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X熒光鍍層測厚儀  涂層膜厚儀 鍍層生產廠家?

儀器簡介

       XTU系列(lie)測厚儀(yi)雖然(ran)結構緊湊，但是都有大容量(liang)的開槽設計樣(yang)品腔，即使超過樣(yang)品腔尺寸的工件也(ye)可以測試。

   搭配微聚焦(jiao)(jiao)射(she)線管和(he)*的光路設計，以及變(bian)焦(jiao)(jiao)算法裝置，可測(ce)試極微小(xiao)和(he)異形樣品(pin)。

   檢(jian)測78種元(yuan)素鍍層·0.005um檢(jian)出限·小(xiao)測量面積(ji)0.002mm2·深凹槽可達90mm。

   外置的(de)(de)高精(jing)密(mi)微型滑軌，可(ke)以快速控制(zhi)樣品移(yi)動(dong)，移(yi)動(dong)精(jing)度(du)0.005mm，速度(du)10-30mm（X-Y）/圈，再(zai)小再(zai)多的(de)(de)樣品測試都沒有難度(du)，讓操作人員輕松自如(ru)。

  XTU系列測厚儀雖然(ran)結構緊(jin)湊，但是(shi)都有大容量的開槽(cao)設計樣品(pin)腔，即使超過樣品(pin)腔尺(chi)寸(cun)的工件(jian)也可(ke)以測試。

   搭配微(wei)聚焦射線管和(he)*的光路設計(ji)，以及(ji)變焦算法裝(zhuang)置，可測試極微(wei)小和(he)異(yi)形樣品(pin)。

   檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小(xiao)測量面積0.002mm2·深凹槽可達90mm。

   外置的高精密(mi)微型滑軌(gui)，可以快速控制(zhi)樣(yang)品移動，移動精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的樣(yang)品測(ce)試(shi)都沒(mei)有難(nan)度，讓操作人員輕松自如。

應用領域

   線路板、引(yin)線框架及電子(zi)元器件(jian)接插件(jian)檢測

   鍍純金(jin)、K金(jin)、鉑、銀等(deng)各種飾品的膜層成分(fen)和厚度(du)分(fen)析

   手表、精密儀表制造(zao)行(xing)業

   釹(nv)鐵硼磁鐵上(shang)的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

   汽車、五金、電(dian)子產品等緊固件的表面處(chu)理檢測

   衛浴產(chan)品、裝飾把(ba)手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

   電鍍液的金屬陽離子檢(jian)測

X熒光鍍層測厚儀  涂層膜厚儀 鍍層生產廠家?性能優勢：

   下(xia)照(zhao)式設計：可以快(kuai)速方便(bian)地定(ding)位對(dui)焦樣品。

   無(wu)損變焦檢(jian)測(ce):可對各種異(yi)形(xing)凹(ao)槽進行無(wu)損檢(jian)測(ce)，凹(ao)槽深度范圍0-90mm.

   微(wei)聚(ju)焦射線裝置：可檢測(ce)面積小于(yu)0.002mm2的樣品，可測(ce)試各微(wei)小的部件。

   高(gao)效率的(de)接收器：即使測(ce)試0.01mm2以下的(de)樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。

   精(jing)密(mi)微型滑軌：快速(su)定位樣品。

   EFP*算法軟件：多(duo)層多(duo)元素，甚至有同種元素在(zai)不同層也難不倒EFP算法軟件。