鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)分析(xi)儀器:Thick 8000 鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)測(ce)厚儀是專(zhuan)門(men)針對鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)厚度測(ce)量而精(jing)心設計的(de)(de)(de)一款新型儀器。主要(yao)應用于:金屬鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)厚度測(ce)量、電(dian)鍍(du)(du)液(ye)和鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)含量的(de)(de)(de)測(ce)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的(de)(de)(de)含量檢測(ce)。
鍍層分析儀器
電鍍(du)是國民經(jing)濟中必不(bu)可(ke)(ke)少的(de)(de)(de)基礎工藝性行(xing)(xing)業,同(tong)時又(you)是重(zhong)(zhong)污染行(xing)(xing)業。電鍍(du)所(suo)帶來的(de)(de)(de)廢(fei)(fei)(fei)氣、廢(fei)(fei)(fei)水(shui)(shui)(shui)、廢(fei)(fei)(fei)渣(zha)嚴重(zhong)(zhong)地影響人們的(de)(de)(de)生活與(yu)健康(kang)。要提高(gao)電鍍(du)企(qi)業的(de)(de)(de)實力(li)就(jiu)必須從企(qi)業的(de)(de)(de)硬件著(zhu)手。而(er)內部管(guan)控測(ce)試是必不(bu)可(ke)(ke)少的(de)(de)(de)環節(jie),其中產品(pin)膜厚(hou)檢測(ce)、RoHS有害元素檢測(ce)、電鍍(du)液(ye)分析(xi)、電鍍(du)工業廢(fei)(fei)(fei)水(shui)(shui)(shui)、廢(fei)(fei)(fei)渣(zha)中的(de)(de)(de)重(zhong)(zhong)金屬檢測(ce)和水(shui)(shui)(shui)質在線檢測(ce)等更是重(zhong)(zhong)中之重(zhong)(zhong)。為此江蘇天(tian)瑞儀器股份有限公司(si)基于強(qiang)大的(de)(de)(de)研發和應(ying)用能力(li)特別(bie)為電鍍(du)行(xing)(xing)業制定了一(yi)套有效的(de)(de)(de)測(ce)試解決方案。
鍍層膜厚檢測:有效進行鍍層厚度的產品質量管控
電鍍液分析:檢測電鍍液成分及濃度,確保鍍層質量
水質在線監測:有效監測電鍍所產生的工業廢水中的有害物質含量,已達到排放標準
重金(jin)屬(shu)及槽液(ye)雜質檢測:有效檢測電鍍(du)成品(pin),以及由電鍍(du)所產生的工業廢水、廢物中的重金(jin)屬(shu)含(han)量
1、鍍層分析儀器概述
1、儀器概述
Thick 8000 鍍(du)層測(ce)厚儀(yi)是(shi)專門針對鍍(du)層厚度測(ce)量(liang)而精心設計的一款(kuan)新型高端儀(yi)器。主要應用于(yu):金(jin)屬(shu)鍍(du)層的厚度測(ce)量(liang)、電鍍(du)液和鍍(du)層含量(liang)的測(ce)定(ding);黃(huang)金(jin)、鉑(bo)、銀等貴金(jin)屬(shu)和各種(zhong)首(shou)飾的含量(liang)檢測(ce)。
2、性能優勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕,自(zi)動完(wan)成測試并(bing)顯示測試結(jie)果
3、技術指標
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作環境溫度 15℃~30℃
4、測試實例
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅(tong)鍍鎳樣品實際測試Ni層(ceng)厚度,七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位(wei)測試,其測試位(wei)置如圖。
銅鍍鎳件X射(she)線熒光測試譜圖
樣 品 名 | 成分Ni(%) | 鍍層Ni(um) |
吊扣 | 100 | 19.321 |
吊扣2# | 100 | 19.665 |
吊扣3# | 100 | 18.846 |
吊扣4# | 100 | 19.302 |
吊扣5# | 100 | 18.971 |
吊扣6# | 100 | 19.031 |
吊扣7# | 100 | 19.146 |
平均值 | 100 | 19.18314 |
標準偏差 | 0 | 0.273409 |
相對標準偏差 | 0 | 1.425257 |
銅鍍鎳件測試值
結論
實驗(yan)表明,使用Thick800A 儀(yi)器對(dui)鍍(du)件膜厚測試,結(jie)果準確度(du)高,速度(du)快(幾十秒(miao)),其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲(pi)美。
