Thick800a 鍍(du)層厚度檢測儀(yi)：Omnian以全(quan)程(cheng)掃(sao)描(miao)為(wei)定性分(fen)(fen)析(xi)的(de)(de)基礎，用13個合成的(de)(de)參考樣(yang)品建立掃(sao)描(miao)程(cheng)序獲得的(de)(de)測量(liang)強度，以此作為(wei)定量(liang)分(fen)(fen)析(xi)的(de)(de)依據；適用于分(fen)(fen)析(xi)范圍很寬的(de)(de)固(gu)體(ti)、粉末和液體(ti)試(shi)樣(yang)的(de)(de)快速無標樣(yang)近似定量(liang)（半定量(liang)）分(fen)(fen)析(xi)。
Thick800a 鍍層厚度檢測儀工作原理介紹
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。下是這兩類儀器的原理圖。
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。下圖是這兩類儀器的原理圖。
X射線熒光光譜儀分析的一般步驟是：選擇分析方法，樣品制備，儀器參數選擇與校準曲線的制作，試樣分析。
SuperQ是Axios系列X 射線熒光光譜分析儀的主操作軟件，控制光譜儀的運行和定性定量分析數據的處理。SuperQ先匯編各測量參數，再依次檢查光學電學條件、校正系數，zui后自動匯編建成定性或定量分析測量程序。
Omnian以(yi)全(quan)程掃描(miao)為(wei)定(ding)性分析(xi)(xi)(xi)的(de)(de)基礎，用(yong)13個(ge)合成的(de)(de)參考(kao)樣(yang)品建立(li)掃描(miao)程序獲(huo)得的(de)(de)測(ce)量(liang)強度，以(yi)此作為(wei)定(ding)量(liang)分析(xi)(xi)(xi)的(de)(de)依據(ju)；適用(yong)于分析(xi)(xi)(xi)范圍很寬的(de)(de)固體、粉末和液體試樣(yang)的(de)(de)快(kuai)速(su)無標(biao)樣(yang)近似定(ding)量(liang)（半定(ding)量(liang)）分析(xi)(xi)(xi)。
天(tian)(tian)瑞Thick800A,Thick600,Thick8000,,EDX1800BS,EDX1800B系列產品(pin)是天(tian)(tian)瑞集多(duo)年(nian)鍍層(ceng)行業(ye)的經驗，專(zhuan)門(men)研發(fa)用于(yu)鍍層(ceng)行業(ye)的多(duo)款儀(yi)(yi)器，可(ke)全自動軟(ruan)(ruan)件操作，可(ke)多(duo)點測(ce)試(shi)，由(you)軟(ruan)(ruan)件控制儀(yi)(yi)器的測(ce)試(shi)點，以及(ji)移動平臺。天(tian)(tian)瑞鍍層(ceng)測(ce)厚儀(yi)(yi)功能強大(da)，配上專(zhuan)門(men)為其(qi)開發(fa)的軟(ruan)(ruan)件，在鍍層(ceng)行業(ye)中可(ke)謂大(da)展身(shen)手。江蘇天(tian)(tian)瑞儀(yi)(yi)器股份有限公司是專(zhuan)業(ye)生產光譜(pu)、色譜(pu)、質譜(pu)等分析測(ce)試(shi)儀(yi)(yi)器及(ji)其(qi)軟(ruan)(ruan)件的研發(fa)、生產和銷售一體型企業(ye)。 2011年(nian)1月25日，天(tian)(tian)瑞儀(yi)(yi)器在深圳創業(ye)板塊(kuai)上市(shi)。
型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍(wei)為15℃至30℃。
Thick800a 鍍層厚度檢測儀
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用(yong)于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷(xiao)售和檢測機構(gou)；電鍍行業。
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