• 企業類型：制造商
• 新舊程度：新
• 原產地：江蘇

鍍層分析儀器

電鍍(du)(du)是國民經濟中(zhong)必不(bu)可少的(de)基礎工藝性行業(ye)，同時又是重(zhong)污染行業(ye)。電鍍(du)(du)所帶來的(de)廢氣(qi)、廢水、廢渣嚴(yan)重(zhong)地影響人們的(de)生活與(yu)健(jian)康(kang)。要(yao)提高電鍍(du)(du)企(qi)業(ye)的(de)實力(li)就必須(xu)從企(qi)業(ye)的(de)硬件著手。而內(nei)部管控測試(shi)是必不(bu)可少的(de)環節，其(qi)中(zhong)產品膜厚(hou)檢(jian)測、RoHS有害(hai)元素(su)檢(jian)測、電鍍(du)(du)液分析、電鍍(du)(du)工業(ye)廢水、廢渣中(zhong)的(de)重(zhong)金屬(shu)檢(jian)測和(he)水質在線檢(jian)測等更是重(zhong)中(zhong)之重(zhong)。為(wei)此江蘇天瑞儀器股份有限(xian)公司(si)基于強大的(de)研發和(he)應用能力(li)特別為(wei)電鍍(du)(du)行業(ye)制定了一套有效的(de)測試(shi)解決方案。

鍍層膜厚檢測：有效進行鍍層厚度的產品質量管控
電鍍液分析：檢測電鍍液成分及濃度，確保鍍層質量
水質在線監測：有效監測電鍍所產生的工業廢水中的有害物質含量，已達到排放標準
重(zhong)金屬及(ji)槽(cao)液雜質檢測(ce)(ce)：有效檢測(ce)(ce)電鍍(du)(du)成品，以及(ji)由電鍍(du)(du)所產(chan)生的(de)工業廢(fei)水、廢(fei)物(wu)中的(de)重(zhong)金屬含量(liang) 

1、鍍層分析儀器概述

1、儀器概述

    Thick 8000 鍍(du)層測厚(hou)儀(yi)(yi)是專門針對(dui)鍍(du)層厚(hou)度測量而(er)精(jing)心設計的(de)一(yi)款新型高端儀(yi)(yi)器。主(zhu)要(yao)應用于：金(jin)屬鍍(du)層的(de)厚(hou)度測量、電(dian)鍍(du)液和(he)鍍(du)層含(han)量的(de)測定；黃金(jin)、鉑、銀等(deng)貴金(jin)屬和(he)各種首(shou)飾的(de)含(han)量檢(jian)測。

2、性能優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果(guo)

3、技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操(cao)作環境溫(wen)度 15℃～30℃

4、測試實例

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使(shi)用Thick800A儀(yi)器對銅鍍鎳(nie)樣品(pin)實際測(ce)試Ni層厚度，七次的結果其標準偏(pian)差(cha)和(he)相對標準偏(pian)差(cha)。且可在(zai)樣品(pin)上進行定(ding)位測(ce)試，其測(ce)試位置如(ru)圖。

銅鍍(du)鎳件X射線熒(ying)光測(ce)試(shi)譜(pu)圖

銅鍍鎳件測試值

結論

實驗表明，使用Thick800A 儀器(qi)對鍍件膜(mo)厚測(ce)試(shi)，結果(guo)準(zhun)確度(du)高，速(su)度(du)快（幾十秒），其測(ce)試(shi)效(xiao)果(guo)*可以和顯微(wei)鏡測(ce)試(shi)法媲美。

Thick 8000 鍍層測厚儀

1、儀器概述

    Thick 8000 鍍(du)(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀是專(zhuan)門針對鍍(du)(du)層(ceng)厚(hou)度測(ce)量(liang)而精心設計(ji)的一(yi)款新型(xing)高端儀器。主要應用于：金(jin)屬(shu)鍍(du)(du)層(ceng)的厚(hou)度測(ce)量(liang)、電(dian)鍍(du)(du)液和鍍(du)(du)層(ceng)含量(liang)的測(ce)定(ding)；黃金(jin)、鉑(bo)、銀等(deng)貴金(jin)屬(shu)和各種首飾的含量(liang)檢測(ce)。

2、性能優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件(jian)界面測(ce)(ce)試(shi)(shi)按鈕，自動完成測(ce)(ce)試(shi)(shi)并顯示(shi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)結(jie)果

3、技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作(zuo)環境溫度 15℃～30℃

4、測試實例

在保證計數率的情況下能(neng)有(you)效(xiao)分辨相近元(yuan)素，大大提高測(ce)試穩定性、降低檢測(ce)限。

11次測量結果（Au-Cu)的穩定性數據(ju)對比如下：

(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析(xi)可精準分析(xi)；
(2)重(zhong)金屬(shu)檢測(ce)、槽液雜質(zhi)(zhi)檢測(ce)、水(shui)質(zhi)(zhi)在線監測(ce)可進行(xing)快(kuai)速檢測(ce)，檢測(ce)環(huan)境里(li)的重(zhong)金屬(shu)是(shi)否超標。
同時具(ju)有以下特(te)點
快速：1分(fen)鐘就可以測(ce)(ce)定樣品鍍層的(de)厚度(du)，并達到測(ce)(ce)量精度(du)要求。
方便：X熒光光譜儀部(bu)分(fen)機型采用(yong)進口國際上(shang)*的電制冷(leng)半導體探測(ce)器，能量(liang)分(fen)辨率更(geng)(geng)優于135eV，測(ce)試精度(du)更(geng)(geng)高。并(bing)且不用(yong)液(ye)氮(dan)制冷(leng)，不用(yong)定期補充液(ye)氮(dan)，操作使用(yong)更(geng)(geng)加方便，并(bing)且運行成本(ben)比(bi)同類的其他產品更(geng)(geng)低。
無損：測試前后，樣品無任何形(xing)式的變化。
直(zhi)觀：實(shi)時譜圖，可(ke)直(zhi)觀顯示元素含(han)量。
測試(shi)范圍廣：X熒光光譜儀(yi)，是一種物理分析方法，其分析與(yu)樣(yang)品的化學結(jie)合(he)狀態無(wu)關。對在化學性質上屬同一族的元(yuan)素也能(neng)進行分析,抽(chou)真(zhen)空可(ke)以測試(shi)從Na到(dao)U。
可靠(kao)性(xing)(xing)高：由(you)于測(ce)(ce)試過程(cheng)無人(ren)為因素干擾，儀器自身分析精度、重復(fu)性(xing)(xing)與穩定(ding)性(xing)(xing)很高。所以，其測(ce)(ce)量(liang)的可靠(kao)性(xing)(xing)更高。
滿足(zu)不(bu)同需(xu)求：測(ce)試軟件(jian)為WINDOWS操作系統(tong)軟件(jian)，操作方便(bian)、功能強(qiang)大，軟件(jian)可監(jian)控(kong)儀器(qi)(qi)狀態，設定(ding)儀器(qi)(qi)參(can)數，并就有多種*的(de)分析方法(fa)，工作曲線制(zhi)作方法(fa)靈活多樣，方便(bian)滿足(zu)不(bu)同客戶不(bu)同樣品的(de)測(ce)試需(xu)要。
性價比高：相(xiang)比化學分析類儀器，X熒光光譜(pu)儀在總體使用成本上(shang)有優勢的，可以讓更(geng)多的企業和廠家接受(shou)。
簡易：對(dui)人員(yuan)技術要(yao)求較低，操作簡單方(fang)便,并且維護簡單方(fang)便。