國產鍍層測厚儀器 XTD系(xi)列測厚(hou)儀，專(zhuan)業(ye)表面(mian)處理檢測解決(jue)方案：

XTD系列測(ce)厚(hou)儀(yi)，于檢測(ce)各種異形件，特別是(shi)五金(jin)類模具(ju)、衛浴產品、線路板以及高精密電子元器件表面(mian)處(chu)理(li)的(de)成分和厚(hou)度分析。

儀器優(you)點：

1. 分析精(jing)度高(gao)

2. 分析范圍(wei)廣

3. 微區定位準

4. 操作簡(jian)單(dan)快捷

5. 結(jie)果可靠

6. 領(ling)xian行(xing)業標準(zhun)

XYZ高精(jing)密移動(dong)裝(zhuang)置：快速定(ding)位，手/自(zi)動(dong)(dong)（可選），自(zi)動(dong)(dong)版可實(shi)現編程定(ding)位多點自(zi)動(dong)(dong)測試(shi)。

軟(ruan)、硬件雙(shuang)(shuang)向(xiang)操作：人(ren)性化設計，實現軟(ruan)件，硬件雙(shuang)(shuang)向(xiang)快捷操作。

變焦+對(dui)焦(jiao)：配備高敏感鏡頭，實現(xian)無感對焦，可測各種異形件(jian)、超大(da)工件(jian)。

國產鍍層測厚儀器性能優勢：

1.*的(de)EFP算法：多層(ceng)多元素、各種(zhong)元素及有機物，甚至有同(tong)種(zhong)元素在不同(tong)層(ceng)也可測量。

2.上照(zhao)式設計：實(shi)現可對超大工件進(jin)行快、準、穩高效率測(ce)量。

3.自動對焦(jiao)：高低(di)大小樣品可(ke)快速清晰對焦(jiao)。

4.變焦裝置算法(fa)：可(ke)對(dui)大90mm深度的凹槽高低落(luo)差件直接檢測(ce)。

5.小面(mian)積測量：小測量面積0.04mm²

6.大行程移動平臺：手動XY滑臺100*150mm，自動(dong)XY平臺200*200mm.

結(jie)構設計(ji)：

國產鍍層測厚儀器一六儀器研制(zhi)的測厚儀*的光路交換裝置(zhi)，讓X射線和(he)可見光攝像同一(yi)垂直線，達到視覺與測試定位一(yi)體，且(qie)X光擴散度小；與EFP軟件配(pei)合達到對(dui)焦、變焦雙焦功能，實(shi)現(xian)高低、凹凸不平各種形狀樣品(pin)的(de)(de)測試；高集(ji)成的(de)(de)光路交換裝(zhuang)置(zhi)與接(jie)收(shou)器的(de)(de)角度可(ke)縮小一倍，可(ke)以減少弧度傾斜放樣帶來的(de)(de)誤差，同(tong)時(shi)特征X射線可以穿透(tou)測試更(geng)厚的表(biao)層(ceng)。

核心EFP算法：

專業的研發團隊在Alpha和Fp法的基礎上，計算樣(yang)品(pin)中每(mei)個(ge)元素的一次熒(ying)光(guang)、二次熒(ying)光(guang)、靶材(cai)熒(ying)光(guang)、吸收增(zeng)強效應、散射背景等多(duo)元優化迭代開發出(chu)EFP核心算法，結(jie)合*的光(guang)路轉換技(ji)術(shu)、變(bian)焦結(jie)構(gou)設計及穩定的多(duo)道脈沖分析采集系(xi)統，只需要(yao)少量的標樣(yang)來校正儀器因子，可測試重(zhong)復鍍(du)層(ceng)、非金屬、輕(qing)金屬、多(duo)層(ceng)多(duo)元素以及有(you)機物層(ceng)的厚度及成分含量。

儀器型(xing)號(hao)對比：

 國產鍍層測厚儀器就選擇一六儀器，選擇恩陽電子