• 企業類型：制造商
• 新舊程度：新
• 原產地：江蘇

產品介紹

鍍層檢測儀二手

電(dian)鍍(du)是(shi)(shi)國民經濟(ji)中(zhong)(zhong)必不可少的(de)基(ji)礎工(gong)藝性行(xing)業(ye)(ye)，同時(shi)又(you)是(shi)(shi)重污染行(xing)業(ye)(ye)。電(dian)鍍(du)所(suo)帶來(lai)的(de)廢(fei)(fei)氣、廢(fei)(fei)水(shui)、廢(fei)(fei)渣嚴重地(di)影響人們的(de)生(sheng)活與健康。要提高電(dian)鍍(du)企(qi)業(ye)(ye)的(de)實力就必須從企(qi)業(ye)(ye)的(de)硬件著手。而(er)內部管控測(ce)試(shi)是(shi)(shi)必不可少的(de)環(huan)節，其中(zhong)(zhong)產品膜(mo)厚(hou)檢測(ce)、RoHS有(you)(you)害元素檢測(ce)、電(dian)鍍(du)液(ye)分(fen)析、電(dian)鍍(du)工(gong)業(ye)(ye)廢(fei)(fei)水(shui)、廢(fei)(fei)渣中(zhong)(zhong)的(de)重金屬檢測(ce)和(he)水(shui)質在線檢測(ce)等更是(shi)(shi)重中(zhong)(zhong)之重。為此江(jiang)蘇天瑞儀器股(gu)份(fen)有(you)(you)限公(gong)司基(ji)于(yu)強大的(de)研發(fa)和(he)應(ying)用能力特別為電(dian)鍍(du)行(xing)業(ye)(ye)制定了一套(tao)有(you)(you)效的(de)測(ce)試(shi)解決方案。

鍍層膜厚檢測：有效進行鍍層厚度的產品質量管控
電鍍液分析：檢測電鍍液成分及濃度，確保鍍層質量
水質在線監測：有效監測電鍍所產生的工業廢水中的有害物質含量，已達到排放標準
重金屬及(ji)槽液(ye)雜質檢測(ce)：有效檢測(ce)電(dian)鍍成品，以及(ji)由電(dian)鍍所產生的工業廢(fei)水、廢(fei)物中的重金屬含量(liang) 

1、鍍層檢測儀儀器概述

儀器介(jie)紹

Thick800A是(shi)天瑞集多(duo)年的(de)經驗，專門(men)研發用于鍍(du)層行業的(de)一款儀器，可全自(zi)動軟件操作，可多(duo)點測(ce)試，由(you)軟件控制儀器的(de)測(ce)試點，以(yi)及移動平臺。是(shi)一款功能強大的(de)儀器，配上專門(men)為(wei)其開發的(de)軟件，在鍍(du)層行業中(zhong)可謂大展身手(shou)。

2、性能優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界面測(ce)試(shi)按鈕(niu)，自(zi)動完成測(ce)試(shi)并顯示(shi)測(ce)試(shi)結果

3、技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫(wen)度 15℃～30℃

4、測試實例

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品(pin)實際(ji)測試(shi)Ni層厚度(du)，七次(ci)的結果(guo)其標(biao)準偏差和(he)相(xiang)對標(biao)準偏差。且可(ke)在樣品(pin)上進行定位(wei)測試(shi)，其測試(shi)位(wei)置(zhi)如(ru)圖。

銅鍍鎳(nie)件X射線熒光(guang)測(ce)試譜圖

銅鍍鎳件測試值

結論

實驗表(biao)明，使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試，結果準確度(du)高(gao)，速度(du)快（幾十(shi)秒(miao)），其測試效(xiao)果*可以和(he)顯微(wei)鏡測試法媲美。

