鍍(du)層(ceng)(ceng)厚(hou)度檢測(ce)儀(yi)(yi) 膜厚(hou)儀(yi)(yi)：Thick 8000 鍍(du)層(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)是專門針(zhen)對鍍(du)層(ceng)(ceng)厚(hou)度測(ce)量(liang)而精心設計的(de)(de)一款新型儀(yi)(yi)器。主(zhu)要應用于：金(jin)屬鍍(du)層(ceng)(ceng)的(de)(de)厚(hou)度測(ce)量(liang)、電鍍(du)液和鍍(du)層(ceng)(ceng)含量(liang)的(de)(de)測(ce)定；黃(huang)金(jin)、鉑(bo)、銀(yin)等貴金(jin)屬和各種首飾(shi)的(de)(de)含量(liang)檢測(ce)。
X射線熒光光譜儀工作原理介紹
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。下是這兩類儀器的原理圖。
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。下圖是這兩類儀器的原理圖。
X射線熒光光譜儀分析的一般步驟是：選擇分析方法，樣品制備，儀器參數選擇與校準曲線的制作，試樣分析。
SuperQ是Axios系列X 射線熒光光譜分析儀的主操作軟件，控制光譜儀的運行和定性定量分析數據的處理。SuperQ先匯編各測量參數，再依次檢查光學電學條件、校正系數，zui后自動匯編建成定性或定量分析測量程序。
Omnian以(yi)全程掃描為定(ding)性分析(xi)的(de)基礎，用13個(ge)合(he)成的(de)參考樣(yang)品建立掃描程序(xu)獲得(de)的(de)測量(liang)強度，以(yi)此作為定(ding)量(liang)分析(xi)的(de)依據；適用于(yu)分析(xi)范(fan)圍很寬的(de)固體、粉末和液體試樣(yang)的(de)快速無標樣(yang)近似定(ding)量(liang)（半(ban)定(ding)量(liang)）分析(xi)。
天瑞(rui)(rui)Thick800A,Thick600,Thick8000,,EDX1800BS,EDX1800B系列產(chan)品是(shi)天瑞(rui)(rui)集(ji)多(duo)年鍍層(ceng)行業(ye)的(de)經驗，專門(men)研發用于鍍層(ceng)行業(ye)的(de)多(duo)款(kuan)儀(yi)(yi)(yi)器，可(ke)(ke)全自動軟(ruan)件操作，可(ke)(ke)多(duo)點(dian)測試(shi)，由軟(ruan)件控制儀(yi)(yi)(yi)器的(de)測試(shi)點(dian)，以及移動平臺。天瑞(rui)(rui)鍍層(ceng)測厚儀(yi)(yi)(yi)功能強大，配上(shang)(shang)專門(men)為其(qi)開發的(de)軟(ruan)件，在鍍層(ceng)行業(ye)中可(ke)(ke)謂大展身手。江蘇天瑞(rui)(rui)儀(yi)(yi)(yi)器股(gu)份有限公司是(shi)專業(ye)生(sheng)產(chan)光譜(pu)、色譜(pu)、質譜(pu)等分析測試(shi)儀(yi)(yi)(yi)器及其(qi)軟(ruan)件的(de)研發、生(sheng)產(chan)和銷售一體型企業(ye)。 2011年1月25日，天瑞(rui)(rui)儀(yi)(yi)(yi)器在深圳創業(ye)板塊(kuai)上(shang)(shang)市。股(gu)票代碼(ma)為300165。
Thick 8000 鍍(du)(du)(du)層(ceng)測(ce)厚儀是專門針(zhen)對鍍(du)(du)(du)層(ceng)厚度(du)測(ce)量(liang)而精心(xin)設(she)計的一款(kuan)新型(xing)高端儀器。主要應用(yong)于：金屬(shu)鍍(du)(du)(du)層(ceng)的厚度(du)測(ce)量(liang)、電鍍(du)(du)(du)液和鍍(du)(du)(du)層(ceng)含量(liang)的測(ce)定；黃(huang)金、鉑、銀等貴金屬(shu)和各種首(shou)飾的含量(liang)檢測(ce)。
鍍層厚度檢測儀 膜厚儀性能優勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊(ji)軟件(jian)界面測試(shi)(shi)按鈕，自(zi)動(dong)完成測試(shi)(shi)并顯示測試(shi)(shi)結果
鍍層厚度檢測儀 膜厚儀技術指標
分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
同時檢測元素：24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術，最小孔徑達0.1mm，最小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃
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