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電鍍測厚儀

電鍍測厚儀

簡要描述:

電鍍測(ce)厚(hou)儀(yi):Thick800A是(shi)(shi)天瑞集多年的經驗,專門研發(fa)用于(yu)鍍層行業的一款儀(yi)器(qi),可全(quan)自動軟件操(cao)作(zuo),可多點測(ce)試,由軟件控制儀(yi)器(qi)的測(ce)試點,以及移動平臺。是(shi)(shi)一款功能強大的儀(yi)器(qi),配上專門為其開發(fa)的軟件,在鍍層行業中可謂大展身(shen)手。

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  • 企業類型:制造商
  • 新舊程度:
  • 原產地:江蘇

 

電鍍測厚儀

電(dian)鍍是國民經濟中必不(bu)可少的(de)(de)(de)基礎工藝性行(xing)業(ye),同時又是重污染(ran)行(xing)業(ye)。電(dian)鍍所帶來的(de)(de)(de)廢(fei)(fei)(fei)氣、廢(fei)(fei)(fei)水(shui)、廢(fei)(fei)(fei)渣嚴重地影(ying)響人們的(de)(de)(de)生活與健康。要提高電(dian)鍍企(qi)業(ye)的(de)(de)(de)實力就必須從企(qi)業(ye)的(de)(de)(de)硬件著手。而內(nei)部管控測(ce)試是必不(bu)可少的(de)(de)(de)環節,其(qi)中產(chan)品膜厚檢測(ce)、RoHS有(you)害元(yuan)素檢測(ce)、電(dian)鍍液分析、電(dian)鍍工業(ye)廢(fei)(fei)(fei)水(shui)、廢(fei)(fei)(fei)渣中的(de)(de)(de)重金屬檢測(ce)和水(shui)質在線檢測(ce)等(deng)更(geng)是重中之重。為(wei)此江蘇天瑞儀(yi)器股份有(you)限(xian)公司基于強大的(de)(de)(de)研發和應(ying)用能力特(te)別為(wei)電(dian)鍍行(xing)業(ye)制定了(le)一(yi)套有(you)效的(de)(de)(de)測(ce)試解(jie)決方案。

鍍層膜厚檢測:有效進行鍍層厚度的產品質量管控
電鍍液分析:檢測電鍍液成分及濃度,確保鍍層質量
水質在線監測:有效監測電鍍所產生的工業廢水中的有害物質含量,已達到排放標準
重金屬及(ji)槽液雜質檢測:有效檢測電(dian)鍍成品,以及(ji)由電(dian)鍍所(suo)產生的工業廢(fei)水、廢(fei)物中的重金屬含(han)量 

1、電鍍測厚儀?概述

    

儀器介紹


Thick800A是(shi)天瑞(rui)集多(duo)年(nian)的經驗,專(zhuan)門研發用于鍍層行(xing)業的一款儀器,可全自動軟(ruan)件操作,可多(duo)點測試,由軟(ruan)件控制(zhi)儀器的測試點,以及移動平臺(tai)。是(shi)一款功(gong)能強大的儀器,配上(shang)專(zhuan)門為其開(kai)發的軟(ruan)件,在鍍層行(xing)業中可謂大展身手。

 

2、性能優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣 
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點(dian)擊軟件(jian)界(jie)面測(ce)(ce)試按鈕(niu),自動完成(cheng)測(ce)(ce)試并顯(xian)示測(ce)(ce)試結(jie)果

3、技術指標

分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U) 
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作環境溫度 15℃~30℃

4、測試實例

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以(yi)下使用Thick800A儀(yi)器(qi)對(dui)銅鍍鎳(nie)樣品實際測試(shi)(shi)Ni層(ceng)厚度(du),七次的結(jie)果其標(biao)準偏(pian)差(cha)和相對(dui)標(biao)準偏(pian)差(cha)。且可在樣品上進(jin)行定位(wei)測試(shi)(shi),其測試(shi)(shi)位(wei)置如圖。

 

銅鍍鎳(nie)件X射線熒(ying)光測試譜圖

 

樣 品 名

成分Ni(%)

鍍層Ni(um)

吊扣

100

19.321

吊扣2#

100

19.665

吊扣3#

100

18.846

吊扣4#

100

19.302

吊扣5#

100

18.971

吊扣6#

100

19.031

吊扣7#

100

19.146

平均值

100

19.18314

標準偏差

0

0.273409

相對標準偏差

0

1.425257

銅鍍鎳件測試值

結論

實驗表明,使用Thick800A 儀(yi)器對(dui)鍍(du)件膜厚(hou)測試(shi),結果(guo)準(zhun)確(que)度高(gao),速度快(幾十秒),其測試(shi)效果(guo)*可以和(he)顯微鏡測試(shi)法媲美。

