• 企業類型：制造商
• 新舊程度：9.9成新
• 原產地：江蘇

產品介紹

電鍍層測試儀

電(dian)(dian)鍍(du)(du)是(shi)(shi)國民經濟中(zhong)必不(bu)可少的(de)(de)(de)基礎(chu)工藝性行(xing)(xing)業(ye)(ye)，同時又是(shi)(shi)重(zhong)(zhong)污(wu)染行(xing)(xing)業(ye)(ye)。電(dian)(dian)鍍(du)(du)所帶來的(de)(de)(de)廢(fei)(fei)氣、廢(fei)(fei)水、廢(fei)(fei)渣嚴(yan)重(zhong)(zhong)地影響人們的(de)(de)(de)生活與健康。要(yao)提高電(dian)(dian)鍍(du)(du)企(qi)業(ye)(ye)的(de)(de)(de)實力就(jiu)必須從企(qi)業(ye)(ye)的(de)(de)(de)硬件著手。而內部管控(kong)測(ce)試是(shi)(shi)必不(bu)可少的(de)(de)(de)環節(jie)，其(qi)中(zhong)產品(pin)膜厚檢測(ce)、RoHS有(you)害元素檢測(ce)、電(dian)(dian)鍍(du)(du)液分(fen)析、電(dian)(dian)鍍(du)(du)工業(ye)(ye)廢(fei)(fei)水、廢(fei)(fei)渣中(zhong)的(de)(de)(de)重(zhong)(zhong)金屬檢測(ce)和水質在線檢測(ce)等(deng)更是(shi)(shi)重(zhong)(zhong)中(zhong)之(zhi)重(zhong)(zhong)。為此江蘇天瑞儀器(qi)股份有(you)限公司基于強大的(de)(de)(de)研發和應用能(neng)力特別為電(dian)(dian)鍍(du)(du)行(xing)(xing)業(ye)(ye)制(zhi)定了一套有(you)效(xiao)的(de)(de)(de)測(ce)試解決(jue)方案。

鍍層膜厚檢測：有效進行鍍層厚度的產品質量管控
電鍍液分析：檢測電鍍液成分及濃度，確保鍍層質量
水質在線監測：有效監測電鍍所產生的工業廢水中的有害物質含量，已達到排放標準
重金屬及槽液雜質(zhi)檢測：有效檢測電鍍成(cheng)品，以及由電鍍所產(chan)生(sheng)的工業廢(fei)水、廢(fei)物中的重金屬含量 

1、電鍍層測試儀儀器概述

儀(yi)器介紹

Thick800A是天(tian)瑞集多年的經驗，專(zhuan)門研發用于鍍(du)層行業的一(yi)款(kuan)(kuan)儀器，可全自動(dong)軟(ruan)件操作，可多點測(ce)試(shi)，由軟(ruan)件控(kong)制(zhi)儀器的測(ce)試(shi)點，以(yi)及移動(dong)平臺。是一(yi)款(kuan)(kuan)功能強大的儀器，配(pei)上專(zhuan)門為其開發的軟(ruan)件，在鍍(du)層行業中可謂大展身(shen)手。

2、性能優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件(jian)界面測試按鈕，自動完成測試并顯(xian)示測試結(jie)果

3、技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃

4、測試實例

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅(tong)鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度(du)，七次的結果(guo)其標準偏(pian)差和相對標準偏(pian)差。且(qie)可(ke)在樣品上進(jin)行定位測試，其測試位置(zhi)如圖。

銅鍍(du)鎳件X射線熒(ying)光測試譜圖

銅鍍鎳件測試值

結論

實驗表(biao)明，使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測(ce)(ce)試，結果準確度(du)高(gao)，速度(du)快（幾(ji)十秒），其測(ce)(ce)試效果*可(ke)以和顯微鏡測(ce)(ce)試法(fa)媲(pi)美。

