鍍層厚度(du)測試儀 電鍍層測厚儀：用X射線(xian)照射試樣時，試樣可以被激(ji)發出(chu)各(ge)種波長的熒光(guang)X射線(xian)，需要把混合(he)的X射線(xian)按波長（或(huo)能量(liang)）分(fen)開，分(fen)別測量(liang)不同波長（或(huo)能量(liang)）的X射線(xian)的強度(du)，以進行(xing)定性(xing)和(he)定量(liang)分(fen)析，為(wei)此使用的儀器(qi)叫X射線(xian)熒光(guang)光(guang)譜儀。
X射線熒光光譜儀工作原理介紹 鍍層厚度測試儀 電鍍層測厚儀
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。下是這兩類儀器的原理圖。
Thick 8000 鍍層厚度測試儀 電鍍層測厚儀
分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
同時檢測元素：最多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術，最小孔徑達0.1mm，最小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃
Thick800A
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層
一次可同時分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
長期工作穩定性高
度適應范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg
公司介紹
江蘇天(tian)瑞儀(yi)(yi)器股份有限公司是研(yan)發生(sheng)產銷售ROHS分析(xi)(xi)儀(yi)(yi)，氣相(xiang)色(se)譜(pu)質譜(pu)聯用儀(yi)(yi),鍍層測厚儀(yi)(yi)，等(deng)離子(zi)發射光譜(pu)儀(yi)(yi)，X射線(xian)鍍層測厚儀(yi)(yi)，氣相(xiang)色(se)譜(pu)儀(yi)(yi)，液(ye)相(xiang)色(se)譜(pu)儀(yi)(yi)，ROHS2.0分析(xi)(xi)儀(yi)(yi)，XRF合金(jin)分析(xi)(xi)儀(yi)(yi)，X熒光光譜(pu)儀(yi)(yi)，汽油中(zhong)硅含量檢測儀(yi)(yi)，手(shou)持式合金(jin)分析(xi)(xi)儀(yi)(yi)等(deng)，涉及的儀(yi)(yi)器設備主要(yao)有EDX1800B,Thick800A，EDX1800E,Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000,OES8000S等(deng)。
江(jiang)蘇(su)天瑞儀器(qi)股份(fen)有限公司(si)大廈
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