)元(yuan)素，五層鍍層
移動平臺：精密二維移動(dong)樣品平臺，探測器和X光管上下可(ke)動(dong)，實現(xian)三維移動(dong)。

Thick 8000 鍍(du)(du)層測厚儀是專門(men)針(zhen)對鍍(du)(du)層厚度測量而精(jing)心設(she)計(ji)的(de)一款新(xin)型(xing)儀器。主要(yao)應用(yong)于：金(jin)(jin)屬(shu)鍍(du)(du)層的(de)厚度測量、電鍍(du)(du)液和(he)鍍(du)(du)層含(han)量的(de)測定(ding)；黃金(jin)(jin)、鉑、銀等貴(gui)金(jin)(jin)屬(shu)和(he)各種(zhong)首飾(shi)的(de)含(han)量檢測。

Thick 8000 鍍層測厚儀(yi)

1、X射線鍍層厚度分析儀,X熒光光譜儀儀器概述(shu)

Thick 8000 鍍(du)層測(ce)厚儀(yi)是專(zhuan)門針對鍍(du)層厚度(du)(du)測(ce)量(liang)而精心設計的一款新型儀(yi)器。主(zhu)要應用于：金(jin)屬鍍(du)層的厚度(du)(du)測(ce)量(liang)、電鍍(du)液和鍍(du)層含量(liang)的測(ce)定；黃金(jin)、鉑、銀等貴金(jin)屬和各種首飾的含量(liang)檢測(ce)。

2、性能優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果

3、X射線鍍層厚度分析儀,X熒光光譜儀技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃

2、性(xing)能優勢(shi)

3、技術指標

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X射線鍍層厚度分析儀

簡要描述：