Thick 8000 鍍層測厚儀

1、儀器概述

    Thick 8000 鍍(du)(du)層測(ce)厚儀是專門針對鍍(du)(du)層厚度測(ce)量(liang)而精心設計(ji)的一款新型高端儀器。主(zhu)要應(ying)用于：金屬鍍(du)(du)層的厚度測(ce)量(liang)、電(dian)鍍(du)(du)液和鍍(du)(du)層含量(liang)的測(ce)定(ding)；黃(huang)金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾(shi)的含量(liang)檢測(ce)。

2、性能優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟(ruan)件界面測試(shi)(shi)按(an)鈕，自動完成測試(shi)(shi)并(bing)顯示測試(shi)(shi)結果

3、技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作(zuo)環境溫(wen)度 15℃～30℃

4、測試實例

在保(bao)證(zheng)計數率(lv)的(de)情況下能有(you)效分辨相近元素(su)，大大提高測試穩定(ding)性、降低檢測限。

11次測量結(jie)果(guo)（Au-Cu)的穩定性(xing)數據對比如下(xia)：

(1)、對鍍層(ceng)膜厚檢(jian)測、電鍍液分(fen)析可精準分(fen)析；
(2)重金屬(shu)檢(jian)測(ce)、槽液雜質(zhi)檢(jian)測(ce)、水質(zhi)在線(xian)監(jian)測(ce)可(ke)進行快(kuai)速檢(jian)測(ce)，檢(jian)測(ce)環(huan)境里的(de)重金屬(shu)是否超(chao)標。
同時具有以下特點
快(kuai)速：1分鐘就可以測定樣品(pin)鍍層的厚度，并達到(dao)測量(liang)精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分(fen)機型采用(yong)進口國際上*的(de)電(dian)制冷(leng)(leng)半導體探測器，能量分(fen)辨率更優于135eV，測試精度更高。并(bing)且不(bu)用(yong)液(ye)氮制冷(leng)(leng)，不(bu)用(yong)定期補(bu)充液(ye)氮，操作使用(yong)更加方便，并(bing)且運(yun)行成本(ben)比同(tong)類的(de)其(qi)他產(chan)品(pin)更低(di)。
無損：測(ce)試前后，樣品無任何形式的(de)變(bian)化。
直觀：實時(shi)譜(pu)圖，可直觀顯示元素含量。
測(ce)(ce)試范圍(wei)廣：X熒(ying)光(guang)光(guang)譜儀，是一(yi)種物理(li)分(fen)析(xi)方(fang)法(fa)，其(qi)分(fen)析(xi)與樣(yang)品的(de)化(hua)學結合狀態無關(guan)。對在化(hua)學性質上屬同一(yi)族的(de)元素也能進行分(fen)析(xi),抽(chou)真空(kong)可以測(ce)(ce)試從Na到U。
可(ke)(ke)靠性(xing)高：由于測(ce)試過(guo)程無人為因(yin)素干擾，儀(yi)器自身分析精度、重復(fu)性(xing)與(yu)穩(wen)定性(xing)很高。所以，其測(ce)量的可(ke)(ke)靠性(xing)更高。
滿(man)足不同(tong)需求：測(ce)(ce)試(shi)軟(ruan)件為WINDOWS操(cao)作系統軟(ruan)件，操(cao)作方便、功能強大，軟(ruan)件可(ke)監控儀器狀(zhuang)態(tai)，設定儀器參數，并就有多種*的分析(xi)方法，工(gong)作曲線制作方法靈(ling)活多樣，方便滿(man)足不同(tong)客戶(hu)不同(tong)樣品的測(ce)(ce)試(shi)需要。
性(xing)價比高：相比化學(xue)分析類儀器，X熒光(guang)光(guang)譜儀在總(zong)體使用成本(ben)上有優勢的，可(ke)以讓(rang)更多的企業和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低(di)，操作簡單方便(bian),并且(qie)維護簡單方便(bian)。