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表A.1 常(chang)見覆(fu)蓋層(ceng)測(ce)量的*測(ce)量范圍 | |||
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μm | in | ||
鋁 | 銅 | 0~100.0 | 0~0.004 |
鎘(ge) | 鐵(tie) | 0~60.0 | 0~0.0024 |
銅 | 鋁 | 0~30.0 | 0~0.0012 |
銅(tong) | 鐵 | 0~30.0 | 0~0.0012 |
銅 | 塑(su)料(liao) | 0~30.0 | 0~0.0012 |
金 | 陶(tao)瓷 | 0~8.0 | 0~0.00032 |
金 | 銅和鎳 | 0~8.0 | 0~0.00032 |
鉛 | 銅和(he)鎳 | 0~15.0 | 0~0.0006 |
鎳(nie) | 鋁 | 0~30.0 | 0~0.0012 |
鎳 | 陶(tao)瓷 | 0~30.0 | 0~0.0012 |
鎳 | 銅 | 0~30.0 | 0~0.0012 |
鎳 | 鐵 | 0~30.0 | 0~0.0012 |
鈀 | 鎳 | 0~40.0 | 0~0.0016 |
鈀-鎳(nie)合金 | 鎳 | 0~20.0 | 0~0.0008 |
鉑 | 鈦(tai) | 0~7.0 | 0~0.00028 |
銠 | 銅或鎳 | 0~50.0 | 0~0.0020 |
銀 | 銅或鎳(nie) | 0~50.0 | 0~0.002 |
錫 | 鋁(lv) | 0~60.0 | 0~0.0024 |
錫 | 銅(tong)或鎳 | 0~60.0 | 0~0.0024 |
錫(xi)-鉛合金 | 銅或鎳 | 0~40.0 | 0~0.0016 |
鋅 | 鐵 | 0~40.0 | 0~0.0016 |
注1：在(zai)整個范(fan)圍內測量(liang)不確(que)定度(du)不是恒定的，而且靠近每個范(fan)圍兩端會增大。
注2：所(suo)給(gei)定(ding)的范圍是近似的，而且主要(yao)取決于可(ke)接受的測(ce)量不確定(ding)度。
注3：如果(guo)同時(shi)測量(liang)表層和中(zhong)間層，由(you)于(yu)熒光X射線光束的(de)各種相互(hu)作用，即表層(ceng)(ceng)會吸(xi)收(shou)中間層(ceng)(ceng)的(de)熒光，那么各覆(fu)蓋層(ceng)(ceng)材料可測(ce)(ce)厚度范圍會發生變化(hua)，例(li)如測(ce)(ce)量在(zai)銅上(shang)的(de)金(jin)和鎳時，若(ruo)金(jin)覆(fu)蓋層(ceng)(ceng)厚度超過2.0微米，則無足夠的熒光保證鎳層(ceng)高精度測(ce)量(liang)。
注4：當進(jin)行厚度大(da)于0微米（如銅(tong)或鎳上(shang)的金：±0.005微米）覆(fu)蓋(gai)層厚度(du)測(ce)量過程(cheng)中，測(ce)量不確定度(du)。這就必須了解(jie)測(ce)量范圍(wei)的下(xia)線。
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