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Thick800a 鍍層厚度檢測儀

Thick800a 鍍層厚度檢測儀

簡要描述:

Thick800a 鍍層厚度檢測儀:Omnian以全程掃描為定性分析的基礎,用13個合成的參考樣品建立掃描程序獲得的測量強度,以此作為定量分析的依據;適用于分析范圍很寬的固體、粉末和液體試樣的快速無標樣近似定量(半定量)分析。

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  • 企業類型:制造商
  • 新舊程度:
  • 原產地:江蘇昆山
  • 環境溫度:15℃-30℃
  • 管流:50μA-1000μA
  • 儀器重量:75KG
  • 元素分析:硫(S)到鈾(U)
  • 精度:0.005mm

Thick800a 鍍層厚度檢測儀工作原理介紹
用X射線照射試樣時,試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強度,以進行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長,同時又有一定能量,因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型和能量色散型。下是這兩類儀器的原理圖。
    用X射線照射試樣時,試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強度,以進行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長,同時又有一定能量,因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型和能量色散型。下圖是這兩類儀器的原理圖。
  X射線熒光光譜儀分析的一般步驟是:選擇分析方法,樣品制備,儀器參數選擇與校準曲線的制作,試樣分析。 
  SuperQ是Axios系列X 射線熒光光譜分析儀的主操作軟件,控制光譜儀的運行和定性定量分析數據的處理。SuperQ先匯編各測量參數,再依次檢查光學電學條件、校正系數,zui后自動匯編建成定性或定量分析測量程序。 
  Omnian以全程掃描為定性分析的基礎,用13個合成的參考樣品建立掃描程序獲得的測量強度,以此作為定量分析的依據;適用于分析范圍很寬的固體、粉末和液體試樣的快速無標樣近似定量(半定量)分析。

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天瑞Thick800A,Thick600,Thick8000,,EDX1800BS,EDX1800B系列產品是天瑞集多年鍍層行業的經驗,專門研發用于鍍層行業的多款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。天瑞鍍層測厚儀功能強大,配上專門為其開發的軟件,在鍍層行業中可謂大展身手。江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業生產光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售一體型企業。 2011年1月25日,天瑞儀器在深圳創業板塊上市。

800A.jpg

型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。

Thick800a 鍍層厚度檢測儀

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點,重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
應用領域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業;銀行,首飾銷售和檢測機構;電鍍行業。

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