國(guo)產膜厚儀價格 鍍層(ceng)厚度檢測儀:用X射(she)線照射(she)試樣時,試樣可以(yi)被激發出各種波(bo)(bo)長(chang)的(de)熒(ying)光(guang)(guang)X射(she)線,需要把混合的(de)X射(she)線按波(bo)(bo)長(chang)(或(huo)能量)分開(kai),分別測量不同波(bo)(bo)長(chang)(或(huo)能量)的(de)X射(she)線的(de)強度,以(yi)進行定性(xing)和(he)定量分析,為此使用的(de)儀器叫(jiao)X射(she)線熒(ying)光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜儀。
國產膜厚儀價格 鍍層厚度檢測儀
X射線熒光光譜儀工作原理介紹
用X射線照射試樣時,試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強度,以進行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長,同時又有一定能量,因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型和能量色散型。下是這兩類儀器的原理圖。
用X射線照射試樣時,試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強度,以進行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長,同時又有一定能量,因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型和能量色散型。下圖是這兩類儀器的原理圖。
X射線熒光光譜儀分析的一般步驟是:選擇分析方法,樣品制備,儀器參數選擇與校準曲線的制作,試樣分析。
無損天瑞(rui)X熒光光譜鍍(du)層(ceng)膜厚檢測儀,天瑞(rui)鍍(du)層(ceng)測厚儀
應用領域
黃金(jin),鉑(bo),銀等貴金(jin)屬和各種首飾的含量檢(jian)測.
金屬鍍(du)層的厚(hou)度(du)測量, 電(dian)鍍(du)液和(he)鍍(du)層含(han)量的測定。
主要用于(yu)貴金屬加工和首飾加工行業;銀行,首飾銷(xiao)售和檢測機(ji)構;電鍍(du)行業。
儀器介(jie)紹
Thick800A是天瑞集多(duo)年的(de)經驗,專(zhuan)門(men)研發(fa)用于鍍層(ceng)(ceng)行業(ye)的(de)一(yi)款儀(yi)器(qi),可全自動軟(ruan)(ruan)件操作(zuo),可多(duo)點(dian)(dian)測試,由(you)軟(ruan)(ruan)件控制儀(yi)器(qi)的(de)測試點(dian)(dian),以及移動平臺。是一(yi)款功(gong)能強(qiang)大的(de)儀(yi)器(qi),配上(shang)專(zhuan)門(men)為其開發(fa)的(de)軟(ruan)(ruan)件,在鍍層(ceng)(ceng)行業(ye)中可謂大展身手。
型號:Thick 800A
元素(su)分析范(fan)圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上(shang)元素,五層(ceng)(ceng)鍍層(ceng)(ceng)。
分析含量一(yi)般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在(zai)50μm以內(每(mei)種材(cai)料(liao)有所不同(tong))
任意多個可選擇的分析和識別模型(xing)。
相互獨(du)立的基體效應校正模(mo)型(xing)。
多變量非線性回收程序
度適(shi)應范圍為15℃至30℃。
電(dian)源(yuan): 交流220V±5V, 建議配置(zhi)交流凈化穩壓電(dian)源(yuan)。
外觀尺(chi)寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣(yang)品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
國產膜厚儀價格 鍍層厚度檢測儀標準配置(zhi)
開放式樣(yang)品腔。
精密二維(wei)移動(dong)樣品(pin)平臺(tai),探測(ce)器(qi)和(he)X光管上(shang)下可動(dong),實現三(san)維(wei)移動(dong)。
雙激光(guang)定位裝置(zhi)。
鉛玻(bo)璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(ce)器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源(yuan)。
X光管。
高度傳感器
保護傳感(gan)器(qi)
計算機及噴墨打(da)印(yin)機
無損天瑞X熒光光譜鍍層膜厚檢測儀,天瑞鍍層測厚儀