電鍍檢測儀(yi):Thick800A是天瑞集(ji)多(duo)年的(de)經驗,專門研發用于鍍層(ceng)行(xing)業(ye)的(de)一(yi)款儀(yi)器,可(ke)(ke)全自動(dong)軟件操作(zuo),可(ke)(ke)多(duo)點測試,由軟件控制儀(yi)器的(de)測試點,以及移動(dong)平臺。是一(yi)款功(gong)能(neng)強(qiang)大的(de)儀(yi)器,配上專門為(wei)其開發的(de)軟件,在鍍層(ceng)行(xing)業(ye)中可(ke)(ke)謂(wei)大展身手(shou)。
電鍍檢測儀
電鍍(du)是(shi)國民經濟(ji)中(zhong)(zhong)必(bi)(bi)不(bu)可少的(de)(de)基礎(chu)工藝性行(xing)業(ye),同時又是(shi)重(zhong)(zhong)污染(ran)行(xing)業(ye)。電鍍(du)所帶來的(de)(de)廢(fei)氣、廢(fei)水(shui)、廢(fei)渣嚴重(zhong)(zhong)地影響人們的(de)(de)生活與(yu)健康。要提高電鍍(du)企業(ye)的(de)(de)實力就必(bi)(bi)須從企業(ye)的(de)(de)硬件著手。而內(nei)部管控(kong)測(ce)試是(shi)必(bi)(bi)不(bu)可少的(de)(de)環節,其(qi)中(zhong)(zhong)產品膜厚檢(jian)(jian)測(ce)、RoHS有害(hai)元素檢(jian)(jian)測(ce)、電鍍(du)液分(fen)析、電鍍(du)工業(ye)廢(fei)水(shui)、廢(fei)渣中(zhong)(zhong)的(de)(de)重(zhong)(zhong)金(jin)屬檢(jian)(jian)測(ce)和水(shui)質在線檢(jian)(jian)測(ce)等更是(shi)重(zhong)(zhong)中(zhong)(zhong)之重(zhong)(zhong)。為(wei)此江蘇(su)天瑞儀(yi)器股份有限公(gong)司(si)基于強大的(de)(de)研發和應用能力特別為(wei)電鍍(du)行(xing)業(ye)制定了一套有效的(de)(de)測(ce)試解(jie)決方案。
鍍層膜厚檢測:有效進行鍍層厚度的產品質量管控
電鍍液分析:檢測電鍍液成分及濃度,確保鍍層質量
水質在線監測:有效監測電鍍所產生的工業廢水中的有害物質含量,已達到排放標準
重(zhong)金屬(shu)及(ji)槽液雜質(zhi)檢(jian)測:有效檢(jian)測電(dian)鍍(du)成品,以及(ji)由電(dian)鍍(du)所產生的(de)工業廢(fei)水、廢(fei)物中的(de)重(zhong)金屬(shu)含量
2、電鍍檢測儀性能優勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
*的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測(ce)(ce)試(shi)按鈕(niu),自動完成測(ce)(ce)試(shi)并顯示(shi)測(ce)(ce)試(shi)結果
3、技術指標
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作(zuo)環境(jing)溫度 15℃~30℃
4、測試實例
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對(dui)銅鍍(du)鎳樣品(pin)實際(ji)測試Ni層厚度,七(qi)次的(de)結果其(qi)標準偏差和相(xiang)對(dui)標準偏差。且可在樣品(pin)上進行定位測試,其(qi)測試位置如圖。
銅鍍鎳件X射線熒光測試譜(pu)圖
樣 品 名 | 成分Ni(%) | 鍍層Ni(um) |
吊扣 | 100 | 19.321 |
吊扣2# | 100 | 19.665 |
吊扣3# | 100 | 18.846 |
吊扣4# | 100 | 19.302 |
吊扣5# | 100 | 18.971 |
吊扣6# | 100 | 19.031 |
吊扣7# | 100 | 19.146 |
平均值 | 100 | 19.18314 |
標準偏差 | 0 | 0.273409 |
相對標準偏差 | 0 | 1.425257 |
銅鍍鎳件測試值