膜厚(hou)(hou)儀 鍍(du)層(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)度檢測(ce)儀： Thick 8000 鍍(du)層(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀是專門(men)針對(dui)鍍(du)層(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)度測(ce)量而(er)精心(xin)設計的(de)(de)一款新(xin)型儀器。主(zhu)要應(ying)用于：金(jin)屬鍍(du)層(ceng)(ceng)的(de)(de)厚(hou)(hou)度測(ce)量、電鍍(du)液和鍍(du)層(ceng)(ceng)含量的(de)(de)測(ce)定；黃金(jin)、鉑、銀等(deng)貴金(jin)屬和各種首飾的(de)(de)含量檢測(ce)。
X射(she)(she)(she)線(xian)熒(ying)光(guang)光(guang)譜(pu)儀(yi)特(te)點X射(she)(she)(she)線(xian)熒(ying)光(guang)光(guang)譜(pu)儀(yi)的(de)(de)(de)特(te)征是(shi)(shi)波(bo)長(chang)非常短，頻率很高，其波(bo)長(chang)約為（20～0.06）×10-8厘米之間。因(yin)此X射(she)(she)(she)線(xian)必(bi)定是(shi)(shi)由于原(yuan)子在(zai)能(neng)(neng)量相差懸殊的(de)(de)(de)兩個(ge)能(neng)(neng)級之間的(de)(de)(de)躍遷(qian)而(er)產生的(de)(de)(de)。所以(yi)X射(she)(she)(she)線(xian)光(guang)譜(pu)是(shi)(shi)原(yuan)子中zui靠內層(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)電子躍遷(qian)時發出來的(de)(de)(de)，而(er)光(guang)學光(guang)譜(pu)則(ze)是(shi)(shi)外層(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)電子躍遷(qian)時發射(she)(she)(she)出來的(de)(de)(de)。X射(she)(she)(she)線(xian)在(zai)電場(chang)磁(ci)場(chang)中不(bu)偏轉。這說明X射(she)(she)(she)線(xian)是(shi)(shi)不(bu)帶電的(de)(de)(de)粒子流，因(yin)此能(neng)(neng)產生干涉、衍(yan)射(she)(she)(she)現象(xiang)。
X射(she)(she)線(xian)熒光光譜儀的(de)(de)X射(she)(she)線(xian)譜由(you)連(lian)(lian)(lian)續(xu)譜和標識譜兩部分組成 ，標識譜重疊(die)在(zai)連(lian)(lian)(lian)續(xu)譜背景上(shang)，連(lian)(lian)(lian)續(xu)譜是由(you)于高速(su)(su)電(dian)子(zi)受靶(ba)(ba)極阻擋而產(chan)生(sheng)的(de)(de) 軔致輻射(she)(she)，其短(duan)波極限λ 0 由(you)加速(su)(su)電(dian)壓(ya)V決定(ding)：λ 0 = hc /( ev )為普朗克常數，e為電(dian)子(zi)電(dian)量，c為真空中的(de)(de)光速(su)(su)。標識譜是由(you)一系列線(xian)狀(zhuang)譜組成，它們是因靶(ba)(ba)元素(su)內層電(dian)子(zi)的(de)(de)躍遷而產(chan)生(sheng)，每種元素(su)各有(you)一套特定(ding)的(de)(de)標識譜，反(fan)映了原子(zi)殼(ke)層結構 。同步輻射(she)(she)源可產(chan)生(sheng)高強度的(de)(de)連(lian)(lian)(lian)續(xu)譜X射(she)(she)線(xian)，現(xian)已成為重要的(de)(de)X射(she)(she)線(xian)源。
X射線(xian)熒光(guang)光(guang)譜儀的X射線(xian)具有很(hen)高的穿透本領，能(neng)透過許(xu)多對可見光(guang)不透明(ming)的物質，如墨紙、木料(liao)等(deng)(deng)。這種(zhong)肉(rou)眼看不見的射線(xian)可以(yi)使很(hen)多固體材料(liao)發生可見的熒光(guang)，使照相底片(pian)感光(guang)以(yi)及空氣(qi)電離(li)等(deng)(deng)效應，波長越短的X射線(xian)能(neng)量(liang)越大，叫做硬X射線(xian)，波長長的X射線(xian)能(neng)量(liang)較低，稱為軟X射線(xian)。當在(zai)真空中，高速運動的電子轟擊金屬靶(ba)(ba)時(shi)，靶(ba)(ba)就(jiu)放出(chu)X射線(xian)，這就(jiu)是(shi)X射線(xian)管的結(jie)構原(yuan)理。
天瑞Thick800A,Thick600,Thick8000,,EDX1800BS,EDX1800B系列產品是天瑞集(ji)多年鍍(du)層(ceng)行(xing)(xing)(xing)業的經驗，專(zhuan)(zhuan)門研發(fa)用于鍍(du)層(ceng)行(xing)(xing)(xing)業的多款儀(yi)(yi)(yi)器(qi)，可全自動軟(ruan)件(jian)(jian)操作(zuo)，可多點測試(shi)(shi)，由軟(ruan)件(jian)(jian)控制儀(yi)(yi)(yi)器(qi)的測試(shi)(shi)點，以及移動平臺。天瑞鍍(du)層(ceng)測厚儀(yi)(yi)(yi)功(gong)能強大，配上(shang)專(zhuan)(zhuan)門為其(qi)(qi)開發(fa)的軟(ruan)件(jian)(jian)，在鍍(du)層(ceng)行(xing)(xing)(xing)業中(zhong)可謂(wei)大展身(shen)手。江蘇天瑞儀(yi)(yi)(yi)器(qi)股份(fen)有限公司是專(zhuan)(zhuan)業生產光譜、色譜、質譜等分析測試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)器(qi)及其(qi)(qi)軟(ruan)件(jian)(jian)的研發(fa)、生產和銷售一體(ti)型企業。 2011年1月25日，天瑞儀(yi)(yi)(yi)器(qi)在深圳創(chuang)業板塊(kuai)上(shang)市。股票(piao)代碼為300165。
Thick 8000 鍍層測(ce)(ce)(ce)厚儀(yi)是專門(men)針對(dui)鍍層厚度(du)測(ce)(ce)(ce)量而精(jing)心(xin)設計的一款新(xin)型高(gao)端(duan)儀(yi)器。主要應用(yong)于(yu)：金(jin)屬鍍層的厚度(du)測(ce)(ce)(ce)量、電鍍液和(he)鍍層含量的測(ce)(ce)(ce)定(ding)；黃金(jin)、鉑、銀等貴金(jin)屬和(he)各種(zhong)首飾的含量檢測(ce)(ce)(ce)。
膜厚儀 鍍層厚度檢測儀性能優勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示(shi)測試結(jie)果
膜厚儀 鍍層厚度檢測儀技術指標
分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
同時檢測元素：24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術，最小孔徑達0.1mm，最小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃
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