• 企業類型：制造商
• 新舊程度：新
• 原產地：江蘇

Thick800A X熒光鍍層分析儀性能特(te)點

滿(man)足各(ge)種(zhong)不同厚(hou)度樣(yang)品以及不規(gui)則表面樣(yang)品的測(ce)試需求(qiu)
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高(gao)精(jing)度移動平臺可定位測試(shi)點，重復定位精(jing)度小于0.005mm
采用高度定(ding)位激(ji)光，可自(zi)動(dong)定(ding)位測試高度
定(ding)位(wei)激(ji)光(guang)確定(ding)定(ding)位(wei)光(guang)斑，確保測試點與光(guang)斑對齊(qi)
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位(wei)置就是被測(ce)點
高分(fen)辨(bian)率探頭使分(fen)析結(jie)果更加精準
良好(hao)的射線屏(ping)蔽(bi)作用
測(ce)試(shi)口高度敏(min)感性(xing)傳感器保護(hu)

技術指標(biao)

型號：Thick 800A
元素分(fen)析范(fan)圍(wei)從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五(wu)層(ceng)鍍層(ceng)。
分析(xi)含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層(ceng)厚度一般在50μm以(yi)內（每種(zhong)材料有(you)所不同(tong)）
任意多個(ge)可(ke)選(xuan)擇的分析和識別模型(xing)。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性(xing)回收(shou)程序
度適應范(fan)圍為(wei)15℃至30℃。
電(dian)源: 交流220V±5V, 建議(yi)配置(zhi)交流凈化穩壓電(dian)源。
外觀尺寸(cun)： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

Thick800A X熒光鍍層分析儀標(biao)準(zhun)配置

開放式樣品腔(qiang)。
精密二維移動(dong)樣(yang)品平臺，探(tan)測器和X光管(guan)上下可動(dong)，實現三維移動(dong)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探(tan)測器。
信號檢(jian)測電子電路。
高(gao)低壓電(dian)源。
X光管(guan)。
高度傳感器
保護傳感器(qi)
計算(suan)機及噴墨打印機

應用(yong)領域

黃(huang)金，鉑，銀等貴金屬和(he)各種首(shou)飾(shi)的含量檢測.
金屬鍍層的厚(hou)度測量(liang)(liang), 電鍍液(ye)和鍍層含量(liang)(liang)的測定。
主要用于(yu)貴金屬(shu)加(jia)工(gong)和首(shou)飾(shi)加(jia)工(gong)行業；銀(yin)行，首(shou)飾(shi)銷售和檢測(ce)機構；電鍍行業。

(1)、對鍍層膜厚(hou)檢測(ce)、電鍍液分析可精準分析；
(2)、對(dui)RoHS有(you)害元素檢測(ce)、重金(jin)屬檢測(ce)、槽液雜質(zhi)檢測(ce)、水(shui)質(zhi)在線監測(ce)可進(jin)行快速檢測(ce)，檢測(ce)環境里的重金(jin)屬是否超(chao)標。
同時具有以下特(te)點
快速(su)：1分鐘就可以(yi)測(ce)定樣品鍍層(ceng)的厚(hou)度(du)，并達(da)到(dao)測(ce)量精度(du)要(yao)求。
方(fang)便(bian)：X熒(ying)光光譜儀部分機型采用(yong)進(jin)口國際(ji)上(shang)*的電制(zhi)冷半導體探(tan)測(ce)器，能量(liang)分辨率(lv)更(geng)優(you)于135eV，測(ce)試精度更(geng)高。并且不(bu)用(yong)液(ye)(ye)氮制(zhi)冷，不(bu)用(yong)定期補充液(ye)(ye)氮，操作(zuo)使(shi)用(yong)更(geng)加方(fang)便(bian)，并且運行成本比同類(lei)的其他產品更(geng)低。
無損：測試前(qian)后，樣品無任何形式(shi)的變化。
直觀(guan)：實(shi)時譜(pu)圖(tu)，可直觀(guan)顯示元(yuan)素含量(liang)。
測(ce)試(shi)(shi)范圍廣：X熒光(guang)光(guang)譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品(pin)的(de)化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的(de)元(yuan)素也能(neng)進行分析,抽真空可以測(ce)試(shi)(shi)從Na到U。
可(ke)靠性高：由于(yu)測(ce)試過程無人為因素(su)干(gan)擾，儀器(qi)自身分析精度、重復性與穩定(ding)性很高。所以，其測(ce)量的可(ke)靠性更高。
滿(man)(man)足不(bu)同(tong)需求(qiu)：測試(shi)(shi)軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)為WINDOWS操(cao)作系統軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)，操(cao)作方便(bian)、功能(neng)強(qiang)大，軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)可監控儀(yi)器狀態，設(she)定儀(yi)器參數(shu)，并就有多種*的(de)分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便(bian)滿(man)(man)足不(bu)同(tong)客戶不(bu)同(tong)樣品(pin)的(de)測試(shi)(shi)需要。
性價比(bi)高(gao)：相(xiang)比(bi)化學分析類儀(yi)器，X熒光光譜(pu)儀(yi)在總體使用成本(ben)上有優勢的(de)，可以讓更(geng)多的(de)企業和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較(jiao)低，操作簡單方(fang)(fang)便,并(bing)且(qie)維護簡單方(fang)(fang)便。