• 企業類型：制造商
• 新舊程度：新
• 原產地：江蘇昆山
• 環境溫度：15℃-30℃
• 管流：50μA-1000μA
• 儀器重量：75KG
• 元素分析：硫(S)到鈾（U）
• 精度：0.005mm

   天瑞光(guang)(guang)譜(pu)分(fen)析(xi)(xi)儀(yi)器(qi)是屬于大(da)(da)型(xing)(xing)光(guang)(guang)學精密一起。以前我國主要(yao)依靠進口光(guang)(guang)譜(pu)分(fen)析(xi)(xi)儀(yi)，進口的(de)光(guang)(guang)譜(pu)分(fen)析(xi)(xi)儀(yi)價格(ge)昂貴，耗費國家大(da)(da)量外(wai)匯。所以一機都在75年(nian)組(zu)織了(le)光(guang)(guang)電式光(guang)(guang)譜(pu)分(fen)析(xi)(xi)儀(yi)會戰，從此我國可以自己大(da)(da)量生(sheng)產大(da)(da)型(xing)(xing)光(guang)(guang)譜(pu)分(fen)析(xi)(xi)儀(yi)。光(guang)(guang)譜(pu)分(fen)析(xi)(xi)儀(yi)器(qi)結構雖然很復雜，主要(yao)由下面四(si)部分(fen)組(zu)成：光(guang)(guang)源、分(fen)光(guang)(guang)器(qi)（又(you)稱單色器(qi)）、接(jie)收器(qi)（又(you)稱探測(ce)器(qi)）、輸出(chu)裝置。為(wei)了(le)更好的(de)利(li)用儀(yi)器(qi)和(he)得到滿意(yi)的(de)測(ce)試結果，必須對儀(yi)器(qi)各主要(yao)部分(fen)的(de)作用和(he)原理(li)有所了(le)解。

光譜分析儀的優點

1.采樣方式靈活，對于稀(xi)有(you)和(he)貴重金屬的檢測和(he)分析可以節約取樣帶來的損耗。

2.測試(shi)速率高(gao)，可設定(ding)多(duo)通道(dao)瞬(shun)間多(duo)點采(cai)集，并(bing)通過計算器(qi)實時輸出(chu)。

3.對于一些機(ji)械零件可以做(zuo)到無(wu)損(sun)檢(jian)測，而不破(po)壞樣(yang)品，便(bian)于進行無(wu)損(sun)檢(jian)測。

4.分(fen)析(xi)速度較快(kuai)，比較適用做爐(lu)前分(fen)析(xi)或(huo)現場分(fen)析(xi)，從而達到快(kuai)速檢(jian)測。

5.分析結果的準(zhun)確性是建立在化學分析標樣的基礎上。

光譜分析儀的缺點

1.對于(yu)非(fei)(fei)金(jin)屬(shu)和界于(yu)金(jin)屬(shu)和非(fei)(fei)金(jin)屬(shu)之間(jian)的元(yuan)素很難做到(dao)準確檢(jian)測(ce)。

2.不是原始方法(fa)，不能(neng)作為仲裁(cai)分(fen)析(xi)方法(fa)，檢測結(jie)果不能(neng)做為國(guo)家認證依據。

3.受(shou)各企業產品相對壟斷的因素，購買和維護(hu)成本都比較高，性(xing)價比較低。

4.需(xu)要(yao)大量代表性(xing)樣品進行(xing)化(hua)學分(fen)析建模(mo)，對于(yu)小批(pi)量樣品檢測顯(xian)然不(bu)切實(shi)際。

5.模型需要(yao)不斷更(geng)新，在(zai)儀器發生變化或者標準樣品(pin)發生變化時，模型也要(yao)變化。

6.建(jian)模成本(ben)很高，測(ce)試(shi)成本(ben)也(ye)就比較大了，當然對于(yu)大量樣品檢(jian)測(ce)時，測(ce)試(shi)成本(ben)會下降。

7.易(yi)受光學系(xi)統參數(shu)等外(wai)部(bu)或內部(bu)因素影響(xiang)，經常(chang)出現(xian)曲線(xian)非(fei)線(xian)性問題(ti)，對檢測(ce)結果的準確度影響(xiang)較大。

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種(zhong)首飾的含(han)量檢測.
金(jin)屬鍍層(ceng)(ceng)的厚度測(ce)量(liang), 電鍍液和鍍層(ceng)(ceng)含量(liang)的測(ce)定(ding)。
主(zhu)要用于貴金屬加(jia)工和(he)首飾加(jia)工行(xing)(xing)業(ye)；銀行(xing)(xing)，首飾銷售和(he)檢測機構；電鍍(du)行(xing)(xing)業(ye)。

儀器介紹

Thick800A是(shi)天瑞集多年(nian)的經驗(yan)，專門研(yan)發用(yong)于(yu)鍍層(ceng)行(xing)業的一款儀器(qi)，可全自動軟件(jian)操(cao)作，可多點(dian)測試，由軟件(jian)控制儀器(qi)的測試點(dian)，以及移(yi)動平(ping)臺。是(shi)一款功(gong)能強大的儀器(qi)，配上專門為其(qi)開(kai)發的軟件(jian)，在鍍層(ceng)行(xing)業中(zhong)可謂大展身手。


滿足各種不(bu)同厚(hou)度樣(yang)品以及不(bu)規則表面樣(yang)品的測(ce)試需(xu)求
φ0.1mm的小孔準直器可以(yi)滿足微小測試點的需求(qiu)
高(gao)精度移動平臺可定(ding)位(wei)測試點，重(zhong)復定(ding)位(wei)精度小于0.005mm
采(cai)用高度定位激光，可自(zi)動(dong)定位測試(shi)高度
定(ding)(ding)位激(ji)光(guang)確定(ding)(ding)定(ding)(ding)位光(guang)斑，確保測(ce)試點與光(guang)斑對(dui)齊
鼠標(biao)可控制移動平臺，鼠標(biao)點擊的位置就是被測點
高分(fen)辨(bian)率探(tan)頭使分(fen)析結果(guo)更加精(jing)準
良好的(de)射線(xian)屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hu)

Thick800A 鍍層測厚儀技術指標

型號：Thick 800A
元素分析(xi)范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種(zhong)以上(shang)元素，五層鍍層。
分析含(han)量一般為ppm到99.9% 。
鍍(du)層厚度(du)一般在(zai)50μm以內(nei)（每種材料有所不同）
任意多個(ge)可(ke)選擇的分析(xi)和識別(bie)模型。
相(xiang)互獨立(li)的基體效(xiao)應校(xiao)正模型。
多變量(liang)非線性(xing)回收程序
度適應(ying)范圍(wei)為(wei)15℃至30℃。
電源: 交流(liu)220V±5V, 建議(yi)配置交流(liu)凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品(pin)室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量(liang)：90kg

Thick800A 鍍層測厚儀標準配置

開(kai)放式樣品腔。
精密(mi)二維移(yi)動樣(yang)品(pin)平臺，探測器和X光管上下可動，實(shi)現三維移(yi)動。
雙激光(guang)定位裝置。
鉛玻璃(li)屏蔽罩(zhao)。
Si-Pin探測器(qi)。
信(xin)號檢測電子(zi)電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保(bao)護傳(chuan)感器
計(ji)算機(ji)及噴墨打印機(ji)

無損天瑞X熒光光譜鍍層膜厚檢測儀，天瑞鍍層測厚儀

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