鍍(du)層厚(hou)(hou)度(du)分析儀，電(dian)鍍(du)層測(ce)厚(hou)(hou)儀 X射(she)(she)(she)線(xian)測(ce)厚(hou)(hou)儀原理是(shi)根據(ju)(ju)X射(she)(she)(she)線(xian)穿透被測(ce)物時的(de)(de)強度(du)衰減(jian)來(lai)進行(xing)轉(zhuan)(zhuan)換測(ce)量(liang)(liang)厚(hou)(hou)度(du)的(de)(de)，即測(ce)量(liang)(liang)被測(ce)鋼(gang)板所吸收的(de)(de)X射(she)(she)(she)線(xian)量(liang)(liang)，根據(ju)(ju)該X射(she)(she)(she)線(xian)的(de)(de)能(neng)量(liang)(liang)值(zhi)，確定被測(ce)件的(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)。由X射(she)(she)(she)線(xian)探測(ce)頭將接收到的(de)(de)信號(hao)轉(zhuan)(zhuan)換為電(dian)信號(hao)，經(jing)過(guo)前置放大器放大，再由測(ce)厚(hou)(hou)儀操作系統轉(zhuan)(zhuan)換為顯(xian)示給人(ren)們以直(zhi)觀的(de)(de)實(shi)際厚(hou)(hou)度(du)信號(hao)。
X射線(xian)測厚儀原理是根據X射線穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。
X射線源輻射強度的大小，與X射線管的發射強度和被測鋼板所吸收的X射線強度相關。一個在系統量程范圍內的給定厚度，為了確定其所需的X射線能量值，可利用M215型X射線檢測儀進行校準。在檢測任一特殊厚度時，系統將設定X射線的能量值，使檢測能夠順利完成。
在厚度一定的情況下，X射線的能量值為常量。當安全快門打開，X射線將從X射線源和探頭之間的被測鋼板中通過，被測鋼板將一部分能量吸收，剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收，探頭將所接收的X射線轉換為與之大小相關的輸出電壓。如果改變被測鋼板的厚度，則所吸收的X射線量也將改變，這將使探頭所接收的X射線量發生變化，檢測信號也隨之發生相應的變化。射線測厚儀按射線源的種類可分為X射線測厚儀與核輻射線測厚儀兩類，而后者又可多r射線測厚儀與 射線測厚儀。按射線與被測板材的作用方式，又可分為穿透式和反射式。
鍍層厚度分析儀，電鍍層測厚儀性能特(te)點
滿足(zu)各種(zhong)不同(tong)厚(hou)度(du)樣品以及不規則表(biao)面樣品的(de)測試(shi)需求
φ0.1mm的小(xiao)孔準直(zhi)器可(ke)以滿(man)足(zu)微(wei)小(xiao)測試點(dian)的需求
高(gao)精(jing)度(du)移動(dong)平臺可定位測(ce)試點，重復定位精(jing)度(du)小于0.005mm
采(cai)用高度定位激光(guang)，可自動定位測(ce)試(shi)高度
定(ding)(ding)位激光確定(ding)(ding)定(ding)(ding)位光斑，確保測試點(dian)與光斑對齊(qi)
鼠標可控(kong)制移動平臺，鼠標點(dian)擊(ji)的位置就是被測點(dian)
高分辨率探頭使分析結果(guo)更加(jia)精準
良(liang)好的(de)射線(xian)屏蔽作用
測試口高度敏感性傳(chuan)感器保護
型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到(dao)鈾（U）。
同時可以(yi)分析30種以(yi)上(shang)元素，五層(ceng)(ceng)鍍層(ceng)(ceng)。
分析含量一般為ppm到(dao)99.9% 。
鍍層厚度一般在(zai)50μm以內(nei)（每種材料有所不同）
任(ren)意多個可選擇的分析和識(shi)別(bie)模型。
相互獨立的基(ji)體效(xiao)應校正模型(xing)。
多變(bian)量(liang)非(fei)線性回(hui)收程序
度適應范(fan)圍(wei)為15℃至30℃。
電(dian)源: 交(jiao)流220V±5V, 建(jian)議配(pei)置交(jiao)流凈(jing)化穩(wen)壓電(dian)源。
|
||
|
||
 |
打印當前頁