無損鍍層測厚儀 X射線膜厚儀：Think600鍍層測厚儀使(shi)用(yong)高效而實用(yong)的(de)正比計數盒(he)和電(dian)制冷探測器(qi)，以(yi)實在的(de)價格定位(wei)滿足鍍層厚度(du)測量(liang)的(de)要求，且全(quan)新的(de)更具有(you)現(xian)代感(gan)的(de)外(wai)形、結構(gou)及色彩設計，使(shi)儀器(qi)操(cao)作(zuo)更人性化、更方便。
天瑞X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。
X射線熒光光譜儀工作原理介紹
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。下是這兩類儀器的原理圖。
Think600是(shi)集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術和經驗，以(yi)*的(de)(de)產品配置、功能齊全的(de)(de)測試(shi)軟件、友好的(de)(de)操作界面(mian)來滿足金屬鍍層及含量測定(ding)的(de)(de)需要，人(ren)性(xing)化的(de)(de)設計，使測試(shi)工作更(geng)加輕松完成。
Think600鍍層測厚儀使用高效而實用的正比計數盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。
無損鍍層測厚儀 X射線膜厚儀性能特點
長效穩定X銅光管
半導體硅片電制冷系統，摒棄液氮制冷
內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品
脈沖處理器，數據處理快速準確
手動開關樣品腔，操作安全方便
三重安全保護模式
整體鋼架結構、外型高貴時尚
FP軟件，無標準樣品時亦可測量
無損鍍層測厚儀 X射線膜厚儀技術指標
型號：THICK600
分析范圍： Ti-U，可分析3層15個元素
分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩壓電源）
測量時間：40秒（可根據實際情況調整）
探測器分辨率：（160±5）eV
光管高壓：5-50kV
管流：50μA-1000μA
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：30%-70%
準直器：配置不同直徑準直孔，孔徑φ0.2mm
儀器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm
儀器重量：30kg
應用領域
廣泛應用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛浴等行業
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