EDX3000BX射線熒光光譜儀的結構系統分析
更新時間:2017-12-20 點擊次數:1633次
EDX3000BX射線熒光光譜儀的結構系統分析
EDX3000BX射線熒光光譜儀是一種常用的光譜技術,既可用于材料的組成成分分析,又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。EDX3000BX射線熒光光譜儀能非常好地篩選出原材料、部件和成品的有害元素,使消費品和配件的生產商、進口商和零售商從中獲益。EDX3000BX射線熒光光譜儀提供無損分析,也就是說被檢測物品可以以后繼續使用或從新進入供應鏈。EDX3000BX射線熒光光譜儀能很好地檢測塑料、產品包裝、金屬或混合原料中的氯(Cl)、鎘(Cd)、鉛(Pb)、汞(Hg)、鉻(Cr)、溴(Br)和其它受限制的有毒元素。EDX3000BX射線熒光光譜儀檢測只需要zui簡單的培訓,基本不需要樣品制備,*可以攜帶至樣品處檢測,這樣就無需挪動材料。
機械系統:試樣裝載系統、光學系統、測角測角儀系統
主要是晶體分光器,通過晶體衍射現象把不同波長的X射線分開。根據布拉格衍射定律2dsinθ=nλ,改變θ角,EDX3000BX射線熒光光譜儀可以觀測到不同波長的X射線。測角儀系統1θ及2θ用直流馬達直接定位單獨控制。
譜儀支持系統:真空系統、充氦系統、壓縮空氣系、P10氣系統、譜儀溫控系統、光管內部循環冷卻水系統。
真空系統(真空故障判定)、壓縮空氣(空壓機輸出壓力為4-5bar,報警可適當調整)、探測器氣體系統(P10氣系統:EDX3000BX射線熒光光譜儀本身帶有氣密度穩定系統。壓力0.75bar,流量1L/h,氣體流量與腔內溫度有關)、溫控系統(機內恒溫:30度左右)、內循環水系統(用于冷卻X射線管的陽極)。
檢測通道系統:
流量正比計數器(輕元素)和閃爍計數器(重元素),半導體檢測器等。EDX3000BX射線熒光光譜儀不同的晶體探測器組合,探測器高壓單獨設定。