• 企業類型：制造商
• 新舊程度：新
• 原產地：江蘇

X熒光鍍層分析儀特點

滿足(zu)各種不同(tong)厚度樣品以及不規則表面樣品的測試(shi)需(xu)求
φ0.1mm的小孔準直器可(ke)以滿(man)足微小測試(shi)點的需求
高精(jing)度移(yi)動平臺可定位測試點，重復(fu)定位精(jing)度小于0.005mm
采(cai)用(yong)高度定位激光(guang)，可自動定位測試(shi)高度
定(ding)(ding)位激光(guang)確定(ding)(ding)定(ding)(ding)位光(guang)斑(ban)，確保(bao)測試點與光(guang)斑(ban)對齊
鼠(shu)標(biao)可控(kong)制移動平臺，鼠(shu)標(biao)點(dian)擊的位置就是被測點(dian)
高分(fen)辨率探頭使分(fen)析結果更加精準
良好的射線(xian)屏蔽作用
測試口高(gao)度敏感(gan)性傳感(gan)器保護(hu)

技術指標

型號(hao)：Thick 800A
元(yuan)素(su)分析范圍從硫(S)到鈾(you)（U）。
同時可以(yi)分析30種以(yi)上元素，五層(ceng)鍍層(ceng)。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍(du)層厚度一般在50μm以內(nei)（每種材料有所(suo)不同）
任意多(duo)個可選擇的分(fen)析和識別模型。
相(xiang)互獨立的基體效應(ying)校(xiao)正模型。
多變量非線(xian)性回收程序(xu)
度適應范圍為15℃至30℃。
電(dian)源(yuan): 交(jiao)流220V±5V, 建議配置交(jiao)流凈化穩壓電(dian)源(yuan)。
外觀尺(chi)寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺(chi)寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

X熒光鍍層分析儀標準配(pei)置

開放式樣品腔。
精(jing)密二維移動(dong)(dong)樣品平臺(tai)，探(tan)測(ce)器(qi)和X光管上下可動(dong)(dong)，實現三維移動(dong)(dong)。
雙激(ji)光定(ding)位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探(tan)測器(qi)。
信號檢(jian)測電(dian)子電(dian)路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計(ji)算機(ji)及噴墨打印機(ji)

應(ying)用(yong)領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各(ge)種首飾的含量(liang)檢測.
金(jin)屬(shu)鍍層的厚度測(ce)量(liang), 電鍍液(ye)和鍍層含量(liang)的測(ce)定。
主要(yao)用于貴金(jin)屬加工和(he)首(shou)飾加工行(xing)業；銀行(xing)，首(shou)飾銷售和(he)檢測(ce)機(ji)構；電鍍行(xing)業。

(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可精準分析；
(2)、對(dui)RoHS有害元素檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)、重(zhong)金屬(shu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)、槽液雜質檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)、水(shui)質在線監測(ce)(ce)(ce)可(ke)進(jin)行(xing)快(kuai)速檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)，檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)環境里的重(zhong)金屬(shu)是(shi)否超標。
同時具(ju)有以下特點(dian)
快速：1分鐘(zhong)就(jiu)可(ke)以測定樣品(pin)鍍(du)層的(de)厚度，并達到測量精度要求。
方便：X熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀部分機型采用(yong)進(jin)口(kou)國際上*的(de)電制(zhi)(zhi)冷(leng)半導體(ti)探測器，能量(liang)分辨(bian)率(lv)更優于(yu)135eV，測試精度(du)更高(gao)。并(bing)且不用(yong)液氮制(zhi)(zhi)冷(leng)，不用(yong)定期補充液氮，操作使(shi)用(yong)更加(jia)方便，并(bing)且運(yun)行成本比(bi)同類(lei)的(de)其他(ta)產品更低。
無損：測試前(qian)后，樣品無任何形式(shi)的變化(hua)。
直(zhi)觀：實時譜圖，可直(zhi)觀顯示(shi)元素含量。
測試范圍廣(guang)：X熒光光譜儀(yi)，是一種物理(li)分析(xi)方法，其分析(xi)與樣(yang)品的化學結(jie)合狀態無關。對(dui)在化學性(xing)質上屬同(tong)一族(zu)的元素也能進行分析(xi),抽真(zhen)空可以測試從Na到U。
可靠(kao)性高：由于測(ce)(ce)試過程無人為因素干擾，儀(yi)器自(zi)身分(fen)析精度、重復性與穩(wen)定性很(hen)高。所以，其測(ce)(ce)量的可靠(kao)性更高。
滿(man)足(zu)不(bu)同需求：測試(shi)軟(ruan)件(jian)為WINDOWS操作(zuo)(zuo)系統軟(ruan)件(jian)，操作(zuo)(zuo)方便、功能強大(da)，軟(ruan)件(jian)可監控儀器(qi)狀態，設(she)定儀器(qi)參(can)數，并就(jiu)有多種*的分析(xi)方法(fa)，工作(zuo)(zuo)曲(qu)線(xian)制作(zuo)(zuo)方法(fa)靈活多樣(yang)，方便滿(man)足(zu)不(bu)同客戶(hu)不(bu)同樣(yang)品的測試(shi)需要。
性價(jia)比高：相比化學分析(xi)類(lei)儀器，X熒光光譜儀在(zai)總(zong)體使(shi)用成本上有優(you)勢的，可以讓更多的企業和廠(chang)家接受。
簡易(yi)：對人員技術要求較低，操作(zuo)簡單方便,并且維護簡單方便。