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Thick 8000 鍍層測厚儀二手

 

1、儀器概述

    Thick 8000 鍍(du)(du)層(ceng)測(ce)厚儀是專(zhuan)門針(zhen)對鍍(du)(du)層(ceng)厚度(du)(du)測(ce)量而精心設計的(de)一款(kuan)新型(xing)高端儀器。主要(yao)應用于:金屬(shu)鍍(du)(du)層(ceng)的(de)厚度(du)(du)測(ce)量、電鍍(du)(du)液(ye)和(he)鍍(du)(du)層(ceng)含(han)量的(de)測(ce)定;黃金、鉑、銀等貴金屬(shu)和(he)各種首飾的(de)含(han)量檢測(ce)。

2、性能優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣 
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界面(mian)測(ce)試按鈕(niu),自動完成(cheng)測(ce)試并顯示(shi)測(ce)試結果

3、技術指標

分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U) 
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作環境(jing)溫度 15℃~30℃

4、測試實例

在保證(zheng)計數率的情況下能有效(xiao)分辨(bian)相近元素(su),大(da)大(da)提高測試穩定(ding)性、降低檢(jian)測限。

 

11次(ci)測(ce)量結果(Au-Cu)的(de)穩定性數據對比如下(xia):

次數

Thick8000

行業內其他儀器

1

0.042

0.0481

2

0.043

0.0459

3

0.043

0.0461

4

0.0412

0.0432

5

0.0429

0.0458

6

0.0436

0.0458

7

0.0427

0.0483

8

0.0425

0.045

9

0.0416

0.0455

10

0.0432

0.0485

11

0.0422

0.043

平均值

0.0425

0.0459

標準偏差

0.0007

0.0019

相對標準偏差

1.70%

4.03%

極差

0.0024

0.0055

(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析(xi)可精準分析(xi);
(2)重金屬檢(jian)測(ce)(ce)、槽液雜質檢(jian)測(ce)(ce)、水質在線(xian)監(jian)測(ce)(ce)可進行快速檢(jian)測(ce)(ce),檢(jian)測(ce)(ce)環境里(li)的重金屬是否超(chao)標。
同時具有以下特點
快速(su):1分鐘就(jiu)可以(yi)測定樣品(pin)鍍層的(de)厚度(du),并達到(dao)測量(liang)精(jing)度(du)要求。
方(fang)便:X熒(ying)光光譜(pu)儀部分機型采用(yong)(yong)進(jin)口國際上*的電(dian)制冷半導體探測(ce)器,能量分辨(bian)率更(geng)優于135eV,測(ce)試(shi)精度(du)更(geng)高。并且不(bu)用(yong)(yong)液(ye)氮制冷,不(bu)用(yong)(yong)定期(qi)補充液(ye)氮,操作使用(yong)(yong)更(geng)加(jia)方(fang)便,并且運行成本比同類的其(qi)他產品(pin)更(geng)低(di)。
無(wu)損:測試前后,樣品無(wu)任何形式的(de)變化。
直(zhi)觀:實時譜圖,可直(zhi)觀顯示元素(su)含量。
測(ce)試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物理分(fen)析方法,其分(fen)析與樣品的化學結合狀態無關。對(dui)在(zai)化學性(xing)質(zhi)上屬同一族的元素也能進行分(fen)析,抽真(zhen)空可以測(ce)試從Na到U。
可靠性(xing)(xing)高(gao):由于測(ce)試過程無(wu)人為因素(su)干(gan)擾(rao),儀(yi)器自(zi)身分(fen)析精(jing)度、重復性(xing)(xing)與穩定性(xing)(xing)很高(gao)。所(suo)以(yi),其測(ce)量的可靠性(xing)(xing)更高(gao)。
滿(man)足不同(tong)需(xu)(xu)求:測試軟件(jian)(jian)為(wei)WINDOWS操作系統軟件(jian)(jian),操作方(fang)便(bian)、功(gong)能強大(da),軟件(jian)(jian)可監控儀(yi)器狀態,設定儀(yi)器參(can)數,并就(jiu)有多種*的(de)分析方(fang)法,工作曲線制作方(fang)法靈活多樣(yang),方(fang)便(bian)滿(man)足不同(tong)客戶不同(tong)樣(yang)品的(de)測試需(xu)(xu)要。
性價比高(gao):相比化學(xue)分析類儀器(qi),X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的(de)(de),可以(yi)讓更多(duo)的(de)(de)企業和廠家接受。
簡易:對人(ren)員技術要求較低,操作簡單方(fang)便,并且維護簡單方(fang)便。

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