Thick 8000 鍍層測厚儀
1、儀器概述
Thick 8000 鍍層測(ce)厚(hou)(hou)儀是專門針對鍍層厚(hou)(hou)度(du)測(ce)量(liang)而精心設計的一款(kuan)新型(xing)高端儀器。主要應用于(yu):金(jin)屬(shu)鍍層的厚(hou)(hou)度(du)測(ce)量(liang)、電鍍液和(he)(he)鍍層含(han)量(liang)的測(ce)定;黃金(jin)、鉑、銀等貴金(jin)屬(shu)和(he)(he)各種首飾的含(han)量(liang)檢測(ce)。
2、性能優勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊(ji)軟件界面測(ce)試(shi)按(an)鈕(niu),自動完成測(ce)試(shi)并顯示測(ce)試(shi)結(jie)果
3、技術指標
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作環(huan)境(jing)溫度(du) 15℃~30℃
4、測試實例
在保證計數率的情況下能有效分辨相近元(yuan)素,大大提高測試穩(wen)定性、降低檢測限。
11次測量結果(Au-Cu)的穩定性數據對比如下(xia):
次數 | Thick8000 | 行業內其他儀器 |
1 | 0.042 | 0.0481 |
2 | 0.043 | 0.0459 |
3 | 0.043 | 0.0461 |
4 | 0.0412 | 0.0432 |
5 | 0.0429 | 0.0458 |
6 | 0.0436 | 0.0458 |
7 | 0.0427 | 0.0483 |
8 | 0.0425 | 0.045 |
9 | 0.0416 | 0.0455 |
10 | 0.0432 | 0.0485 |
11 | 0.0422 | 0.043 |
平均值 | 0.0425 | 0.0459 |
標準偏差 | 0.0007 | 0.0019 |
相對標準偏差 | 1.70% | 4.03% |
極差 | 0.0024 | 0.0055 |
(1)、對鍍層膜厚檢測(ce)、電(dian)鍍液(ye)分析可精(jing)準分析;
(2)重(zhong)(zhong)金(jin)屬檢(jian)測(ce)、槽液雜質檢(jian)測(ce)、水質在(zai)線監測(ce)可進行(xing)快(kuai)速(su)檢(jian)測(ce),檢(jian)測(ce)環境里的重(zhong)(zhong)金(jin)屬是(shi)否超標(biao)。
同時具(ju)有以下(xia)特點
快速:1分鐘就(jiu)可(ke)以(yi)測定樣品鍍(du)層的厚度,并達到(dao)測量精(jing)度要(yao)求。
方便:X熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀部分機型采用(yong)進口國際上(shang)*的(de)電(dian)制冷半導體探測器,能量分辨率(lv)更優(you)于135eV,測試精度更高(gao)。并且不(bu)用(yong)液(ye)氮(dan)制冷,不(bu)用(yong)定期補(bu)充液(ye)氮(dan),操作使用(yong)更加方便,并且運(yun)行成本比同類(lei)的(de)其(qi)他產品更低。
無損:測試前(qian)后,樣品無任(ren)何形式的變化。
直觀:實(shi)時譜圖,可直觀顯(xian)示元素含量。
測(ce)(ce)試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物(wu)理分(fen)(fen)析(xi)方法(fa),其分(fen)(fen)析(xi)與樣品(pin)的化學結合(he)狀(zhuang)態(tai)無(wu)關。對在化學性質上(shang)屬同一族的元素也(ye)能進行分(fen)(fen)析(xi),抽真空可(ke)以(yi)測(ce)(ce)試從Na到U。
可(ke)靠(kao)性(xing)高:由于測試過程無人(ren)為因素干擾,儀器自身(shen)分析精度(du)、重復(fu)性(xing)與穩定性(xing)很高。所以,其測量的可(ke)靠(kao)性(xing)更高。
滿(man)足不同需求:測試(shi)(shi)軟件為WINDOWS操作(zuo)系(xi)統軟件,操作(zuo)方(fang)便、功(gong)能強大(da),軟件可(ke)監(jian)控(kong)儀(yi)(yi)器狀態,設定儀(yi)(yi)器參數,并就有多種*的(de)分析方(fang)法(fa),工作(zuo)曲線制作(zuo)方(fang)法(fa)靈(ling)活多樣,方(fang)便滿(man)足不同客戶不同樣品的(de)測試(shi)(shi)需要。
性價(jia)比高:相比化學分析類儀器,X熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀在總體使用(yong)成本上有優勢的,可以讓更多的企業(ye)和(he)廠(chang)家接受。
簡(jian)易:對人員(yuan)技術要求較低,操作簡(jian)單(dan)方(fang)便,并且維護簡(jian)單(dan)方(fang)便。