Thick 8000 鍍層測厚儀

1、儀器概述

    Thick 8000 鍍層(ceng)(ceng)測(ce)厚儀是(shi)專門(men)針對鍍層(ceng)(ceng)厚度測(ce)量(liang)(liang)而(er)精心設(she)計的(de)一款新型(xing)高端儀器。主(zhu)要應用于：金屬鍍層(ceng)(ceng)的(de)厚度測(ce)量(liang)(liang)、電(dian)鍍液(ye)和(he)鍍層(ceng)(ceng)含(han)量(liang)(liang)的(de)測(ce)定；黃(huang)金、鉑(bo)、銀等貴金屬和(he)各種首飾的(de)含(han)量(liang)(liang)檢測(ce)。

2、性能優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界(jie)面(mian)測試(shi)按鈕(niu)，自動(dong)完(wan)成測試(shi)并顯示測試(shi)結(jie)果

3、技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操(cao)作環境溫度 15℃～30℃

4、測試實例

在保(bao)證計數率(lv)的(de)情況(kuang)下能(neng)有(you)效分辨相(xiang)近元素，大(da)大(da)提高測試穩定性、降低檢測限(xian)。

11次測(ce)量結果(guo)（Au-Cu)的(de)穩定性數據對比(bi)如(ru)下：

(1)、對鍍(du)層膜厚檢測、電鍍(du)液分析可(ke)精準分析；
(2)重(zhong)金(jin)屬檢測(ce)(ce)、槽液雜質檢測(ce)(ce)、水質在(zai)線(xian)監測(ce)(ce)可進行快速檢測(ce)(ce)，檢測(ce)(ce)環境里的(de)重(zhong)金(jin)屬是否(fou)超標。
同時具有以下特點(dian)
快速：1分(fen)鐘就可(ke)以測定樣(yang)品鍍層(ceng)的厚度(du)，并達到測量精度(du)要求(qiu)。
方便：X熒光光譜儀部分(fen)機型(xing)采(cai)用進口國際上*的(de)電制冷(leng)(leng)半導體探測器(qi)，能量(liang)分(fen)辨率更優(you)于135eV，測試(shi)精(jing)度更高(gao)。并(bing)且不用液氮制冷(leng)(leng)，不用定期補(bu)充液氮，操作使用更加方便，并(bing)且運(yun)行成本比同(tong)類的(de)其他產品更低。
無(wu)損：測試前后，樣品無(wu)任何(he)形(xing)式的變化。
直觀：實時譜圖(tu)，可直觀顯示元素含量。
測(ce)試范圍廣：X熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀(yi)，是一種物理分(fen)析(xi)方法(fa)，其(qi)分(fen)析(xi)與樣(yang)品的化學結合狀態無(wu)關。對在化學性質上屬同(tong)一族的元素也能進行分(fen)析(xi),抽真空可以測(ce)試從Na到U。
可靠性(xing)高(gao)：由于測(ce)試過(guo)程無(wu)人為(wei)因(yin)素干擾，儀器(qi)自(zi)身分(fen)析精度(du)、重(zhong)復(fu)性(xing)與穩定性(xing)很高(gao)。所(suo)以，其(qi)測(ce)量的(de)可靠性(xing)更高(gao)。
滿(man)(man)足不(bu)同(tong)(tong)需求：測(ce)試軟(ruan)件為WINDOWS操(cao)作(zuo)(zuo)系(xi)統(tong)軟(ruan)件，操(cao)作(zuo)(zuo)方便、功(gong)能強大，軟(ruan)件可監控儀(yi)器(qi)狀態，設定儀(yi)器(qi)參(can)數(shu)，并就有多種*的分析(xi)方法，工(gong)作(zuo)(zuo)曲線(xian)制(zhi)作(zuo)(zuo)方法靈活多樣，方便滿(man)(man)足不(bu)同(tong)(tong)客戶不(bu)同(tong)(tong)樣品的測(ce)試需要。
性價比(bi)(bi)高：相(xiang)比(bi)(bi)化(hua)學分析類儀(yi)器，X熒光光譜儀(yi)在總體(ti)使用(yong)成本(ben)上有優勢的(de)，可以(yi)讓更多(duo)的(de)企業和廠(chang)家接受。
簡(jian)易：對(dui)人員技(ji)術(shu)要求(qiu)較低，操(cao)作簡(jian)單(dan)方(fang)便(bian),并且維(wei)護簡(jian)單(dan)方(fang)便(bian)。